技術編號：10517722
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。WO 2012/027542 A2公開了同時允許樣品的光學斷層掃描研究和SP頂研究兩者的顯微鏡。該文件具體敘述了光學投影斷層掃描術(OPT)。不利的是，顯微鏡具有非常復雜的結構;特別是，同時需要彼此精確對準的三個物鏡，以便將照射光聚焦到樣品，并接收從樣品出射的檢測光，用于相應的檢測器。此外，顯微鏡無法靈活使用。例如，樣品必須強制性地相對于顯微鏡移動，以使得樣品的三維圖像可生成;這是麻煩的，且不可能用于每一種類型的樣品，因為實驗空間由三個物鏡限制。此外，以常...
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