技術編號：6132077
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本實用新型涉及一種用于測定試樣中元素含量及在試樣表面的分布的X射線熒光分析儀。X射線熒光分析儀作為一種元素含量分析的儀器，在物理、化學、化工、冶金、生物、醫學、地學、材料科學、航天航空和微電子等諸多科研或工業領域得到廣泛的應用。常規的X射線熒光分析儀由X光源、樣品、探測器、放大器和計算機多道分析器等組成。用這種熒光分析儀可以進行樣品的無損分析，一次確定數種到數十種元素的含量。但是由于常規的X光源功率低，產生的X光束功率密度低，引發的元素特征X光強度也低，信...
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