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一種近晶相液晶屏的電量檢測方法

文檔序號:9688671閱讀(du):714來源:國知局
一種近晶相液晶屏的電量檢測方法
【技術領域】
[0001]本發明涉及一種近晶相液晶屏的電量檢測方法,屬于近晶相液晶屏領域。
【背景技術】
[0002]目前,近晶相液晶屏已在建筑裝飾裝修、私密性控制等領域得到了越來越廣泛地應用。近晶相液晶屏(可參見專利號為ZL200710304409.2的中國發明專利“近晶態液晶顯示屏顯示用驅動電路”等中關于近晶相液晶屏的描述)包括第一基體層和第二基體層,在第一基體層與第二基體層之間設有由近晶相液晶和添加物混合而成的混合層,近晶相液晶優選為A類近晶相液晶有機化合物,添加物為帶導電特性的化合物,在第一基體層朝向混合層的一側設有由Η個平行排列的條狀電極組成的第一導電電極層,在第二基體層朝向混合層的一側設有由V個平行排列的條狀電極組成的第二導電電極層,第一導電電極層的Η個條狀電極與第二導電電極層的V個條狀電極相正交,形成一個HXV的像素點陣列(Η、V為大于1的正整數)。
[0003]近晶相液晶屏的驅動方法有許多種,以近晶相液晶屏的常用驅動方法為例,常用驅動方法包括以下兩個階段:首先初始化,將屏上顯示的圖像清除掉,然后對液晶屏的所有行進行逐行掃描驅動。
[0004]在初始化時,一般是對所有行、所有列進行低頻高壓正負脈沖對的施加,使近晶相液晶屏整體呈現霧狀,以待后續圖像顯示,其中的低頻高壓正負脈沖對是指一對頻率相同、電壓幅值相同、相位相反的脈沖對,如圖1所示。在對液晶屏的每行進行掃描驅動時,一般要執行如下步驟:對掃描的行加載高頻高壓正負脈沖,其余行加載0V電壓,根據液晶屏顯示需要,需被驅動的像素點對應的列加載與掃描的行加載的高頻高壓正負脈沖頻率相同、電壓幅值相同、相位相反的高頻高壓正負脈沖,而不需被驅動的像素點對應的列加載與掃描的行加載的高頻高壓正負脈沖頻率相同、電壓幅值相同、相位相同的高頻高壓正負脈沖。如圖2,圖中示出了需被驅動的像素點對應的行、列所加載的高頻高壓正負脈沖。
[0005]對于其它驅動方法,它們各自具有自己獨特的特點,但主體思想與上述常用驅動方法大致相同,都是在初始化的基礎上借由高頻高壓正負脈沖來對行進行掃描驅動,而初始化的基本是施加低頻高壓正負脈沖對來使液晶屏呈霧狀。可以看出,其它驅動方法都是在上述常用驅動方法上的改進,例如可改變常用驅動方法的初始化階段,即對所有行、所有列進行低頻高壓正負脈沖對、高頻高壓正負脈沖對的反復施加,以使近晶相液晶屏可快速呈現霧狀。
[0006]從實際實施中可以發現,雖然近晶相液晶屏的已有各種驅動方法都能夠實現圖像顯示的功能,但在初始化階段以及掃描驅動階段中,電量會隨著刷屏次數的增加而慢慢消耗,而目前對于施加電壓值較高的近晶相液晶屏來說,并沒有設計電量檢測的功能,因而當近晶相液晶屏電量降低到不足以正常驅動時,常常會發生驅動脈沖波形畸變,進而導致液晶屏的顯示異常。
[0007]由此可見,為了實現圖像的正常顯示,設計出一種檢測近晶相液晶屏在驅動過程(初始化階段和掃描驅動階段)中電量多少的技術方案,是目前急需解決的問題。

【發明內容】

[0008]本發明的目的在于提供一種近晶相液晶屏的電量檢測方法,該電量檢測方法可檢測到近晶相液晶屏在刷屏時的電量信息,達到實時監控近晶相液晶屏電量信息的目的,使得近晶相液晶屏可在低電量前做好預防措施,防止近晶相液晶屏發生因驅動脈沖波形畸變導致的顯示異常。
[0009]為了實現上述目的,本發明采用了以下技術方案:
[0010]一種近晶相液晶屏的電量檢測方法,其特征在于,它包括如下步驟:
[0011]1)在初始化近晶相液晶屏時,對于施加在行或列上的具有m個脈沖的低頻高壓脈沖,去除最前面的a個脈沖和最后面的b個脈沖,對余下位于中間的(m-a-b)個脈沖中的每個脈沖的電壓值進行平均采樣P次并對P次采樣值求得采樣平均值,從而在得到的(m-a-b)個采樣平均值中取最小值作為初始化階段的電量信息;
[0012]2)在掃描驅動近晶相液晶屏時,對于施加在彳丁上的具有η個脈沖的尚頻尚壓脈沖,去除最前面的c個脈沖和最后面的d個脈沖,對余下位于中間的(n-c-d)個脈沖中的每個脈沖的電壓值進行1次采樣,得到(n-c-d)個采樣值并對(n-c-d)個采樣值求取平均值來作為行采樣值,從而在對掃描驅動近晶相液晶屏各行所得到的所有行采樣值中取最小值作為掃描驅動階段的電量信息。
[0013]所述電量檢測方法還可包括步驟:在初始化階段的電量信息與掃描驅動階段的電量信息中取最小值,以作為所述近晶相液晶屏整個驅動過程的電量信息。
[0014]本發明的優點是:
[0015]本發明在對近晶相液晶屏施加的原始驅動方法上實施,可檢測到近晶相液晶屏在顯示圖像刷屏時的電量信息,達到實時監控近晶相液晶屏在整個驅動過程中的電量信息的目的,使得近晶相液晶屏可在低電量前做好預防措施,防止近晶相液晶屏發生因驅動脈沖波形畸變導致的顯示異常。
[0016]本發明充分利用近晶相液晶的驅動特性,在驅動脈沖波形變化的過程中進行采樣,實時監控近晶相液晶屏在初始化階段以及掃描驅動階段中的電量信息,電量信息與驅動脈沖波形緊密相關,其可真實反映出近晶相液晶屏在刷屏過程中驅動脈沖波形的實際變化情況。
[0017]本發明可通過對近晶相液晶屏在顯示圖像刷屏時檢測到的關于各行或列的電量信息進行處理分析,來得到此次刷屏涉及的最終電量信息,從而實現實時監測近晶相液晶屏在整個驅動過程中的電量變化情況。
[0018]本發明不僅可在近晶相液晶屏的常用驅動方法上實施,還可在各種驅動方法上實施。
【附圖說明】
[0019]圖1是常用驅動方法中施加的低頻高壓正負脈沖對的示意圖。
[0020]圖2是常用驅動方法中對需被驅動的像素點對應的行、列所加載的高頻高壓正負脈沖的示意圖。
[0021]圖3是本發明電量檢測方法的實現流程圖。
[0022]圖4是本發明對低頻高壓正負脈沖進行電量檢測的實施說明圖。
[0023]圖5是本發明對高頻高壓正負脈沖進行電量檢測的實施說明圖。
[0024]圖6是本發明對低頻高壓正向脈沖進行電量檢測的實施說明圖。
[0025]圖7是本發明對高頻高壓正向脈沖進行電量檢測的實施說明圖。
[0026]圖8是本發明的一應用實例中對低頻高壓正負脈沖進行電量檢測的說明圖。
[0027]圖9是本發明的一應用實例中對高頻高壓正負脈沖進行電量檢測的說明圖。
【具體實施方式】
[0028]本發明近晶相液晶屏的電量檢測方法適用于近晶相液晶屏,近晶相液晶屏可參見專利號為ZL200710304409.2的中國發明專利“近晶態液晶顯不屏顯不用驅動電路”等中的相關描述,一般地,近晶相液晶屏包括第一基體層和第二基體層,在第一基體層與第二基體層之間設有由近晶相液晶和添加物混合而成的混合層,近晶相液晶優選為A類近晶相液晶有機化合物,其微觀稱為近晶相液晶分子,添加物為帶導電特性的化合物,在第一基體層朝向混合層的一側設有由Η個平行排列的條狀電極組成的第一導電電極層,在第二基體層朝向混合層的一側設有由V個平行排列的條狀電極組成的第二導電電極層,第一導電電極層的Η個條狀電極與第二導電電極層的V個條狀電極相正交,形成一個HXV的像素點陣列(H、V為大于1的正整數)。
[0029]近晶相液晶屏的驅動方法有許多種,以近晶相液晶屏的常用驅動方法為例,常用驅動方法包括以下兩個階段:初始化階段,即將近晶相液晶屏上顯示的圖像清除掉,以及掃描驅動階段,即對近晶相液晶屏的所有行進行行掃描驅動(逐行或采取其它方式)。
[0030]初始化階段一般是對所有行、所有列進行低頻高壓正負脈沖對的施加,使近晶相液晶屏整體呈現霧狀,以待后續圖像顯示,其中的低頻高壓正負脈沖對是指一對頻率相同、電壓幅值相同、相位相反的脈沖對,如圖1所示。
[0031]在掃描驅動階段,對近晶相液晶屏的每行進行掃描驅動時,一般要執行如下步驟:對掃描驅動的行加載高頻高壓正負脈沖,其余行加載0V電壓,根據近晶相液晶屏的顯示需要,需被驅動的像素點對應的列加
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