技術編號：8511387
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。 現有的檢測相位的系統和檢測折射率的系統結構復雜、準確度低。現有的檢測相 位的方法和檢測折射率的方法步驟繁瑣、準確度低。 上背景技術內容的公開僅用于輔助理解本發明的發明構思及技術方案，其并不必 然屬于本專利申請的現有技術，在沒有明確的證據表明上述內容在本專利申請的申請日已 經公開的情況下，上述背景技術不應當用于評價本申請的新穎性和創造性。發明內容 本發明（主要）目的在于提出一種檢測相位的系統和方法和檢測折射率的系統和 方法，以解決上述現有技術存在的系統結構...
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