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制造光學鏡片的方法

文(wen)檔序(xu)號:8491000閱讀:625來源:國知局(ju)
制造光學鏡片的方法
【技術領域】
[0001]本發明涉及一種制造光學鏡片的方法和一種用于控制鏡片制造工藝的方法。
【背景技術】
[0002]對本發明的背景的討論包括于此以解釋本發明的上下文。這不旨在被認為是承認被引用的任何材料被公開、為人所周知或者是權利要求書中的任一項要求的優先權日下的公共常識的一部分。
[0003]光學鏡片通常由塑料材料制成并且一般具有兩個相反的表面,這些表面彼此合作以提供所需的折射特性,一般對應于佩戴者的處方。當這些表面之一的相對于另一個的定位或形狀不準確時,可能不會遵守所需的折射特性。
[0004]根據所需的折射特性制造光學鏡片通常包括對半成品鏡片或鏡片毛坯的表面進行機加工。通常,半成品鏡片具有一個成品表面(例如前表面)和一個未成品表面(例如后表面)。通過機加工鏡片的后表面以移除材料,可以產生用于所希望的矯正處方的、后表面相對于前表面的所需形狀和定位。
[0005]在制造鏡片過程中,重要的是在各種制造操作過程中,將半成品鏡片牢固地維持在一個預鍛模(blocker)上的準確位置,以便防止產生光學誤差。
[0006]常規地,為半成品鏡片提供成品表面上的多個雕刻標記。這些雕刻標記限定了鏡片的成品表面的設計的參考系。
[0007]對于某些光學設計,例如,當兩個表面具有非對稱設計時,準確地控制光學表面的相對位置非常重要,以便保證期望的光學功能。
[0008]當已經制造了光學鏡片后,技術人員希望檢查所制造的光學鏡片的光學表面的相對位置;他需要實現光學鏡片的全面光學功能測量和/或3D表面測量。這些方法非常耗時和昂貴。
[0009]因此,需要一種制造光學鏡片的方法,該方法允許容易地檢查所制造的光學鏡片的光學表面的相對位置。

【發明內容】

[0010]為此,本發明提出了一種用于制造光學鏡片的方法,該方法包括:
[0011]?一個鏡片構件提供步驟,在該步驟過程中,提供一個鏡片構件,該鏡片構件包括一個第一表面和該第一表面的一個第一參考系,由該第一表面上的多個第一標記對該第一參考系進行標識,
[0012]籲一個表面數據提供步驟,在該步驟過程中,提供對應于一個第二表面的表面數據和該第二表面相對于該有待加工的光學鏡片的該第一表面的位置,
[0013]?一個鏡片構件阻塞步驟,在該步驟過程中,將該鏡片構件阻塞在一個機加工位置,
[0014]籲一個機加工步驟,,在該步驟過程中,根據該表面數據對該光學鏡片的該第二表面進行機加工,
[0015]?一個第二標記提供步驟,在該步驟過程中,將對該第二表面的一個第二參考系進行標識的多個第二標識設置在該光學鏡片的該第二表面上,
[0016]?一個參考系確定步驟,在該步驟過程中,通過測量這些第一和第二標記的位置來確定該第一和第二參考系,以及
[0017]?一個比較步驟,在該步驟過程中,對該第一和第二參考系的位置進行比較,從而估計該第一和第二表面之間的定位誤差。
[0018]有利地,具有對第一表面的第一參考系進行標識的第一標記和提供對第二表面的第二參考系進行標識的第二標記允許確定該第一和第二表面之間的定位誤差。的確,通過確定和比較第一和第二標記的位置,可以確定該第一和第二表面之間的定位誤差。
[0019]根據可以單獨或組合地進行考慮的進一步實施例:
[0020]-該方法進一步包括一個分揀步驟,在該步驟過程中,如果該第一和第二表面之間的定位誤差小于等于一個閾值則接受所制造的光學鏡片,并且如果該第一和第二表面之間的定位誤差大于所述閾值則將其挑出;和/或
[0021]-在該參考系確定步驟過程中,使用一個測量光學設備并考慮至少表示該光學鏡片相對于該測量光學設備的位置的觀察數據測量這些第一和第二標記的位置;和/或
[0022]-在該第二標記提供步驟過程中,將該光學鏡片阻塞在與該機加工步驟的過程中相同的位置;和/或
[0023]-在該確定步驟過程中,將該光學鏡片阻塞在與該機加工步驟的過程中相同的位置;和/或
[0024]-這些第一和/或第二標記是臨時標記;和/或
[0025]-在該確定步驟過程中,在反射下測量這些第一和第二標記;和/或
[0026]在該確定步驟過程中,至少根據表示該光學鏡片的折射特性的光學數據,在反射下測量這些第一或第二標記之一,并且在透射過該光學鏡片下測量這些第一或第二標記中的另一個;和/或
[0027]-該光學數據至少表示該第一和第二表面的光學設計和該第二表面相對于該第一表面的相對位置;和/或
[0028]-該光學數據至少表示制造該光學鏡片所針對的佩戴者的處方。
[0029]本發明還涉及一種用于控制鏡片制造工藝的方法,該方法包括:
[0030]籲一個光學鏡片制造步驟,在該步驟過程中,依照根據本發明的制造方法使用一個制造設備制造一個光學鏡片,
[0031]?—個記錄步驟,在該步驟過程中,記錄該定位誤差,
[0032]其中,該方法進一步包括有規律地重復光學鏡片制造和記錄步驟以及檢查該定位誤差隨時間的演變,并且
[0033]檢查在該鏡片制造工藝的過程中所用的制造設備的至少一個參數隨時間的演變,并且該光學鏡片的該第一和第二表面的定位誤差隨時間的演變與該制造設備的該至少一個參數隨時間的演變有關。
[0034]本發明進一步涉及一種用于控制鏡片制造工藝的方法,該方法包括:
[0035]?—個主鏡片制造步驟,在該步驟過程中,依照根據本發明的制造方法使用一個制造設備制造一個主鏡片,
[0036]?—個記錄步驟,在該步驟過程中,記錄該定位誤差,
[0037]其中,該方法進一步包括有規律地重復主鏡片制造和記錄步驟以及檢查該定位誤差隨時間的演變,并且
[0038]檢查在該鏡片制造工藝過程中所用的制造設備的至少一個參數隨時間的演變,并且該主鏡片的該第一和第二表面的定位誤差隨時間的演變與該制造設備的該至少一個參數隨時間的演變有關。
[0039]根據一個進一步的方面,本發明涉及一種計算機程序產品,該產品包括一個或多個可由處理器訪問的存儲指令序列,當處理器執行指令時,該計算機程序致使處理器實施根據本發明的方法的各個步驟。
[0040]本發明還涉及一種計算機可讀介質,該介質承載了根據本發明的計算機程序產品的一個或多個指令序列。
[0041]進一步地,本發明涉及一種使計算機執行本發明的方法的程序。
[0042]本發明還涉及一種具有在其上記錄的程序的計算機可讀存儲介質;其中,該程序使計算機執行本發明的方法。
[0043]本發明進一步涉及一種包括一個處理器的裝置,該處理器被適配成用于存儲一個或多個指令序列并且實施根據本發明的方法的多個步驟中的至少一個步驟。
[0044]如從以下討論中明顯的是,除非另有具體規定,否則應了解到,貫穿本說明書,使用諸如“計算”、“運算”、“生成”等術語的討論是指計算機或計算系統或類似電子計算裝置的動作和/或過程,該動作和/或過程對該計算系統的寄存器和/或存儲器內表示為物理(諸如電子)量的數據進行操縱和/或將其轉換成該計算系統的存儲器、寄存器和其他此類信息存儲、傳輸或顯示裝置內的類似地表示為物理量的其他數據。
[0045]本發明的實施例可以包括用于執行在此所述操作的設備。此設備可以是為所期望的目的而專門構建的,或此設備可以包括一個通用計算機或被儲存在計算機中的計算機程序選擇性地激活或重新配置的數字信號處理器(“DSP”)。這樣的計算機程序可以存儲在計算機可讀存儲介質中,如但不限于任何類型的磁盤,包括軟磁盤、光盤、CD-ROM、磁光盤、只讀存儲器(ROM)、隨機存取存儲器(RAM)、電可編程只讀存儲器(EPROM)、電可擦除可編程只讀存儲器(EEPROM)、磁性或光學卡,或任何其他類型的適合于存儲電子指令并且能夠耦聯到計算機系統總線上的介質。
[0046]本文中所提出的過程和顯示方式并非本來就與任何特定的計算機或其他設備相關。各種通用系統都可以與根據此處的教導的程序一起使用,或者其可以證明很方便地構建一個更專用的設備以執行所期望的方法。各種這些系統所希望的結構將從以下描述中得以明了。此外,本發明的實施例并沒有參考任何具體的編程語言而進行描述。將認識到的是,各種編程語言都可以用來實現如此處所描述的本發明的教導。
【附圖說
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