一種容忍dram顆粒失效的內存存取方法
【技術領域】
[0001 ]本發明涉及計算機內存技術領域，具體涉及一種容忍DRAM顆粒失效的內存存取方法。
【背景技術】
[0002]內存是計算機中重要的部件之一，計算機中所有程序的運行都是在內存中進行的，其作用是用于暫時存放CPU中的運算數據，以及與硬盤等外部存儲器交換的數據。只要計算機在運行中，CPU就會把需要運算的數據調到內存中進行運算，當運算完成后CPU再將結果傳送出來。
[0003]一般服務器內存條物理組成包括DRAM顆粒和Regi ster芯片，信號接口包括Command命令、Control控制、Address地址、64bit數據和8bit ECC。傳統的內存存取方式是，將64bit數據信息按順序存放在數據顆粒里面，Sbit校驗信息存放在ECC顆粒里面，ECC可以糾正單bit的內存錯誤。
[0004]內存通常使用的技術包括Parity(奇偶校驗)和ECC(Error Correcting Code，錯誤檢查和糾正)；但是Parity有一個缺點，當計算機查到某個Byte有錯誤時，并不能確定錯誤在哪一個bit，也就無法修正錯誤。ECC比Parity技術先進的地方在于它不僅能發現錯誤，而且能糾正這個單bit的錯誤，錯誤糾正之后計算機才能正確執行下面的任務，確保服務器的正常運行。隨著計算機規模的不斷擴大，使用的內存數量越來越多，出錯的概率也越來越大，傳統ECC只能糾正單bit的內存錯誤，當單顆DRAM失效時ECC就無法解決，系統就有宕機的風險。
[0005]如圖2所示，內存控制器和內存條之間的任一筆傳輸數據(64bit數據位和SbitECC校驗)，傳統內存的存取方式是按順序存放的。假設DRAM的位寬是x8、64bit中第I個byte數據為10101010，所以10101010存放在第一顆x8 DRAM中，其他剩余數據位依次存放在第2-8顆DRAM中，ECC校驗位存在第9顆ECC x8 DRAM中。當發生單bit錯誤時，通過ECC糾正可以保證系統正常運行，但是但單顆DRAM實效時(8bit同時失效)，ECC則無法糾正該錯誤。
【發明內容】
[0006]本發明要解決的技術問題是:為了解決上述問題，本發明提出了一種在服務器上容忍DRAM顆粒失效的內存存取方法，將每個Byte的數據存放到不同的DRAM中，每個Byte對應CRC存放到ECC顆粒中，利用CRC糾錯技術，當發生單顆DRAM失效時也能將錯誤糾正過來保證系統可正常運行。
[0007]本發明所采用的技術方案為:
一種容忍DRAM顆粒失效的內存存取方法，所述方法通過將內存控制器和內存條之間的任一筆傳輸數據，由64bit數據位和8bit ECC位組成，以字節Byte為單位，組成8 Byte數據和I Byte ECC；
然后將每個Byte的8 bit數據分散存放到不同DRAM顆粒，并對每個Byte進行單獨的CRC(Cyclic Redundancy Check，循環冗余校驗)，并將CRC校驗碼存儲到內存條的ECC顆粒;從而能夠將失效顆粒中的數據還原出來，所以即使單顆DRAM失效，系統也可以正常運行。
[0008]所述傳輸數據每個Byte的8 bit數據存放到不同DRAM顆粒的方式如下:第I顆DRAM中第I個bit存放第一個Byte的第I bit，第2顆DRAM中第一個bit存放第一個Byte的第2bit，以此類推；
第2-8個Byte的8bit也按上述方法處理，分別存放到8顆DRAM中。
[0009]所述傳輸數據每個Byte進行單獨的CRC循環冗余校驗計算，并將CRC校驗碼存儲到內存條的第9顆ECC DRAM中。
[0010]當任意一顆DRAM失效時，也只相當于每個Byte的只有I個bit失效，利用第9顆DRAM中的CRC數據可糾正單bit的錯誤，將失效顆粒中的數據還原出來，系統也可以正常運行。
[0011]本發明的有益效果為:
本發明提供了一種可顯著降低內存故障的方法，提高了公司布局服務器內存設計，減少了因為內存原因引起的故障，提高了產品競爭力。
【附圖說明】
[0012]圖1為內存條組成示意圖；
圖2為傳統內存數據順序存放示意圖；
圖3為本發明內存數據分散存放示意圖。
【具體實施方式】
[0013]下面根據說明書附圖，結合【具體實施方式】對本發明進一步說明:
實施例1:
一種容忍DRAM顆粒失效的內存存取方法，所述方法通過將內存控制器和內存條之間的任一筆傳輸數據，由64bit數據位和8bit ECC位組成，以字節Byte為單位，組成8 Byte數據和I Byte ECC；
然后將每個Byte的8 bit數據分散存放到不同DRAM顆粒，并對每個Byte進行單獨的CRC(Cyclic Redundancy Check，循環冗余校驗)，并將CRC校驗碼存儲到內存條的ECC顆粒;從而能夠將失效顆粒中的數據還原出來，所以即使單顆DRAM失效，系統也可以正常運行。
[0014]實施例2:
如圖1所示，為服務器內存條物理組成，一般包括DRAM顆粒和Register芯片，以x8的顆粒組成的內存條為例進行說明，其中8顆x8 DRAM用于存放64bit數據，I顆x8 DRAM用于存放8bit ECC位。
[0015]在實施例1的基礎上，本實施例所述傳輸數據每個Byte的8bit數據存放到不同DRAM顆粒的方式如下:
第I顆DRAM中第I個bit存放第一個Byte的第I bit，第2顆DRAM中第一個bit存放第一個Byte的第2 bit，以此類推；
第2-8個Byte的8bit也按上述方法處理，分別存放到8顆DRAM中。
[0016]如圖3所示，假設第I個Byte數據為10101010，那么第I顆DRAM中第I個bit存放I，第2顆DRAM中第一個bit存放O，以此類推； 第2個Byte的8bit也按上述方法處理，分別存放到8顆DRAM中。
[0017]實施例3:
在實施例2的基礎上，本實施例所述傳輸數據每個Byte進行單獨的CRC循環冗余校驗計算，并將CRC校驗碼存儲到內存條的第9顆ECC DRAM中。
[0018]實施例4:
在實施例3的基礎上，本實施例當任意一顆DRAM失效時，也只相當于每個Byte的只有I個bit失效，利用第9顆DRAM中的CRC數據可糾正單bit的錯誤，將失效顆粒中的數據還原出來，系統也可以正常運行。
[0019]以上實施方式僅用于說明本發明，而并非對本發明的限制，有關技術領域的普通技術人員，在不脫離本發明的精神和范圍的情況下，還可以做出各種變化和變型，因此所有等同的技術方案也屬于本發明的范疇，本發明的專利保護范圍應由權利要求限定。
【主權項】
1.一種容忍DRAM顆粒失效的內存存取方法，其特征在于:所述方法通過將內存控制器和內存條之間的任一筆傳輸數據，由64bit數據位和8bit ECC位組成，以字節Byte為單位，組成8 Byte數據和I Byte ECC ； 然后將每個Byte的8 bit數據分散存放到不同DRAM顆粒，并對每個Byte進行單獨的CRC，并將CRC校驗碼存儲到內存條的ECC顆粒;從而能夠將失效顆粒中的數據還原出來。2.根據權利要求1所述的一種容忍DRAM顆粒失效的內存存取方法，其特征在于:所述傳輸數據每個Byte的8 bit數據存放到不同DRAM顆粒的方式如下:第I顆DRAM中第I個bit存放第一個Byte的第I bit，第2顆DRAM中第一個bit存放第一個Byte的第2 bit，以此類推； 第2-8個Byte的8bit也按上述方法處理，分別存放到8顆DRAM中。3.根據權利要求2所述的一種容忍DRAM顆粒失效的內存存取方法，其特征在于:所述傳輸數據每個Byte進行單獨的CRC循環冗余校驗計算，并將CRC校驗碼存儲到內存條的第9顆ECC DRAM 中。4.根據權利要求2所述的一種容忍DRAM顆粒失效的內存存取方法，其特征在于:當任意一顆DRAM失效時，利用第9顆DRAM中的CRC數據可糾正單bit的錯誤，將失效顆粒中的數據還原出來。
【專利摘要】本發明公開了一種容忍DRAM顆粒失效的內存存取方法，所述方法通過將內存控制器和內存條之間的任一筆傳輸數據，由64bit數據位和8bit？ECC位組成，以字節Byte為單位，組成8？Byte數據和1？Byte？ECC；然后將每個Byte的8？bit數據分散存放到不同DRAM顆粒，并對每個Byte進行單獨的CRC，并將CRC校驗碼存儲到內存條的ECC顆粒；從而能夠將失效顆粒中的數據還原出來。本發明提供了一種可顯著降低內存故障的方法，提高了公司布局服務器內存設計，減少了因為內存原因引起的故障，提高了產品競爭力。
【IPC分類】G06F11/10
【公開號】CN105511982
【申請號】CN201510949032
【發明人】貢維, 李鵬翀, 林楷智
【申請人】山東海量信息技術研究院
【公開日】2016年4月20日
【申請日】2015年12月18日