技術編號：9577995
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。 隨著半導體制作技術的提高和對探測范圍、刷新頻率需求的提升，單點紅外焦平 面探測器已不能滿足應用需求。紅外焦平面陣列探測器在軍事和民用領域都獲得廣泛應 用。但受制作器件的半導體材料和工藝等條件的限制，紅外焦平面探測器存在較大的非均 勻性，其來源主要有以下幾個方面 (1)、探測器中各陣列元的響應特性的非一致性。當陣列具有較高的穩定性時，這種非 均勻性在像平面上的模式是固定的。 (2)、l/f噪聲。(3)、電信號傳輸與放大通路的不一致。 (4)、紅外光學系統的...
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