記錄介質及其生產方法
【技術領域】
[0001] 本發明設及一種記錄介質及其生產方法。
【背景技術】
[0002] 近年來，在噴墨記錄方法中，圖像記錄速度的增長正在進步。即使在高速記錄中， 也要求具有高品質的圖像的輸出和記錄設備的小型化。
[0003] 首先，為了即使在高速記錄時也輸出具有高品質的圖像，在輸送記錄介質時提高 輸送精度是有效的。提高輸送精度的方法的實例包括使用硬化漉作為用于輸送記錄介質的 輸送漉的方法。通過使用硬化的輸送漉，可抑制由于在輸送時輸送漉變形所導致的輸送精 度的劣化。然而，與此類輸送漉的接觸在記錄介質側造成擦傷或壓痕（漉痕跡），并提供品 質劣化的圖像。因此要求記錄介質具有高的耐擦傷性。
[0004] 其次，對于即使在高速記錄時記錄裝置的小型化，引用了當給予記錄介質大的曲 率并由此減少記錄介質的輸送距離的同時輸送記錄介質的方法。在此情形中，給予記錄介 質的曲率有時在記錄介質中造成裂紋。因此要求記錄介質具有高的耐彎曲性。
[0005] 改進耐擦傷性或耐彎曲性的方法的實例包括交聯墨接收層的方法（日本專利特 開和日本專利3805246)。日本專利特開公開了一種具有主要由 無機顏料構成并含有聚乙締醇和棚酸的多孔層的記錄介質。該多孔層具有聚乙締醇的徑基 通過經由棚的氨鍵而交聯的結構。日本專利號3805246公開了一種具有主要由無機顏料構 成并含有聚乙締醇和多價金屬鹽的著色材料接收層的記錄介質。該著色材料接收層具有聚 乙締醇的徑基已通過經由金屬原子的共價鍵而交聯的結構。

【發明內容】

[0006] 在最近的噴墨記錄方法中，通過輸送例如卷狀記錄介質等給予了大曲率時的記錄 介質并由此縮短記錄介質的輸送距離，而使記錄設備小型化。
[0007] 然而，作為本發明人研究的結果，當使用含有日本專利特開所描述 的樹脂細顆粒的墨在高轉印速率下進行記錄時，不能獲得本發明期望的具有高品質水平的 圖像。除此之外，噴墨穩定性低。
[0008] 本發明的目的是提供具有高的噴墨穩定性和高的轉印效率的圖像記錄方法，從而 即使在高轉印速率下進行記錄也提供高品質圖像。
[0009] 然而本發明人的研究掲示，日本專利特開和日本專利3805246中描 述的各記錄介質在本發明所期望的耐擦傷性水平和耐彎曲性水平之下。更具體地，日本專 利特開中描述的記錄介質具有通過弱且可逆的氨鍵所形成的交聯結構，因 此暴露于高濕度環境會阻止其展現足夠的耐擦傷性和耐彎曲性。另一方面，在日本專利 3805246所描述的記錄介質中，著色材料接收層通過共價鍵牢固交聯，使得記錄介質具有低 劣的曉性和不足的耐彎曲性。
[0010] 因此，本發明的目的是提供一種即使在高速記錄中也能夠輸出高品質圖像，并且 同時具有高耐擦傷性和耐彎曲性，從而使得記錄設備能夠小型化的記錄介質。
[0011] 上面提及的目的可通過下面描述的本發明實現。在本發明中，因而提供具有基材 W及含有無機顆粒和選自由下式（I)所表示的化合物和由下式（II)所表示的化合物的至 少一種化合物的墨接收層的記錄介質，
[0012]
[001引（在式（I)和（Π)中，R康示由下式（ΙΠ)所表示的結構或者由下式（IV)所表 示的結構，并且R2和R4各自獨立地表示氨原子或者由（邸2)。-01表示1W上的整數）所表 示的結構，并且Y表示由下式（V)所表示的結構），
[0014]
[001引（在式（ΙΠ)和（IV)中，Rs至R洛自獨立地表示氨原子或者由畑2)。-(η表示1W上的整數）所表示的結構），
[0016]
[0017](在式（V)中，o和p各自獨立地表示0 W上的整數，但是o和p不同時表示0，R'i至R'S各自獨立地表示氨原子、烷基、徑烷基、幾基、-〇-、葡萄糖基或者由-(CH2)。- (η表示1 W上的整數）所表示的結構）。
[0018] 根據本發明，可提供具有高的耐擦傷性和耐彎曲性的記錄介質。
[0019] 本發明進一步的特征將通過下面典型實施方案的描述而變得明顯。
【具體實施方式】
[0020] 下文將通過優選的實施方案具體描述本發明，然而本發明不限于下列實施方案， 也不受下列實施方案限制。本發明的記錄介質具有基材W及含有無機顆粒和選自由下式 (I)所表示的化合物（下文可稱為"式（I)的化合物"）和由下式（II)所表示的化合物（下 文可稱為"式（II)的化合物"）的至少一種化合物的墨接收層。
[0021] 墨接收層中所含的式（I)和（II)的化合物在其結構中具有由式（V)所表示的Y 位點。由于此結構，墨接收層可在保持其曉性的同時又具有提高的機械強度，因而推定記錄 介質具有增強的耐擦傷性和彎曲強度。
[0022] 作為將Y位點引入墨接收層的方法，在本發明中優選通過使用分子中具有酸和縮 醒至少之一的多價醒，例如雙醒淀粉等，來進行例如聚乙締醇等含徑基聚合物的交聯。推定 運可能提供兼有通過交聯而增強的機械強度和曉性，同時既調節欲交聯的結構之間的交聯 距離又具有與親水性聚合物的高反應性的墨接收層。另一方面，根據本發明人的研究，即使 從多價醒中選擇并使用例如乙二醒或戊二醒等通常使用的交聯劑，墨接收層也不能具有足 夠的曉性。原因是交聯距離不足，或者是由于調節欲交聯的結構之間的距離的亞烷基的疏 水性，與具有欲交聯的結構的親水性聚合物的反應效率降低。
[0023] 下面將詳細描述記錄介質的各部分，W及構成各部分的材料。
[0024] 1.基材
[00巧]作為記錄介質的基材，可使用通常已知的基材。下面是基材的實例。墨非吸收性 基材的實例包括由樹脂膜制成的基材，W及兩面都用樹脂涂布的基材。墨吸收性基材的實 例包括纖維狀基材。由樹脂膜制成的基材的實例包括聚醋、聚氯乙締、聚丙締和聚苯乙締， W及層壓它們所獲得的基材。作為運些基材，可使用透明的、半透明的或不透明的。用樹脂 涂布的基材優選為通過用聚締控樹脂涂布紙的兩面而獲得的基材。用于涂布的聚締控的 實例包括聚乙締和聚丙締。纖維狀基材的實例包括主要由紙漿構成的基材，也就是由紙制 成的基材。由紙制成的基材包括用淀粉、聚乙締醇等進行施膠壓制（sizingpress)的原 紙化asepaper)，W及例如銅版紙（artpaper)、涂布紙（coatedpaper)和高光澤印刷紙 (castcoatedpaper)等在原紙上設有涂布層的涂布紙。
[002引2.墨接收層
[0027] 墨接收層含有無機顆粒和選自式（I)的化合物和式（II)的化合物的至少一種化 合物。如有必要，除它們W外，墨接收層可含有粘結劑、陽離子化劑（cationizingagent)、 棚酸和棚酸鹽等。下文將詳細描述墨接收層中可含有的材料。
[0028] 由式（I)所表示的化合物和由式（II)所表示的化合物
[0029] 本實施方案的記錄介質的墨接收層含有具有由下式（I)所表示的結構的化合物 和/或具有由下式（II)所表示的結構的化合物。
[0030] 在式訊和（Π)中，R2至R4各自獨立地表示氨原子或者由畑2)。-(η表示1W上 的整數）所表示的結構，由（CH2)。-所表示的結構中的氨原子可被選自烷基、徑基、乙酷醋 基、乙酷乙酷基、簇基、幾基、醋基、酷胺基、硅烷醇基、聚烷基酸基、氨基、橫基、憐酸醋基、徑 丙基和縮醒基的取代基取代。
[003。在式訊和（Π)中，Y是由式（V)所表示的結構。
[0032]
[0033]在式（I)和（II)中，Ri表示由式（ΠΙ)所表示的結構或者由式（IV)所表示的結 構。
[0034]
[00對在式（ΙΠ)和（IV)中，Rs至R7各自獨立地表示氨原子或者由畑2)。-(η表示1W上的整數）所表示的結構。由（CH2)。-所表示的結構中的氨原子可被選自烷基、徑基、乙酷 醋基、乙酷乙酷基、簇基、幾基、醋基、酷胺基、硅烷醇基、聚烷基酸基、氨基、橫基、憐酸醋基、 徑丙基和縮醒基的取代基取代。在上式中，η優選表示1W上且6W下，更加優選1W上且 3W下。
[003引在式訊和（Π)中，R2至R4各自獨立地表示氨原子或者由畑2)η-(η表示1W上 的整數）所表示的結構。由（CHz)。-所表示的結構中的氨原子可被選自烷基、徑基、乙酷醋 基、乙酷乙酷基、簇基、幾基、醋基、酷胺基、硅烷醇基、聚烷基酸基、氨基、橫基、憐酸醋基、徑 丙基和縮醒基的取代基取代。在上式中，η優選表示1W上且6W下，更加優選1W上且3 W下。
[0037] 進一步，在式（I)和（II)中，Υ是由式（V)所表示的結構。
[0038]
[003引在式（V)中，ο和p各自獨立地表示0W上的整數，并且ο和p不同時表示0,R' 1 至R'S各自獨立地表示氨原子、烷基、徑烷基、幾基、-0-、葡萄糖基或者由-(CH2)。- (η表示1 W上的整數）所表示的結構。當R'3至R' 8中的任意兩個表示-(邸2)。-時，它們可形成環狀 結構，并且環狀結構可含有氧原子。當R'l至R' 8中的任何表示烷基或徑烷基時，碳原子數 優選為1W上且6W下，更加優選0W上且3W下。由-(邸2)。-所表示的結構可被取代基 取代，并且取代基的實例包括徑基。在該結構中，η優選為1W上且6W下，更加優選1W 上且3W下。進一步，0和Ρ優選滿足下列關系：0 > 0,Ρ> 0,0=Ρ聲0,且|0-ρ|= 1， 更加優選滿足下列關系：20 > 0 > 0且20 >Ρ> 0。
[0040] 式（I)和（II)的各化合物優選為含有選自由下列式（VI)至狂I)組成的組的至 少一種重復單元的化合物：
[0041]
[0042]Υ可通過R'3至R'8