技術編號：10533379
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。 以下對本發明的相關技術背景進行說明，但這些說明并不一定構成本發明的現有 技術。 近年來，由于機載下視測量系統能夠獲取被測目標全方位、大入射余角條件下的 電磁散射特性數據，受到廣泛的關注。在機載下視測量過程中，載機與目標是相對運動的， 為確保測量的準確性，必須保證機載測量雷達天線始終對準目標。 機載下視測量雷達在工作中需要不斷跟蹤目標，以得到準確的測量結果。通常這 一工作主要由人工手動完成。但由于飛機平臺在空中飛行時容易受到氣流擾動等影響，特 別是在惡劣氣...
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