技術編號：6244448
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發明公開了一種。把一幅高頻正弦結構光圖案按位平面分解為一系列二進制編碼圖案，使用投影裝置向三維目標投射該二進制圖案序列，并用攝像裝置進行同步拍攝，對拍攝的二進制圖像進行二值化處理，再根據位平面與灰度圖像的對應關系合成一幅高頻正弦結構光圖像，利用傅里葉變換輪廓術處理合成的正弦結構光圖像，得到截斷相位，對截斷相位進行相位展開得到絕對相位，用絕對相位和系統標定參數計算出物體表面的三維坐標。本發明可用于測量具有漫反射特性物體的三維面形。本發明能有效避免傳統傅里葉...
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