技術編號：9105189
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。在工業、醫學和科研領域中廣泛地使用400~1550nm等激光作為工作光源，這些光經常需要大功率連續輸出使用，尤其是多種波長同時工作的光源，在使用的過程中無法再次測試工作光源的光電參數如功率、波長等，且測試時需要避免不同波長之間的相互干擾，所以需要提供一個能實時監測工作中的激光輸出狀態的監測結構。傳統的技術方案是在激光器芯片的發光面背面安裝探測器件，對激光器的光電特性進行采集，且無法同時采集多個激光器芯片。在此方案中，多支激光器對應同一個探測器，采集到的光是...
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