一種識別裝置和對位系統的制作方法
【技術領域】
[0001]本發明涉及顯示技術領域，具體地，涉及一種識別裝置和對位系統。
【背景技術】
[0002]在液晶面板的制備工藝(如陣列基板和彩膜基板的制備工藝或成盒工藝)中，由于在基板的運輸、夾持及加工過程中無法精確地將基板放置到理想的位置，因此在放置之前要對基板的位置進行對位、矯正，以確保相應操作的精準。基板對位的精準直接影響到液晶顯示器的生產品質，因此，對位技術對對位系統的精度要求極高。
[0003]對位系統通常是通過對設置在基板上的對位標記的位置和形狀進行識別，從而實現對基板的精確對位。目前，對對位標記的識別通常通過對位標記識別裝置來實現，對位標記識別裝置中設置有攝像頭，攝像頭能夠通過拍攝照相捕獲到基板上對位標記的位置和形狀，根據對位標記的位置和形狀對基板的位置進行調整，最終使基板能夠精準對位。
[0004]現有技術的對位標記識別裝置中，為使得攝像頭能清晰捕獲到基板上對位標記的位置和形狀，在攝像頭與基板之間配置一個光源盒，如圖1所示，通過光源盒21中間的玻璃板5將側面光源發射的光反射到基板的對位標記41上，位于光源盒21上方的攝像頭接收到對位標記41反射的光，從而捕獲到對位標記41的位置和形狀。這種通過中間透明玻璃板5反射側面光源發射的光來照射對位標記41的方式，其到達對位標記41上的光照度較小，攝像頭捕獲的對位標記41對比度較弱。這很容易導致基板對位不準，從而影響液晶顯示器的品質。

【發明內容】

[0005]本發明針對現有技術中存在的上述技術問題，提供一種識別裝置和對位系統。該識別裝置能提高對位標記表面的光照度，從而提高攝像單元拍攝到的對位標記的對比度和清晰度，進而提尚該識別裝置對對位標記的識別能力，這能進一步提尚顯不基板的對位精度。
[0006]本發明提供一種識別裝置，用于對顯示基板上的對位標記進行識別，包括攝像單元和光源單元，所述攝像單元用于對所述對位標記進行攝像，所述光源單元用于將發出的光線照射到所述對位標記上，還包括光線處理單元，用于對所述光源單元發出的光線進行處理，以使照射到所述對位標記上的光線的光照度大于所述光源單元發出的光線的光照度。
[0007]優選地，所述攝像單元包括攝像頭，所述光源單元包括光源盒，所述光源盒用于設置在所述對位標記的正上方，所述攝像頭設置在所述光源盒的正上方；
[0008]所述光源盒的正對的上表面和下表面均能透光，所述光線處理單元包括設置在所述上表面的凹透鏡和設置在所述下表面的凸透鏡；所述光源盒還包括設置在所述上表面和所述下表面之間的透射反射鏡，以及設置在所述透射反射鏡相對側的光源；
[0009]所述光源發出的光線能照射至所述透射反射鏡上；所述透射反射鏡能將光線反射至所述凸透鏡上；所述凸透鏡能對光線進行匯聚并將匯聚后的光線照射至所述對位標記上；從所述對位標記反射的光線能依次通過所述凸透鏡、所述透射反射鏡和所述凹透鏡入射至所述攝像頭。
[0010]優選地，所述上表面和所述下表面平行，所述透射反射鏡為平面鏡，所述透射反射鏡與所述上表面和所述下表面的銳角夾角均為45° ;所述光源發出的光線為平行光，所述平行光與所述透射反射鏡的銳角夾角為45°。
[0011]優選地，所述凸透鏡的主光軸垂直于所述上表面和所述下表面，所述對位標記位于所述凸透鏡的主光軸上，且所述對位標記與所述凸透鏡的距離范圍為0.5f?1.5f，其中，f為所述凸透鏡的焦距。
[0012]優選地，所述凸透鏡和所述凹透鏡的主光軸重合，所述凸透鏡與所述凹透鏡的距離d = f_f’，其中，f’為所述凹透鏡的焦距。
[0013]優選地，所述攝像單元還包括調節部，所述調節部用于調節所述攝像頭的焦距。
[0014]優選地，所述調節部包括調節標尺和調節旋鈕，所述調節旋鈕用于調節所述攝像頭按照所述調節標尺上的刻度調整焦距，以使所述攝像頭拍攝到放大的、縮小的或大小不變的所述對位標記的圖像。
[0015]優選地，還包括支撐架，所述支撐架用于對所述攝像單元和所述光源單元進行支撐。
[0016]優選地，所述顯示基板包括陣列基板和彩膜基板。
[0017]本發明還提供一種對位系統，包括上述識別裝置。
[0018]本發明的有益效果:本發明所提供的識別裝置，通過設置光線處理單元，能使照射到對位標記上的光線的光照度大于光源單元發出的光線的光照度，相比于現有技術，提高了對位標記表面的光照度，從而提高了攝像單元拍攝到的對位標記的對比度和清晰度，進而提高了該識別裝置對對位標記的識別能力，這能進一步提高顯示基板的對位精度，從而提尚米用該顯不基板的顯不廣品的品質。
[0019]本發明所提供的對位系統，通過采用上述識別裝置，提高了該對位系統對顯示基板的對位精度，從而提高了采用該顯示基板的顯示產品的品質。
【附圖說明】
[0020]圖1為現有技術中識別裝置中光源盒的結構示意圖；
[0021]圖2為本發明實施例1中識別裝置的結構示意圖；
[0022]圖3為圖2中光源盒的結構示意圖；
[0023]圖4為圖2的識別裝置中光源發出的光線照射至對位標記的光路示意圖；
[0024]圖5為圖2的識別裝置中對位標記反射的光線入射至攝像頭的光路示意圖。
[0025]其中的附圖標記說明:
[0026]1.攝像單元；11.攝像頭；12.調節部；121.調節標尺；122.調節旋鈕；13.支撐架；2.光源單元；21.光源盒；211.上表面；212.下表面；213.透射反射鏡；214.光源；3.光線處理單元；31.凹透鏡；32.凸透鏡；321.主光軸；4.顯示基板；41.對位標記；5.玻璃板。
【具體實施方式】
[0027]為使本領域的技術人員更好地理解本發明的技術方案，下面結合附圖和【具體實施方式】對本發明所提供的一種識別裝置和對位系統作進一步詳細描述。
[0028]實施例1:
[0029]本實施例提供一種識別裝置，如圖2所示，用于對顯示基板4上的對位標記41進行識別，包括攝像單元I和光源單元2，攝像單元I用于對對位標記41進行攝像，光源單元2用于將發出的光線照射到對位標記41上，還包括光線處理單元3，用于對光源單元2發出的光線進行處理，以使照射到對位標記41上的光線的光照度大于光源單元2發出的光線的光照度。
[0030]其中，光照度指被攝主體(即對位標記41)表面單位面積上受到的光通量，且光通量為對位標記41表面單位面積上受到的垂直照射的光通量。
[0031]光線處理單元3的設置，能使照射到對位標記41上的光線的光照度大于光源單元2發出的光線的光照度，相比于現有技術，提高了對位標記41表面的光照度，從而提高了攝像單元I拍攝到的對位標記41的對比度和清晰度，進而提高了該識別裝置對對位標記41的識別能力，這能進一步提尚顯不基板4的對位精度。
[0032]本實施例中，攝像單元I包括攝像頭11，光源單元2包括光源盒21，光源盒21用于設置在對位標記41的正上方，攝像頭11設置在光源盒21的正上方。
[0033]其中，如圖3所示，光源盒21的正對的上表面211和下表面212均能透光，光線處理單元3包括設置在上表面211的凹透鏡31和設置在下表面212的凸透鏡32 ;光源盒21還包括設置在上表面211和下表面212之間的透射反射鏡213，以及設置在透射反射鏡213相對側的光源214。光源214發出的光線能照射至透射反射鏡213上；透射反射鏡213能將光線反射至凸透鏡32上；凸透鏡32能對光線進行匯聚并將匯聚后的光線照射至對位標記41上。從對位標記41反射的光線能依次通過凸透鏡32、透射反射鏡213和凹透鏡31入射至攝像頭11。
[0034]凸透鏡32對照射至對位標記41上的光線進行匯聚后，能使對位標記41單位面積上受到的光通量增大，相比于光源214發出的未經匯聚的光線，照射至對位標記41上的光線的光照度大于光源214發出的光線的光照度，從而使攝像頭11拍攝到的對位標記41的對比度和清晰度提高，進而提高了該識別裝置對對位標記41的識別能力，這能使顯示基板4的對位精度進一步提尚。
[0035]本實施例中，上表面211和下表面212平行，透射反射鏡213為平面鏡，透射反射鏡213與上表面211和下表面212的銳角夾角均為45° ;光源214發出的光線為平行光，平行光與透射反射鏡213的銳角夾角為45°。
[0036]本實施例中，凸透鏡32的主光軸321垂直于上表面211和下表面212，對位標記41位于凸透鏡32的主光軸321上，且對位標記41與凸透鏡32的距離范圍為0.5f?1.5f，其中，f為凸透鏡