本發明涉(she)及(ji)液晶(jing)顯示技術領域，尤其涉(she)及(ji)一種液晶(jing)顯示器液晶(jing)預傾(qing)角量測(ce)方法(fa)及(ji)裝置。

背景技術：

液(ye)晶(jing)顯(xian)示器中，當(dang)施加電壓(ya)時，液(ye)晶(jing)會沿(yan)著預(yu)傾(qing)(qing)(qing)角(jiao)方向(xiang)轉動，液(ye)晶(jing)顯(xian)示器的(de)亮度(du)隨其所(suo)施電壓(ya)導致液(ye)晶(jing)預(yu)傾(qing)(qing)(qing)角(jiao)大小變(bian)化而變(bian)化。預(yu)傾(qing)(qing)(qing)角(jiao)是一項很重(zhong)要(yao)的(de)液(ye)晶(jing)顯(xian)示器設計參(can)數，預(yu)傾(qing)(qing)(qing)角(jiao)影響對比(bi)度(du)，響應(ying)時間，暗態漏(lou)光等光學參(can)數。在工業生產中監測預(yu)傾(qing)(qing)(qing)角(jiao)或異常片解(jie)析時量測預(yu)傾(qing)(qing)(qing)角(jiao)很必要(yao)。

現(xian)有技術中，采用(yong)昂(ang)貴(gui)液(ye)晶測量設(she)備測量每一產品的液(ye)晶不同預傾角，且需要(yao)去掉偏光片(pian)，破壞(huai)液(ye)晶。

技術實現要素：

本發明的目的在于提供一種液(ye)(ye)晶顯示器液(ye)(ye)晶預(yu)傾(qing)角量(liang)測方(fang)法，不破(po)壞液(ye)(ye)晶的前提下(xia)降(jiang)低測量(liang)成(cheng)本。

本(ben)發(fa)明還提供一(yi)種液晶顯(xian)示器液晶預傾(qing)角量(liang)測裝(zhuang)置(zhi)。

為了(le)實現上述目的，本發明實施方式提(ti)供如下技術方案：

所(suo)述液晶(jing)顯示器(qi)液晶(jing)預(yu)傾角(jiao)量測方法包括模擬液晶(jing)顯示器(qi)不同預(yu)傾角(jiao)下水平側視(shi)角(jiao)的漏光變化。

根據(ju)所述模擬的(de)漏光(guang)變化選擇預(yu)設(she)預(yu)傾(qing)角(jiao)角(jiao)度作為(wei)基(ji)準，獲(huo)取預(yu)設(she)水平(ping)側視角(jiao)度下各預(yu)傾(qing)角(jiao)漏光(guang)與所述預(yu)設(she)基(ji)準預(yu)傾(qing)角(jiao)漏光(guang)的(de)比值倍數。

通過所述預(yu)設(she)水平側(ce)視(shi)角(jiao)(jiao)度下各預(yu)傾角(jiao)(jiao)對應的(de)比值倍數擬合出預(yu)設(she)水平側(ce)視(shi)角(jiao)(jiao)度下預(yu)傾角(jiao)(jiao)度與漏(lou)光(guang)倍數關系式。

以已(yi)知液晶顯示器(qi)的(de)預傾(qing)角(jiao)作為(wei)基準預傾(qing)角(jiao)，測量該(gai)液晶顯示器(qi)的(de)水平側視角(jiao)漏光變化。

測量(liang)待測液(ye)晶顯示器水平(ping)側視(shi)角的漏(lou)光變化。

選擇(ze)所(suo)述預設水平側(ce)視角度，計算所(suo)述待測(ce)液晶顯(xian)示(shi)器漏光與所(suo)述基準預傾角漏光倍數(shu)。

把所(suo)述待測(ce)液晶顯示器漏(lou)光與基準預(yu)(yu)傾(qing)(qing)角(jiao)漏(lou)光倍數(shu)帶(dai)入所(suo)述擬合出的(de)所(suo)述預(yu)(yu)設水平側視(shi)角(jiao)度下預(yu)(yu)傾(qing)(qing)角(jiao)度與漏(lou)光倍數(shu)關系式(shi)中計算出待測(ce)液晶顯示器的(de)預(yu)(yu)傾(qing)(qing)角(jiao)。

其(qi)中，通過LCD模(mo)擬仿(fang)真(zhen)軟件模(mo)擬不同預傾(qing)角下水平側視角的漏光變化。

其中，步驟(zou)選擇預(yu)(yu)設預(yu)(yu)傾(qing)角(jiao)角(jiao)度(du)作為基準(zhun)中，所述預(yu)(yu)設預(yu)(yu)傾(qing)角(jiao)角(jiao)度(du)優(you)選模擬得到的漏(lou)光最(zui)嚴(yan)重(zhong)的側視角(jiao)度(du)的預(yu)(yu)傾(qing)角(jiao)。也可以是其它側視角(jiao)度(du)的預(yu)(yu)傾(qing)角(jiao)。

其(qi)中，所(suo)步驟(zou)以已(yi)知液(ye)晶(jing)顯(xian)示(shi)器的預傾角(jiao)作為(wei)基準預傾角(jiao)，測量(liang)該(gai)液(ye)晶(jing)顯(xian)示(shi)器的水(shui)平側視(shi)角(jiao)漏光變(bian)(bian)化(hua)與步驟(zou)測量(liang)待測液(ye)晶(jing)顯(xian)示(shi)器水(shui)平側視(shi)角(jiao)的漏光變(bian)(bian)化(hua)，是選取同(tong)一(yi)背光。

其中，在模擬的漏光側視角為50度時，以預設預傾角為90度為基準，擬合模擬預傾角度與倍數關系式為Y＝-0.1782X³+1.4241X²-4.1722X+92.772，其中，X為(wei)待測液(ye)晶(jing)顯(xian)示器(qi)水平側(ce)視角(jiao)漏光值(zhi)與預設液(ye)晶(jing)顯(xian)示器(qi)水平側(ce)視角(jiao)的漏光值(zhi)的比值(zhi)；Y為(wei)需要測量的液(ye)晶(jing)顯(xian)示器(qi)預傾(qing)角(jiao)。

本發明還提供(gong)一種液(ye)晶(jing)顯示器液(ye)晶(jing)預傾角量測裝置，其(qi)包括(kuo)：

模(mo)擬模(mo)塊，用于模(mo)擬液晶顯(xian)示器不同預傾角(jiao)(jiao)下水(shui)平側視(shi)角(jiao)(jiao)的漏光變化，以選取預設預傾角(jiao)(jiao)角(jiao)(jiao)度作為基準。

第一(yi)獲(huo)取模塊，用于根(gen)據(ju)所(suo)述(shu)模擬的(de)漏(lou)(lou)光(guang)變(bian)化(hua)選擇預設(she)預傾(qing)角角度(du)作為基準，獲(huo)取預設(she)水平側視角度(du)下各預傾(qing)角漏(lou)(lou)光(guang)與所(suo)述(shu)預設(she)基準預傾(qing)角漏(lou)(lou)光(guang)的(de)比值倍數。

擬(ni)合模塊(kuai)，用于(yu)根(gen)據所述預設水(shui)平(ping)側視角(jiao)(jiao)度下各預傾角(jiao)(jiao)對(dui)應的(de)比值倍(bei)數，擬(ni)合出預設水(shui)平(ping)側視角(jiao)(jiao)度下預傾角(jiao)(jiao)度與漏光倍(bei)數關(guan)系式。

第一測(ce)量(liang)模塊，用于以(yi)已(yi)知(zhi)液晶(jing)顯(xian)示器(qi)的(de)預(yu)傾(qing)角作為基準預(yu)傾(qing)角，測(ce)量(liang)該液晶(jing)顯(xian)示器(qi)的(de)水平側視(shi)角漏光變(bian)化。

第二測量模(mo)塊，用于測量待測液晶顯示器水平側(ce)視角的漏光變化。

第二獲取(qu)模塊，用于選擇所述(shu)預(yu)設水(shui)平側視角(jiao)度，計(ji)算所述(shu)待(dai)測液晶顯示器漏(lou)光(guang)與所述(shu)基準預(yu)傾角(jiao)漏(lou)光(guang)倍數(shu)。

計(ji)算(suan)模(mo)塊，把(ba)所述(shu)(shu)待測(ce)液晶顯示(shi)器(qi)漏(lou)光(guang)(guang)與(yu)基準預傾角漏(lou)光(guang)(guang)倍(bei)數帶入所述(shu)(shu)擬合出的所述(shu)(shu)預設水平側視角度(du)下(xia)預傾角度(du)與(yu)漏(lou)光(guang)(guang)倍(bei)數關(guan)系式中計(ji)算(suan)出待測(ce)液晶顯示(shi)器(qi)的預傾角。

其中所(suo)述第(di)一測量(liang)模塊與所(suo)述第(di)二測量(liang)模塊是在同一背光(guang)下(xia)進(jin)行測量(liang)。

本發明實施例具有如下優點(dian)或有益效果：

本(ben)(ben)發明的(de)液晶面板液晶預(yu)傾(qing)角(jiao)的(de)量(liang)測(ce)方(fang)法，通過(guo)找到(dao)預(yu)傾(qing)角(jiao)與特定光學參數的(de)關系來測(ce)量(liang)預(yu)傾(qing)角(jiao)，相對(dui)于目前工廠使(shi)用的(de)預(yu)傾(qing)角(jiao)量(liang)測(ce)方(fang)法：不(bu)需要破壞液晶面板，成(cheng)本(ben)(ben)低，更便捷。

附圖說明

為了(le)更清楚地說明(ming)本發(fa)(fa)明(ming)實施例或現有(you)技(ji)術中(zhong)的技(ji)術方案，下面(mian)將對實施例或現有(you)技(ji)術描述中(zhong)所需要使用的附圖(tu)作(zuo)簡單地介紹，顯而易見地，下面(mian)描述中(zhong)的附圖(tu)僅(jin)僅(jin)是本發(fa)(fa)明(ming)的一些(xie)實施例，對于本領域(yu)普通技(ji)術人員來講(jiang)，在不付出創(chuang)造性(xing)勞動(dong)的前提下，還(huan)可(ke)以(yi)根據這些(xie)附圖(tu)獲得其他的附圖(tu)。

圖(tu)1是本(ben)發明液晶顯示器液晶預傾角量測方法流程圖(tu)；

圖2是本發明液晶(jing)顯示器液晶(jing)預傾角量測方法(fa)模擬水平側視角漏光圖；

圖(tu)(tu)3是以(yi)圖(tu)(tu)2所述(shu)模擬水平(ping)側視角漏光情況下90度為基準(zhun)的預設預傾角與倍數關系圖(tu)(tu)；

圖4是以圖2所述(shu)模擬水平側視角漏(lou)光情況下89度(du)為基準的預設預傾角與倍數關(guan)系圖；

圖5是本發明的(de)液晶(jing)顯(xian)示器液晶(jing)量測(ce)裝置模塊(kuai)圖。

具體實施方式

下(xia)面將結(jie)合本發(fa)(fa)明(ming)(ming)實(shi)施(shi)例(li)(li)中(zhong)的(de)(de)(de)附圖，對本發(fa)(fa)明(ming)(ming)實(shi)施(shi)例(li)(li)中(zhong)的(de)(de)(de)技(ji)術方(fang)案進行清楚、完整地描(miao)(miao)述(shu)，顯(xian)然，所(suo)描(miao)(miao)述(shu)的(de)(de)(de)實(shi)施(shi)例(li)(li)僅(jin)僅(jin)是本發(fa)(fa)明(ming)(ming)的(de)(de)(de)一部分實(shi)施(shi)例(li)(li)，而不是全部的(de)(de)(de)實(shi)施(shi)例(li)(li)。基于(yu)本發(fa)(fa)明(ming)(ming)中(zhong)的(de)(de)(de)實(shi)施(shi)例(li)(li)，本領域普通技(ji)術人(ren)員在沒(mei)有(you)做出創造性勞動的(de)(de)(de)前提下(xia)所(suo)獲得的(de)(de)(de)所(suo)有(you)其它實(shi)施(shi)例(li)(li)，都屬于(yu)本發(fa)(fa)明(ming)(ming)保護(hu)的(de)(de)(de)范圍。

在本發明的描述(shu)中，需要說明的是(shi)，除非(fei)另有明確的規定和(he)限定，術語“安裝(zhuang)”、“相連(lian)(lian)(lian)”、“連(lian)(lian)(lian)接(jie)(jie)”應做廣義理解，例(li)如(ru)，可(ke)(ke)以(yi)是(shi)固(gu)定連(lian)(lian)(lian)接(jie)(jie)，也可(ke)(ke)以(yi)是(shi)可(ke)(ke)拆卸地連(lian)(lian)(lian)接(jie)(jie)，或者(zhe)一體地連(lian)(lian)(lian)接(jie)(jie)；可(ke)(ke)以(yi)是(shi)機械連(lian)(lian)(lian)接(jie)(jie)；可(ke)(ke)以(yi)是(shi)直接(jie)(jie)相連(lian)(lian)(lian)，也可(ke)(ke)以(yi)通(tong)(tong)過中間媒介間接(jie)(jie)相連(lian)(lian)(lian)，可(ke)(ke)以(yi)是(shi)兩個(ge)元件內部的連(lian)(lian)(lian)通(tong)(tong)。對于本領(ling)域的普通(tong)(tong)技術人員而言，可(ke)(ke)以(yi)具體情(qing)況理解上(shang)述(shu)術語在本發明中的具體含義。

請參(can)閱(yue)圖1，本發明(ming)第(di)一實施例提供一種液(ye)(ye)晶(jing)(jing)(jing)顯示器液(ye)(ye)晶(jing)(jing)(jing)預傾角(jiao)量測方法(fa)，找出影(ying)響(xiang)液(ye)(ye)晶(jing)(jing)(jing)顯示器水平視角(jiao)側(ce)視漏(lou)光的主要影(ying)響(xiang)因子-液(ye)(ye)晶(jing)(jing)(jing)預傾角(jiao)，所述液(ye)(ye)晶(jing)(jing)(jing)顯示器液(ye)(ye)晶(jing)(jing)(jing)預傾角(jiao)量測方法(fa)用于兩側(ce)該(gai)預傾角(jiao)的是否符合設(she)計需求。步驟包括(kuo)：

步驟S1，模(mo)擬液晶顯示器不同(tong)預傾角(jiao)下水平側(ce)視角(jiao)的(de)漏光變化。如圖2所(suo)示，其(qi)中，曲線由(you)下至(zhi)上分別代表90度(du)及(ji)90度(du)至(zhi)88度(du)之間(jian)角(jiao)度(du)以及(ji)88度(du)的(de)所(suo)有側(ce)視角(jiao)。

步(bu)驟S2，根據所(suo)述模擬的漏光(guang)變化選擇(ze)預(yu)(yu)設預(yu)(yu)傾(qing)角(jiao)(jiao)角(jiao)(jiao)度(du)作為基準，獲取預(yu)(yu)設水平側視角(jiao)(jiao)度(du)下各預(yu)(yu)傾(qing)角(jiao)(jiao)漏光(guang)與所(suo)述預(yu)(yu)設基準預(yu)(yu)傾(qing)角(jiao)(jiao)漏光(guang)的比值倍數。

步驟S3，通過所述預(yu)設水平(ping)側(ce)(ce)視(shi)角度(du)下各預(yu)傾角對應的比值(zhi)倍(bei)(bei)數擬合(he)出(chu)預(yu)設水平(ping)側(ce)(ce)視(shi)角度(du)下預(yu)傾角度(du)與(yu)漏光倍(bei)(bei)數關系式。

步驟(zou)S4，以(yi)已(yi)知液(ye)晶顯示器的預傾角作為基準預傾角，測量該液(ye)晶顯示器的水平側視(shi)角漏(lou)光變化(hua)。

步驟S5，測量待測液晶顯示(shi)器水平側視(shi)角(jiao)的漏(lou)光變化。

步驟S6，選擇(ze)所述(shu)預(yu)設(she)水平側視角(jiao)度，計算所述(shu)待測液(ye)晶顯示器漏光(guang)與所述(shu)基準預(yu)傾角(jiao)漏光(guang)倍數(shu)。

步驟S7，把所述待測(ce)液晶(jing)顯(xian)(xian)示器漏光(guang)(guang)與基準預(yu)傾(qing)(qing)角(jiao)漏光(guang)(guang)倍數(shu)帶入所述擬合出的所述預(yu)設(she)水平側視角(jiao)度下(xia)預(yu)傾(qing)(qing)角(jiao)度與漏光(guang)(guang)倍數(shu)關系式中計算出待測(ce)液晶(jing)顯(xian)(xian)示器的預(yu)傾(qing)(qing)角(jiao)。

本實施例中，通過LCD模擬仿真軟件(jian)模擬不同(tong)預傾(qing)角下水平側視角的漏光變(bian)化(hua)。具體為LCD Master。

本實(shi)施例中，步(bu)驟選(xuan)(xuan)擇預(yu)(yu)設預(yu)(yu)傾(qing)角(jiao)(jiao)(jiao)角(jiao)(jiao)(jiao)度(du)(du)作(zuo)為基準中，所述預(yu)(yu)設預(yu)(yu)傾(qing)角(jiao)(jiao)(jiao)角(jiao)(jiao)(jiao)度(du)(du)優選(xuan)(xuan)模擬得到的漏光最嚴重的側視角(jiao)(jiao)(jiao)度(du)(du)的預(yu)(yu)傾(qing)角(jiao)(jiao)(jiao)。也可以是其(qi)它側視角(jiao)(jiao)(jiao)度(du)(du)的預(yu)(yu)傾(qing)角(jiao)(jiao)(jiao)。

本實施例(li)中，所步驟(zou)以已知液晶顯示器(qi)的(de)預傾角(jiao)作為基準預傾角(jiao)，測量該液晶顯示器(qi)的(de)水平側(ce)視(shi)角(jiao)漏(lou)光變化與步驟(zou)測量待測液晶顯示器(qi)水平側(ce)視(shi)角(jiao)的(de)漏(lou)光變化，是選取(qu)同(tong)一背光。

請參閱圖2與圖3，本實施例中，在模擬的漏光側視角為50度時，以預設預傾角為90度為基準，擬合模擬預傾角度與倍數關系式為Y＝-0.1782X³+1.4241X²-4.1722X+92.772，其(qi)中，X為(wei)待測液(ye)晶(jing)顯(xian)示器水平(ping)側視(shi)角漏(lou)光(guang)值(zhi)與預(yu)設液(ye)晶(jing)顯(xian)示器水平(ping)側視(shi)角的(de)漏(lou)光(guang)值(zhi)的(de)比值(zhi)；Y為(wei)需(xu)要測量的(de)液(ye)晶(jing)顯(xian)示器預(yu)傾角。

請參閱圖2與圖4，在模擬的漏光側視角為50度時，以預設預傾角為非90度為基準，本實施例中以89度，擬合模擬預傾角度與倍數關系式為Y＝-0.7753X³+3.796X²-6.8117X+92.772，其(qi)中，X為待測液(ye)晶顯(xian)(xian)示器水平(ping)側視角漏(lou)光(guang)值與預設液(ye)晶顯(xian)(xian)示器水平(ping)側視角的(de)(de)漏(lou)光(guang)值的(de)(de)比值；Y為需(xu)要測量(liang)的(de)(de)液(ye)晶顯(xian)(xian)示器預傾角。

本申請(qing)所述的液(ye)(ye)晶(jing)顯示器液(ye)(ye)晶(jing)預(yu)(yu)傾(qing)(qing)角量(liang)測方(fang)法通過(guo)找到預(yu)(yu)傾(qing)(qing)角與特定光學(xue)參數的關系來測量(liang)預(yu)(yu)傾(qing)(qing)角，相對于(yu)目前工廠使(shi)用(yong)的預(yu)(yu)傾(qing)(qing)角量(liang)測方(fang)法，不需要破壞液(ye)(ye)晶(jing)。

請參閱圖5，本發明還提供一種液(ye)晶(jing)顯示器液(ye)晶(jing)預傾角量測裝置100，其(qi)包括：

模擬模塊10，用于模擬液晶(jing)顯示器不同(tong)預傾角(jiao)下水平側視角(jiao)的漏光(guang)變(bian)化，以選取預設預傾角(jiao)角(jiao)度作為基準。

第(di)一(yi)獲(huo)取(qu)模塊20，用于根據所(suo)述(shu)模擬(ni)的(de)漏光變化(hua)選(xuan)擇(ze)預(yu)(yu)設預(yu)(yu)傾角(jiao)角(jiao)度作為基準，獲(huo)取(qu)預(yu)(yu)設水平(ping)側視角(jiao)度下各預(yu)(yu)傾角(jiao)漏光與所(suo)述(shu)預(yu)(yu)設基準預(yu)(yu)傾角(jiao)漏光的(de)比(bi)值(zhi)倍數。

擬合模塊30，用(yong)于根據(ju)所述(shu)預(yu)設水平側視(shi)角(jiao)度(du)下各(ge)預(yu)傾角(jiao)對應的比值倍數(shu)，擬合出預(yu)設水平側視(shi)角(jiao)度(du)下預(yu)傾角(jiao)度(du)與(yu)漏光倍數(shu)關系式。

第一測量模塊40，用于(yu)以已知(zhi)液晶顯(xian)示器的(de)預傾(qing)角作為基(ji)準預傾(qing)角，測量該液晶顯(xian)示器的(de)水平側視角漏光變化。

第二測量模塊50，用(yong)于測量待測液晶顯示器水平側視角(jiao)的漏光變化(hua)。

第二獲取模塊60，用(yong)于選(xuan)擇所述(shu)(shu)預設水平側視(shi)角度，計算所述(shu)(shu)待測液晶(jing)顯(xian)示器漏(lou)光與(yu)所述(shu)(shu)基(ji)準(zhun)預傾角漏(lou)光倍數。

計算模(mo)塊70，把所述待(dai)測(ce)液晶(jing)(jing)顯示器(qi)漏光與(yu)基準預傾(qing)角(jiao)漏光倍數(shu)帶入所述擬合出(chu)的(de)所述預設水平側(ce)視(shi)角(jiao)度下(xia)預傾(qing)角(jiao)度與(yu)漏光倍數(shu)關系(xi)式(shi)中計算出(chu)待(dai)測(ce)液晶(jing)(jing)顯示器(qi)的(de)預傾(qing)角(jiao)。

其中所述第一測(ce)量模塊(kuai)與所述第二測(ce)量模塊(kuai)是在(zai)同一背(bei)光下進行測(ce)量。

以上(shang)所述的(de)實(shi)施(shi)方式，并不構成對該技術(shu)方案(an)保(bao)護范圍(wei)的(de)限(xian)定(ding)。任何在上(shang)述實(shi)施(shi)方式的(de)精神和原則之內所作(zuo)的(de)修改、等(deng)同替換和改進等(deng)，均應包含在該技術(shu)方案(an)的(de)保(bao)護范圍(wei)之內。