一種基于qt的跨平臺plc板級工裝測試系統及其測試方法
【專利摘要】本發明涉及PLC檢測技術領域。本發明提供一種基于QT的跨平臺PLC板級工裝測試系統，包括基于QT的跨平臺板級工裝測試軟件、電源模塊、待測PLC模塊和輔助測試模塊，所述基于QT的跨平臺板級工裝測試軟件所安裝的PC機，通過串口線連接待測模塊，與下位機測試程序通信，所述電源模塊連接待測模塊，為工裝測試提供電源，所述待測模塊包括：CPU模塊、耦合器模塊、數字量輸入模塊、數字量輸出模塊、模擬量輸入模塊、模擬量輸出模塊，通過串口線、網線、模擬線與輔助測試模塊連接。本發明在工裝測試不同的單板模塊時，利用輔助測試模塊提供統一的測試環境，對于接口連通性或功能上的測試精度高，實現自動測試且測試結果準確，降低了工作量，提高了工作效率。
【專利說明】
一種基于QT的跨平臺PLC板級工裝測試系統及其測試方法
技術領域
[0001]本發明涉及PLC檢測技術領域，尤其涉及一種基于QT的跨平臺PLC板級工裝測試系統及其測試方法。
【背景技術】
[0002]PLC板級工裝測試，主要對PLC單板模塊的硬件連通性及基本功能進行測試，為簡單硬件設計及焊接問題查找提供軟件支持與驗證。PLC模塊包括:CPU模塊、耦合器模塊、Al模塊、AO模塊、DI模塊和DO模塊等。上述模塊都需要測量通信接口(串口測試、網口測試)和基本功能測試，特別地，D1、D0模塊還需要測量通道功能，Al、A0模塊需要測量AD/DA轉換功能。一般的板級工裝測試產品，對于單板功能的測試精度不夠，針對每種板卡測試環境都不同，且大部分還是手動測試，工作量極大，人力物力成本太高。
[0003]中國專利CN202994940U公開了一種PLC的自動化單板測試平臺，于所述的單板測試平臺包括PLC，待測單板，PC機，所述的PLC與待測單板相連;所述的PLC自帶AD/DA平臺，所述的AD/DA平臺與待測單板相連，所述的PLC還與PC機相連。該專利同樣存在專利工裝測試平臺測試功能單一，通用性低，且對于單板功能的測試精度低的問題。

【發明內容】

[0004]為了克服現有技術中的缺陷，本發明提供的基于QT的跨平臺PLC板級工裝測試系統和方法，在工裝測試不同的單板模塊時，利用輔助測試模塊提供統一的測試環境，所述輔助測試模塊提供串口、網口測試接口用于待測模塊的串口、網口自動化測試，提供高精度AD/DA轉換功能用于待測ΑΙ/Α0模塊的模數/數模轉換功能自動化測試，本發明對于接口連通性或功能上的測試精度高，工作量不大，測試結果準確。
[0005]本發明是通過如下技術方案實現的:一種基于QT的跨平臺PLC板級工裝測試系統，包括基于QT的跨平臺板級工裝測試軟件、電源模塊、待測PLC單板模塊和輔助測試模塊，所述基于QT的跨平臺板級工裝測試軟件所安裝的PC機，通過串口線連接待測模塊，與待測模塊下位機測試程序通信，所述電源模塊連接待測模塊，為板級工裝測試提供電源，所述待測模塊包括:CPU模塊、耦合器模塊、數字量輸入模塊、數字量輸出模塊、模擬量輸入模塊、模擬量輸出模塊，通過串口線、網線、模擬線與輔助測試模塊連接。
[0006]進一步地，所述CPU模塊通過XO作為(EtherCAT)主站口與10系統互聯，實現現場總線(EtherCAT)主站功能，配置定時精度測試引腳，用于系統定時精度檢測。
[0007]進一步地，所述耦合器模塊配2個RJ45接口和3個十六進制ID撥碼開關，下部的RJ45接口用于連接同一網段上的其它EtherCAT設備，撥碼開關支持熱連接技術。
[0008]進一步地，所述數字量輸入模塊和數字量輸出模塊的EtherCAT端子含有8個通道，數字量輸出模塊的負載電流輸出端具有過載和短路保護功能，所述模擬量輸入模塊和模擬量輸出模塊的EtherCAT端子的信號狀態由發光二極管指示，運行LED指示總線耦合器的數據交換狀態，故障LED指示過載和斷線狀態。
[0009]進一步地，所述輔助測試模塊由一個CPU模塊、一個串口通信模塊、一個網口通信模塊、一個高精度ΑΙ/Α0轉換模塊構成，提供10個串口測試接口、10個網口測試接口用于測試單板模塊的串口、網口接口功能，提供高精度的模擬量輸出、檢測以及AD/DA轉換功能用于測試ΑΙ/Α0模塊的模數/數模轉換功能，所述輔助測試模塊為PLC單板模塊的工裝測試提供了通用的測試環境。
[0010]本發明還提供了基于QT的跨平臺PLC產品工裝測試系統的測試方法，所述測試方法包括CPU模塊檢測步驟:
[0011 ]步驟1、將工裝線纜一端連接CPU模塊UART_0接口，另一端連在上位機上，測試系統連接后，從上位機上打開板級工裝測試軟件.exe程序，選擇CPU模塊測試項，對CPU模塊進行檢驗，所述測試項包括串口測試、網口測試、SDRAM測試、FLASH測試、LED燈測試、撥碼開關測試、RTC時鐘測試、掉電保護時間估算、COMX [工業現場總線主站模塊]測試和MAC_EEPR0M測試，所述串口測試包括3項，測試項目為UART_1、USER、0S三個通道測試，所述網口測試包括2項，測試項目為ETHO和ETHl兩個通道測試；
[0012]步驟2、所述串口三個通道測試的檢驗方法為:
[0013]將一根串口線一端連接在UART_1串口，另一端連在輔助測試模塊的串口I上，將一根串口線一端連接在USER串口，另一端連在輔助測試模塊的串口 I上，將一根串口線一端連接在OS串口，另一端連在輔助測試模塊的串口 I上，使用輔助測試模塊將收到的待測串口的測試數據原樣返回給該串口，下位機接收數據后判斷返回數據是否與發送的數據相同；
[0014]步驟3、所述網口兩個通道測試的檢測方法為:
[0015]將一根網線一端連接在ΕΤΗ0，另一端連在輔助測試模塊的網口I上，將另一根網線一端連接在ETHl，另一端連在輔助測試模塊的網口 2上，下位機首先初始化相應測試網口，然后發送目的IP為輔助測試模塊網口 IP的ARP請求包，并等待輔助測試模塊發送的ARP返回包;判斷在限定的超時時間內是否接收到正確的ARP返回包；
[0016]步驟4、所述SDRAM測試的檢測方法為:
[0017]操作上位機往CPU模塊上給定的SDRAM地址空間的每一個地址寫數據，然后再讀出來與寫入的數據進行比較，判斷測試地址空間的數據讀寫是否都正確，其中，SDRAM測試起始地址預留IM空間給測試程序；
[0018]步驟5、所述FLASH測試的檢測方法為:
[0019]操作上位機對CPU模塊上的FLASH全擦除，往FLASH地址空間每一個地址空間寫數據，然后再讀出來與寫入的數據比較，判斷測試地址空間的數據讀寫是否一致，所述FLASH遵循CFI接口規范；
[0020]步驟6、所述LED燈測試的檢測方法為:
[0021 ] 操作上位機控制測試LED燈，LED燈亮滅由相應GP1 口控制，測試時將相應GP1 口都配置為輸出，采用流水亮滅的形式來進行測試，最終點亮所有燈，觀察燈是否全亮。
[0022]所述板級工裝軟件:下發測試指令，檢驗人員觀察測試結果。
[0023]步驟7、所述撥碼測試的檢測方法為:
[0024]操作上位機讀取撥碼信息，撥碼數據通過GP10[General Purpose Input Output,通用輸入/輸出]口來采集，相應的GP1配置為輸入，通過撥動硬件撥碼來改變采集到的數據，然后將數據發送到上位機，比對采集到的數據與硬件撥碼當前的碼值是否相同。
[0025]所述板級工裝軟件:下發測試指令，檢驗人員觀察測試結果。
[0026]步驟8、所述RTC時鐘測試的檢測方法為:
[0027]操作上位機對RTC時鐘進行測試，RTC時鐘芯片通過I2C總線來連接，首先需要初始化I2C相關寄存器，正確設置時鐘分頻值。然后給時鐘芯片設置一個時間，設置完成后芯片自動運行，同時開啟定時器，定時10秒后，再從時鐘芯片中讀取時間，查看讀取的時間是否比設置時間多10秒，以此判斷芯片走時是否正確。
[0028]步驟9、所述掉電保護時間估算的檢測方法為:
[0029]操作上位機測試掉電保護時間估算，關閉電源，掉電保護電路開始供電，此時外部中斷會觸發中斷，立即開啟定時器開始定時。設置定時器，合理初始化定時器寄存器，每次觸發定時器中斷時時間為lms，在定時器中斷處理程序中通過通信口發送掉電保持的時間，直到下位機完全掉電，不再發送數據為止。
[0030]步驟10、所述COMX測試的檢測方法為:
[0031]操作上位機測試⑶MX，C0MX模塊通過DPM[Dual Port Memory，雙口 RAM]實現模塊主站相關通信API，DPM結構由模塊自己的操作系統rcX控制，上電后自動維護，測試過程主要是通過讀取DPM中固定地址的一些常量值來驗證。
[0032]步驟11、所述MAC_EEPR0M測試的檢測方法為:
[0033]操作上位機測試MAC_EEPR0M，首先初始化MAC控制器芯片，然后在EEPROM固定地址空間寫入一個MAC地址值，然后再讀出來，如果相同，則MAC_EEPR0M測試通過。
[0034]進一步地，所述測試方法包括耦合器模塊檢驗步驟:
[0035]步驟1、將工裝線纜一端連接耦合器模塊UART_0接口，另一端連在上位機上，測試系統連接后，從上位機上打開板級工裝測試軟件.exe程序，選擇耦合器模塊測試項，對耦合器模塊進行檢驗，所述測試項包括串口測試、SDRAM測試、FLASH測試、LED燈測試、撥碼開關測試，所述串口測試包括I項，測試項目為UART_1通道測試；
[0036]步驟2、所述串口一個通道測試的檢驗方法為:
[0037]將一根串口線一端連接在UART_1串口，另一端連在輔助測試模塊的串口I上，使用輔助測試模塊將收到的待測串口的測試數據原樣返回給該串口，下位機接收數據后判斷返回數據是否與發送的數據相同；
[0038]步驟3、所述SDRAM測試的檢測方法為:
[0039]操作上位機往耦合器模塊上給定的SDRAM地址空間的每一個地址寫數據，然后再讀出來與寫入的數據進行比較，判斷測試地址空間的數據讀寫是否都正確，其中，SDRAM測試起始地址預留IM空間給測試程序；
[0040]步驟4、所述FLASH測試的檢測方法為:
[0041 ] 操作上位機對耦合器模塊上的FLASH全擦除，往FLASH地址空間每一個地址空間寫數據，然后再讀出來與寫入的數據比較，判斷測試地址空間的數據讀寫是否一致，所述FLASH遵循CFI接口規范；
[0042]步驟5、所述LED燈測試的檢測方法為:
[0043]操作上位機控制測試LED燈，LED燈亮滅由相應GP1 口控制，測試時將相應GP1 口都配置為輸出，采用流水亮滅的形式來進行測試，最終點亮所有燈，觀察燈是否全亮。
[0044]所述板級工裝軟件:下發測試指令，檢驗人員觀察測試結果。
[0045]步驟6、所述撥碼測試的檢測方法為:
[0046]操作上位機讀取撥碼信息，撥碼數據通過GP1口來采集，相應的GP1配置為輸入，通過撥動硬件撥碼來改變采集到的數據，然后將數據發送到上位機，比對采集到的數據與硬件撥碼當前的碼值是否相同。
[0047]所述板級工裝軟件:下發測試指令，檢驗人員觀察測試結果。
[0048]進一步地，所述測試方法包括DI/D0模塊的檢驗步驟:
[0049]步驟1、將工裝線纜一端連接DI/D0模塊UART_0接口，另一端連在上位機上，測試系統連接后，從上位機上打開板級工裝測試軟件.exe程序，選擇DI/D0模塊測試項，對DI/D0模塊進行檢驗，所述測試項包括串口測試、SDRAM測試、FLASH測試、LED燈測試、DI通道測試、DO通道測試，所述串口測試包括I項，測試項目為UART_1通道測試；
[0050]步驟2、所述串口一個通道測試的檢驗方法為:
[0051 ]將一根串口線一端連接在UART_1串口，另一端連在輔助測試模塊的串口 I上，使用輔助測試模塊將收到的待測串口的測試數據原樣返回給該串口，下位機接收數據后判斷返回數據是否與發送的數據相同；
[0052]步驟3、所述SDRAM測試的檢測方法為:
[0053]操作上位機往DI/D0模塊上給定的SDRAM地址空間的每一個地址寫數據，然后再讀出來與寫入的數據進行比較，判斷測試地址空間的數據讀寫是否都正確，其中，SDRAM測試起始地址預留IM空間給測試程序；
[0054]步驟4、所述FLASH測試的檢測方法為:
[0055]操作上位機對DI/D0模塊上的FLASH全擦除，往FLASH地址空間每一個地址空間寫數據，然后再讀出來與寫入的數據比較，判斷測試地址空間的數據讀寫是否一致，所述FLASH遵循CFI接口規范；
[0056]步驟5、所述LED燈測試的檢測方法為:
[0057]操作上位機控制測試LED燈，LED燈亮滅由相應GP1 口控制，測試時將相應GP1 口都配置為輸出，采用流水亮滅的形式來進行測試，最終點亮所有燈，觀察燈是否全亮。
[0058]所述板級工裝軟件:下發測試指令，檢驗人員觀察測試結果。
[0059]步驟6、所述DI通道測試的檢測方法為:
[0060]操作上位機控制測試DI通道，給每通道(D01?D08)輸入不同的高低電平，GP1 口采集到相應的數據后通過通信口將數據發送到上位機，比對采集到的數據與實際各通道輸入的電平高低是否吻合。
[0061]板級工裝軟件:下發測試指令，檢驗人員觀察測試結果。
[0062]步驟7、所述DO通道測試的檢測方法為:
[0063]操作上位機控制測試DO通道，上位機往下位機發送一個輸出值，下位機控制相應GP1口控制各通道(D01?D08)輸出，然后觀察DO通道電平指示燈，比對數據與各通道測量值是否吻合。
[0064]板級工裝軟件:下發測試指令，檢驗人員觀察測試結果。
[0065]進一步地，所述測試方法包括所述Al模塊測試檢驗方法:
[0066]步驟1、將工裝線纜一端連接Al模塊UART_0接口，另一端連在上位機上，測試系統連接后，從上位機上打開板級工裝測試軟件.exe程序，選擇Al模塊測試項，對Al模塊進行檢驗，所述測試項包括串口測試、SDRAM測試、FLASH測試、LED燈測試、AD模數轉換測試，所述串口測試包括I項，測試項目為UART_1通道測試；
[0067]步驟2、所述串口一個通道測試的檢驗方法為:
[0068]將一根串口線一端連接在UART_1串口，另一端連在輔助測試模塊的串口I上，使用輔助測試模塊將收到的待測串口的測試數據原樣返回給該串口，下位機接收數據后判斷返回數據是否與發送的數據相同；
[0069]步驟3、所述SDRAM測試的檢測方法為:
[0070]操作上位機往Al模塊上給定的SDRAM地址空間的每一個地址寫數據，然后再讀出來與寫入的數據進行比較，判斷測試地址空間的數據讀寫是否都正確，其中，SDRAM測試起始地址預留IM空間給測試程序；
[0071 ]步驟4、所述FLASH測試的檢測方法為:
[0072]操作上位機對Al模塊上的FLASH全擦除，往FLASH地址空間每一個地址空間寫數據，然后再讀出來與寫入的數據比較，判斷測試地址空間的數據讀寫是否一致，所述FLASH遵循CFI接口規范；
[0073]步驟5、所述LED燈測試的檢測方法為:
[0074]操作上位機控制測試LED燈，LED燈亮滅由相應GP1門控制，測試時將相應GP1 口都配置為輸出，采用流水亮滅的形式來進行測試，最終點亮所有燈，觀察燈是否全亮。
[0075]所述板級工裝軟件:下發測試指令，檢驗人員觀察測試結果。
[0076]步驟6、所述AD模數轉換測試的檢測方法為:
[0077]使用輔助測試模塊的高精度Al/AO檢測模塊，對4路通道分別輸入4_20mA恒定電流，AD芯片采集到相應數據后進行轉換，然后將轉換數據通過串口發送給下位機，下位機計算采集誤差在±0.3%內則測試通過。誤差計算公式為:UX 2.5V/(I1QX 216) X 100%彡0.3%。
[0078]進一步地，所述測試方法包括所述AO模塊測試檢驗方法:
[0079]步驟1、將工裝線纜一端連接AO模塊UART_0接口，另一端連在上位機上，測試系統連接后，從上位機上打開板級工裝測試軟件.exe程序，選擇AO模塊測試項，對AO模塊進行檢驗，所述測試項包括串口測試、SDRAM測試、FLASH測試、LED燈測試、DA數模轉換測試，所述串口測試包括I項，測試項目為UART_1通道測試；
[0080]步驟2、所述串口一個通道測試的檢驗方法為:
[0081 ]將一根串口線一端連接在UART_1串口，另一端連在輔助測試模塊的串口 I上，使用輔助測試模塊將收到的待測串口的測試數據原樣返回給該串口，下位機接收數據后判斷返回數據是否與發送的數據相同；
[0082]步驟3、所述SDRAM測試的檢測方法為:
[0083]操作上位機往AO模塊上給定的SDRAM地址空間的每一個地址寫數據，然后再讀出來與寫入的數據進行比較，判斷測試地址空間的數據讀寫是否都正確，其中，SDRAM測試起始地址預留IM空間給測試程序；
[0084]步驟4、所述FLASH測試的檢測方法為:
[0085]操作上位機對AO模塊上的FLASH全擦除，往FLASH地址空間每一個地址空間寫數據，然后再讀出來與寫入的數據比較，判斷測試地址空間的數據讀寫是否一致，所述FLASH遵循CFI接口規范；
[0086]步驟5、所述LED燈測試的檢測方法為:
[0087]操作上位機控制測試LED燈，LED燈亮滅由相應GP1 口控制，測試時將相應GP1 口都配置為輸出，采用流水亮滅的形式來進行測試，最終點亮所有燈，觀察燈是否全亮。
[0088]所述板級工裝軟件:下發測試指令，檢驗人員觀察測試結果。
[0089]步驟6、所述DA數模轉換測試的檢測方法為:
[0090]操作上位機設定4路通道對外輸出的電流值(4_20mA)，然后轉換為相應的數字量數據并發送到下位機，下位機使用這個數據來設置DA芯片，然后使用輔助測試模塊的高精度ΑΙ/Α0檢測模塊測量每路信號輸出的電流值，通過串口返回給下位機，判斷是否符合要求，誤差在±0.1%內。
[0091]與現有技術相比，優越效果在于:本發明能兼容多種PLC模塊，通用性強，對于外部接口或功能上的測試精度高，實現自動測試且測試結果準確，降低了工作量，提高了工作效率。
【附圖說明】
[0092]圖1為本發明所述基于QT的跨平臺PLC板級工裝測試系統的結構示意圖；
[0093]圖2為本發明中的CPU模塊測試連接圖；
[0094]圖3為本發明中的耦合器模塊測試連接圖；
[0095]圖4為本發明中的DI模塊測試連接圖；
[0096]圖5為本發明中的DO模塊測試連接圖；
[0097]圖6為本發明中的Al模塊測試連接圖；
[0098]圖7為本發明中的AO模塊測試連接圖；
[0099]圖8為本發明中的輔助測試模塊結構圖；
[0100]圖9為本發明中的上位機的工作流程圖；
[0101]圖10為本發明中的上位機測試串口的工作流程圖；
[0102]圖11為本發明中的上位機測試網口的工作流程圖；
[0103]圖12為本發明中的上位機測試Al模塊模數轉換的工作流程圖；
[0104]圖13為本發明中的上位機測試AO模塊數模轉換的工作流程圖。
[0105]圖中箭頭方向信號傳輸方向。
【具體實施方式】
[0106]下面結合附圖對本發明【具體實施方式】作進一步詳細說明。
[0107]實施例1
[0108]如圖1所示，具體說明本發明提供一種基于QT的跨平臺PLC板級工裝測試系統，包括基于QT的跨平臺板級工裝測試軟件、電源模塊、待測PLC單板模塊和輔助測試模塊，所述基于QT的跨平臺板級工裝測試軟件所安裝的PC機，通過串口線連接待測模塊，與待測模塊下位機測試程序通信，所述電源模塊連接待測模塊，為板級工裝測試提供電源，所述待測模塊包括:CPU模塊、耦合器模塊、數字量輸入模塊、數字量輸出模塊、模擬量輸入模塊、模擬量輸出模塊，通過串口線、網線、模擬線與輔助測試模塊連接，所述CPU模塊通過XO作為(EtherCAT)主站口與1系統互聯，實現現場總線(EtherCAT)主站功能，配置定時精度測試引腳，用于系統定時精度檢測，所述耦合器模塊配2個RJ45接口和3個十六進制ID撥碼開關，下部的RJ45接口用于連接同一網段上的其它EtherCAT設備，撥碼開關支持熱連接技術，所述數字量輸入模塊和數字量輸出模塊的EtherCAT端子含有8個通道，數字量輸出模塊的負載電流輸出端具有過載和短路保護功能，所述模擬量輸入模塊和模擬量輸出模塊的EtherCAT端子的信號狀態由發光二極管指示，運行LED指示總線耦合器的數據交換狀態，故障LED指示過載和斷線狀態，所述輔助測試模塊由一個CPU模塊、一個串口通信模塊、一個網口通信模塊、一個高精度ΑΙ/Α0轉換模塊構成，提供10個串口測試接口、10個網口測試接口用于測試單板模塊的串口、網口接口功能，提供高精度的模擬量輸出、檢測以及AD/DA轉換功能用于測試ΑΙ/Α0模塊的模數/數模轉換功能，所述輔助測試模塊為PLC單板模塊的工裝測試提供了通用的測試環境。本實施例中提供的基于QT的跨平臺PLC板級工裝測試系統，是對PLC單板模塊功能及接口的統一自動化測試系統，基于QT的跨平臺板級工裝測試軟件;優選的，待測PLC單板模塊(CPU模塊、耦合器模塊、數字量輸入模塊、數字量輸出模塊、模擬量輸入模塊或模擬量輸出模塊)；輔助測試模塊;優選的，電源模塊連接待測模塊，為板級工裝測試提供電源，其特性為輸入電壓:176-264V/AC，輸出電壓:24V/5V雙路DC輸出，輸出功率:80W，轉換效率:多80% ;所述CPU模塊用于與上位機編程軟件實現數據傳輸;實現現場總線(EtherCAT)主站功能;預留UART口方便調試(兼容RS232端口)；支持RTC功能；自識別當前是主系還是從系并執行相應系別的功能;配置定時精度測試引腳，用于系統定時精度檢測;所述耦合器模塊用于連接100BASE-TX EtherCAT和EtherCAT端子模塊，并將經過EtherCAT100BASE-TX的報文轉換為E-bus信號；耦合器配2個RJ45接口，下部RJ45接口可用于連接同一網段上的其它EtherCAT設備;耦合器無需參數化，并應被視為EtherCAT從站，不用處理數據;帶ID撥碼開關，支持熱連接技術(RJ45);有3個十六進制ID撥碼開關，可將一個ID分配給耦合器站點；可以將改組設備置于EtherCAT網絡中的任何位置;所述數字輸入模塊從處理層采集二進制控制信號，并以電隔離的形式將這些信號傳輸到上層的自動化單元;數字量輸入模塊，5V DC;每個EtherCAT端子模塊含有8個通道;所述數字輸出模塊以電隔離的形式將自動化單元傳輸過來的二進制控制信號傳到處理層的執行器上;數字輸出量端子模塊5VDC，CM0S輸出；負載電流輸出端具有過載和短路保護功能;每個EtherCAT端子模塊含有8個通道;所述模擬輸入端子用于給現場測量傳感器供電，并將模擬量測量信號在電隔離的狀態下傳送到自動化設備;通過現場端子供電，供電電壓為24v;EtherCAT端子模塊的信號狀態由發光二極管指示:運行LED指示總線耦合器的數據交換狀態，故障LED指示過載和斷線狀態;所述模擬輸出端子在4到20mA之間生成信號;EtherCAT端子的輸出通道都有共同接地電位，且輸出級由24V電源供電；EtherCAT端子模塊的信號狀態由發光二極管指示;支持分布式時鐘，輸入數據可以被其他與分布式時鐘終端連接的數據進行同步監測;所述輔助測試模塊與待測模塊連接，用于測試待測模塊的接口功能以及ΑΙ/Α0模塊的模數/數模轉換功能;所述接口測試功能，提供10個串口和10個網口的測試;所述ΑΙ/Α0轉換功能，提供高精度的模擬量輸出、檢測以及AD/DA轉換功能;本輔助測試模塊由一個CPU模塊、一個串口通信模塊、一個網口通信模塊、一個高精度ΑΙ/Α0轉換模塊構成。板級工裝上位機具備登錄界面。登錄時，填寫測試人員姓名、檢驗方式。檢驗方式分為功能檢驗、生產檢驗、入庫檢驗和其他檢驗。測試人員可以選擇這幾種檢驗方式或者全選。登錄成功后進入測試界面。測試主界面中顯示測試人員姓名、當前時間等通用信息。檢驗人員連接待測模塊后，在測試界面，選擇待測模塊型號，下載測試文件，啟動測試。測試界面以圖形化的方式顯示測試結果，清晰直觀。測試結果、測試人員以及模塊信息可輸出保存為測試報告文檔。連接方式為串口連接，采用一種通訊協議實現上下通訊，完成用戶登錄、選擇待測模塊、下裝測試文件、啟動測試、選擇測試項、發送測試數據和接收測試結果等操作;根據界面選擇的模塊型號，加載不同模塊的板級工裝測試程序bin文件和模塊配置文件xml，本軟件將bin文件下裝到待測模塊的RAM中，下裝過程按照通訊協議要求實現，采用一問一答形式，保證下發數據完整的被目標板接收，本軟件根據xml文件顯示待測模塊的測試項；啟動測試后，發送測試命令給設備，設備啟動測試程序，并返回結果。
[0109]實施例2
[0110]如圖2至13所示，本發明還提供了基于QT的跨平臺PLC板級工裝測試系統的測試方法，所述測試方法包括CPU模塊檢測步驟:
[0111]步驟1、將工裝線纜一端連接CPU模塊UART_0接口，另一端連在上位機上，測試系統連接后，從上位機上打開板級工裝測試軟件.exe程序，選擇CPU模塊測試項，對CPU模塊進行檢驗，所述測試項包括串口測試、網口測試、SDRAM測試、FLASH測試、LED燈測試、撥碼開關測試、RTC時鐘測試、掉電保護時間估算、COMX測試和MAC_EEPR0M測試，所述串口測試包括3項，測試項目為UART_1、USER、OS三個通道測試，所述網口測試包括2項，測試項目為ETHO和ETHl兩個通道測試；
[0112]步驟2、所述串口三個通道測試的檢驗方法為:
[0113]將一根串口線一端連接在UART_1串口，另一端連在輔助測試模塊的串口I上，將一根串口線一端連接在USER串口，另一端連在輔助測試模塊的串口 I上，將一根串口線一端連接在OS串口，另一端連在輔助測試模塊的串口 I上，使用輔助測試模塊將收到的待測串口的測試數據原樣返回給該串口，下位機接收數據后判斷返回數據是否與發送的數據相同；
[0114]步驟3、所述網口兩個通道測試的檢測方法為:
[0115]將一根網線一端連接在ΕΤΗ0，另一端連在輔助測試模塊的網口I上，將另一根網線一端連接在ETHl，另一端連在輔助測試模塊的網口 2上，下位機首先初始化相應測試網口，然后發送目的IP為輔助測試模塊網口 IP的ARP請求包，并等待輔助測試模塊發送的ARP返回包;判斷在限定的超時時間內是否接收到正確的ARP返回包；
[0116]步驟4、所述SDRAM測試的檢測方法為:
[0117]操作上位機往CPU模塊上給定的SDRAM地址空間的每一個地址寫數據，然后再讀出來與寫入的數據進行比較，判斷測試地址空間的數據讀寫是否都正確，其中，SDRAM測試起始地址預留IM空間給測試程序；
[0118]步驟5、所述FLASH測試的檢測方法為:
[0119]操作上位機對CPU模塊上的FLASH全擦除，往FLASH地址空間每一個地址空間寫數據，然后再讀出來與寫入的數據比較，判斷測試地址空間的數據讀寫是否一致，所述FLASH遵循CFI接口規范；
[0120]步驟6、所述LED燈測試的檢測方法為:
[0121 ] 操作上位機控制測試LED燈，LED燈亮滅由相應GP1 口控制，測試時將相應GP1 口都配置為輸出，采用流水亮滅的形式來進行測試，最終點亮所有燈，觀察燈是否全亮。
[0122]所述板級工裝軟件:下發測試指令，檢驗人員觀察測試結果。
[0123]步驟7、所述撥碼測試的檢測方法為:
[0124]操作上位機讀取撥碼信息，撥碼數據通過GP1口來采集，相應的GP1配置為輸入，通過撥動硬件撥碼來改變采集到的數據，然后將數據發送到上位機，比對采集到的數據與硬件撥碼當前的碼值是否相同。
[0125]所述板級工裝軟件:下發測試指令，檢驗人員觀察測試結果。
[0126]步驟8、所述RTC時鐘測試的檢測方法為:
[0127]操作上位機對RTC時鐘進行測試，RTC時鐘芯片通過I2C總線來連接，首先需要初始化I2C相關寄存器，正確設置時鐘分頻值。然后給時鐘芯片設置一個時間，設置完成后芯片自動運行，同時開啟定時器，定時10秒后，再從時鐘芯片中讀取時間，查看讀取的時間是否比設置時間多10秒，以此判斷芯片走時是否正確。
[0128]步驟9、所述掉電保護時間估算的檢測方法為:
[0129]操作上位機測試掉電保護時間估算，關閉電源，掉電保護電路開始供電，此時外部中斷會觸發中斷，立即開啟定時器開始定時。設置定時器，合理初始化定時器寄存器，每次觸發定時器中斷時時間為lms，在定時器中斷處理程序中通過通信口發送掉電保持的時間，直到下位機完全掉電，不再發送數據為止。
[0130]步驟10、所述COMX測試的檢測方法為:
[0131]操作上位機測試COMX，COMX模塊通過DPM實現模塊主站相關通信API，DPM結構由模塊自己的操作系統rcX控制，上電后自動維護，測試過程主要是通過讀取DPM中固定地址的一些常量值來驗證。
[0132]步驟11、所述MAC_EEPR0M測試的檢測方法為:
[0133]操作上位機測試MAC_EEPR0M，首先初始化MAC控制器芯片，然后在EEPROM固定地址空間寫入一個MAC地址值，然后再讀出來，如果相同，則MAC_EEPR0M測試通過。
[0134]如圖3所示，所述測試方法包括耦合器模塊檢驗步驟:
[0135]步驟1、將測試系統連接好，從上位機上打開板級工裝測試軟件.exe程序，選擇耦合器模塊測試項，對耦合器模塊進行檢驗，所述測試項包括串口測試、SDRAM測試、FLASH測試、LED燈測試、撥碼開關測試，所述串口測試包括I項，測試項目為UART_1通道測試；
[0136]步驟2、所述串口一個通道測試的檢驗方法為:
[0137]將一根串口線一端連接在UART_1串口，另一端連在輔助測試模塊的串口I上，使用輔助測試模塊將收到的待測串口的測試數據原樣返回給該串口，下位機接收數據后判斷返回數據是否與發送的數據相同；
[0138]步驟3、所述SDRAM測試的檢測方法為:
[0139]操作上位機往耦合器模塊上給定的SDRAM地址空間的每一個地址寫數據，然后再讀出來與寫入的數據進行比較，判斷測試地址空間的數據讀寫是否都正確，其中，SDRAM測試起始地址預留IM空間給測試程序；
[0140]步驟4、所述FLASH測試的檢測方法為:
[0141 ] 操作上位機對耦合器模塊上的FLASH全擦除，往FLASH地址空間每一個地址空間寫數據，然后再讀出來與寫入的數據比較，判斷測試地址空間的數據讀寫是否一致，所述FLASH遵循CFI接口規范；
[0142]步驟5、所述LED燈測試的檢測方法為:
[0143]操作上位機控制測試LED燈，LED燈亮滅由相應GP1 口控制，測試時將相應GP1 口都配置為輸出，采用流水亮滅的形式來進行測試，最終點亮所有燈，觀察燈是否全亮。
[0144]所述板級工裝軟件:下發測試指令，檢驗人員觀察測試結果。
[0145]步驟6、所述撥碼測試的檢測方法為:
[0146]操作上位機讀取撥碼信息，撥碼數據通過GP1口來采集，相應的GP1配置為輸入，通過撥動硬件撥碼來改變采集到的數據，然后將數據發送到上位機，比對采集到的數據與硬件撥碼當前的碼值是否相同。
[0147]所述板級工裝軟件:下發測試指令，檢驗人員觀察測試結果。
[0148]如圖4和5所示，所述測試方法包括DI/D0模塊的檢驗步驟:
[0149]步驟1、將測試系統連接好，從上位機上打開板級工裝測試軟件.exe程序，選擇DI/DO模塊測試項，對DI/D0模塊進行檢驗，所述測試項包括串口測試、SDRAM測試、FLASH測試、LED燈測試、DI通道測試、DO通道測試，所述串口測試包括I項，測試項目為UART_1通道測試；
[0150]步驟2、所述串口一個通道測試的檢驗方法為:
[0151 ]將一根串口線一端連接在UART_1串口，另一端連在輔助測試模塊的串口 I上，使用輔助測試模塊將收到的待測串口的測試數據原樣返回給該串口，下位機接收數據后判斷返回數據是否與發送的數據相同；
[0152]步驟3、所述SDRAM測試的檢測方法為:
[0153]操作上位機往DI/D0模塊上給定的SDRAM地址空間的每一個地址寫數據，然后再讀出來與寫入的數據進行比較，判斷測試地址空間的數據讀寫是否都正確，其中，SDRAM測試起始地址預留IM空間給測試程序；
[0154]步驟4、所述FLASH測試的檢測方法為:
[0155]操作上位機對DI/D0模塊上的FLASH全擦除，往FLASH地址空間每一個地址空間寫數據，然后再讀出來與寫入的數據比較，判斷測試地址空間的數據讀寫是否一致，所述FLASH遵循CFI接口規范；
[0156]步驟5、所述LED燈測試的檢測方法為:
[0157]操作上位機控制測試LED燈，LED燈亮滅由相應GP1 口控制，測試時將相應GP1 口都配置為輸出，采用流水亮滅的形式來進行測試，最終點亮所有燈，觀察燈是否全亮。
[0158]所述板級工裝軟件:下發測試指令，檢驗人員觀察測試結果。
[0159]步驟6、所述DI通道測試的檢測方法為:
[0160]操作上位機控制測試DI通道，給每通道(D01?D08)輸入不同的高低電平，GP1 口采集到相應的數據后通過通信口將數據發送到上位機，比對采集到的數據與實際各通道輸入的電平高低是否吻合。
[0161]板級工裝軟件:下發測試指令，檢驗人員觀察測試結果。
[0162]步驟7、所述DO通道測試的檢測方法為:
[0163]操作上位機控制測試DO通道，上位機往下位機發送一個輸出值，下位機控制相應GP1口控制各通道(D01?D08)輸出，然后觀察DO通道電平指示燈，比對數據與各通道測量值是否吻合。
[0164]板級工裝軟件:下發測試指令，檢驗人員觀察測試結果。
[0165]如圖6所示，本發明中的所述測試方法包括Al模塊測試檢驗方法:
[0166]步驟1、將測試系統連接好，從上位機上打開板級工裝測試軟件.exe程序，選擇Al模塊測試項，對Al模塊進行檢驗，所述測試項包括串口測試、SDRAM測試、FLASH測試、LED燈測試、AD模數轉換測試，所述串口測試包括I項，測試項目為UART_1通道測試；
[0167]步驟2、所述串口一個通道測試的檢驗方法為:
[0168]將一根串口線一端連接在UART_1串門，另一端連在輔助測試模塊的串口I上，使用輔助測試模塊將收到的待測串口的測試數據原樣返回給該串口，下位機接收數據后判斷返回數據是否與發送的數據相同；
[0169]步驟3、所述SDRAM測試的檢測方法為:
[0170]操作上位機往Al模塊上給定的SDRAM地址空間的每一個地址寫數據，然后再讀出來與寫入的數據進行比較，判斷測試地址空間的數據讀寫是否都正確，其中，SDRAM測試起始地址預留IM空間給測試程序；
[0171 ]步驟4、所述FLASH測試的檢測方法為:
[0172]操作上位機對Al模塊上的FLASH全擦除，往FLASH地址空間每一個地址空間寫數據，然后再讀出來與寫入的數據比較，判斷測試地址空間的數據讀寫是否一致，所述FLASH遵循CFI接口規范；
[0173]步驟5、所述LED燈測試的檢測方法為:
[0174]操作上位機控制測試LED燈，LED燈亮滅由相應GP1 口控制，測試時將相應GP1 口都配置為輸出，采用流水亮滅的形式來進行測試，最終點亮所有燈，觀察燈是否全亮。
[0175]所述板級工裝軟件:下發測試指令，檢驗人員觀察測試結果。
[0176]步驟6、所述AD模數轉換測試的檢測方法為:
[0177]使用輔助測試模塊的高精度ΑΙ/Α0檢測模塊，對4路通道分別輸入4_20mA恒定電流，AD芯片采集到相應數據后進行轉換，然后將轉換數據通過串口發送給下位機，下位機計算采集誤差在± 0.3 %內則測試通過。誤差計算公式為:UX2.5V/(110QX216)X100%彡
0.3%。
[0178]如圖7所示，本發明中的所述測試方法包括AO模塊檢驗方法:
[0179]步驟1、將測試系統連接好，從上位機上打開板級工裝測試軟件.exe程序，選擇AO模塊測試項，對AO模塊進行檢驗，所述測試項包括串口測試、SDRAM測試、FLASH測試、LED燈測試、DA數模轉換測試，所述串口測試包括I項，測試項目為UART_1通道測試；
[0180]步驟2、所述串口一個通道測試的檢驗方法為:
[0181 ]將一根串口線一端連接在UART_1串口，另一端連在輔助測試模塊的串口 I上，使用輔助測試模塊將收到的待測串口的測試數據原樣返回給該串口，下位機接收數據后判斷返回數據是否與發送的數據相同；
[0182]步驟3、所述SDRAM測試的檢測方法為:
[0183]操作上位機往A0模塊上給定的SDRAM地址空間的每一個地址寫數據，然后再讀出來與寫入的數據進行比較，判斷測試地址空間的數據讀寫是否都正確，其中，SDRAM測試起始地址預留IM空間給測試程序；
[0184]步驟4、所述FLASH測試的檢測方法為:
[0185]操作上位機對AO模塊上的FLASH全擦除，往FLASH地址空間每一個地址空間寫數據，然后再讀出來與寫入的數據比較，判斷測試地址空間的數據讀寫是否一致，所述FLASH遵循CFI接口規范；
[0186]步驟5、所述LED燈測試的檢測方法為:
[0187]操作上位機控制測試LED燈，LED燈亮滅由相應GP1 口控制，測試時將相應GP1 口都配置為輸出，采用流水亮滅的形式來進行測試，最終點亮所有燈，觀察燈是否全亮。
[0188]所述板級工裝軟件:下發測試指令，檢驗人員觀察測試結果。
[0189]步驟6、所述DA數模轉換測試的檢測方法為:
[0190]操作上位機設定4路通道對外輸出的電流值(4_20mA)，然后轉換為相應的數字量數據并發送到下位機，下位機使用這個數據來設置DA芯片，然后使用輔助測試模塊的高精度ΑΙ/Α0檢測模塊測量每路信號輸出的電流值，通過串口返回給下位機，判斷是否符合要求，誤差在±0.1%內。
[0191]本發明并不限于上述實施方式，在不背離本發明的實質內容的情況下，本領域技術人員可以想到的任何變形、改進、替換均落入本發明的保護范圍。
【主權項】
1.一種基于QT的跨平臺PLC板級工裝測試系統，其特征在于，所述工裝測試系統包括基于QT的跨平臺板級工裝測試軟件、電源模塊、待測PLC單板模塊和輔助測試模塊，所述基于QT的跨平臺板級工裝測試軟件所安裝的PC機，通過串口線連接待測模塊，與待測模塊下位機測試程序通信，所述電源模塊連接待測模塊，為板級工裝測試提供電源，所述待測模塊包括:CPU模塊、耦合器模塊、數字量輸入模塊、數字量輸出模塊、模擬量輸入模塊、模擬量輸出模塊，通過串口線、網線、模擬線與輔助測試模塊連接。2.根據權利要求1所述基于QT的跨平臺PLC板級工裝測試系統，其特征在于，所述CPU模塊通過XO作為(EtherCAT)主站口與1系統互聯，實現現場總線(EtherCAT)主站功能，配置定時精度測試引腳，用于系統定時精度檢測。3.根據權利要求1所述基于QT的跨平臺PLC板級工裝測試系統，其特征在于，所述耦合器模塊配2個RJ45接口和3個十六進制ID撥碼開關，下部的RJ45接口用于連接同一網段上的其它EtherCAT設備，撥碼開關支持熱連接技術。4.根據權利要求1所述基于QT的跨平臺PLC板級工裝測試系統，其特征在于，所述數字量輸入模塊和數字量輸出模塊的EtherCAT端子含有8個通道，數字量輸出模塊的負載電流輸出端具有過載和短路保護功能，所述模擬量輸入模塊和模擬量輸出模塊的EtherCAT端子的信號狀態由發光二極管指示，運行LED指示總線耦合器的數據交換狀態，故障LED指示過載和斷線狀態。5.根據權利要求1所述基于QT的跨平臺PLC板級工裝測試系統，其特征在于，所述輔助測試模塊由一個(PU模塊、一個串口通信模塊、一個網口通信模塊、一個高精度ΑΙ/Α0轉換模塊構成，提供10個串口測試接口、10個網口測試接口用于測試單板模塊的串口、網口接口功能，提供高精度的模擬量輸出、檢測以及AD/DA轉換功能用于測試ΑΙ/Α0模塊的模數/數模轉換功能，所述輔助測試模塊為PLC單板模塊的工裝測試提供了通用的測試環境。6.根據權利要求1-5任一所述基于QT的跨平臺PLC板級工裝測試系統的測試方法，其特征在于，所述測試方法包括CPU模塊檢測步驟: 步驟1、將工裝線纜一端連接CPU模塊UART_0接口，另一端連在上位機上，測試系統連接后，從上位機上打開板級工裝測試軟件.exe程序，選擇CPU模塊測試項，對CHJ模塊進行檢驗，所述測試項包括串口測試、網口測試、SDRAM測試、FLASH測試、LED燈測試、撥碼開關測試、RTC時鐘測試、掉電保護時間估算、COMX [工業現場總線主站模塊]測試和MAC_EEPR0M測試，所述串口測試包括3項，測試項目為UART_1、USER、0S三個通道測試，所述網口測試包括2項，測試項目為ETHO和ETHl兩個通道測試； 步驟2、所述串口三個通道測試的檢驗方法為: 將一根串口線一端連接在UART j串口，另一端連在輔助測試模塊的串口 I上，將一根串口線一端連接在USER串口，另一端連在輔助測試模塊的串口 I上，將一根串口線一端連接在OS串口，另一端連在輔助測試模塊的串口 I上，使用輔助測試模塊將收到的待測串口的測試數據原樣返回給該串口，下位機接收數據后判斷返回數據是否與發送的數據相同； 步驟3、所述網口兩個通道測試的檢測方法為: 將一根網線一端連接在ETHO，另一端連在輔助測試模塊的網口 I上，將另一根網線一端連接在ETHl，另一端連在輔助測試模塊的網口 2上，下位機首先初始化相應測試網口，然后發送目的IP為輔助測試模塊網口 IP的ARP請求包，并等待輔助測試模塊發送的ARP返回包；判斷在限定的超時時間內是否接收到正確的ARP返回包； 步驟4、所述SDRAM測試的檢測方法為: 操作上位機往CPU模塊上給定的SDRAM地址空間的每一個地址寫數據，然后再讀出來與寫入的數據進行比較，判斷測試地址空間的數據讀寫是否都正確，其中，SDRAM測試起始地址預留IM空間給測試程序； 步驟5、所述FLASH測試的檢測方法為: 操作上位機對CPU模塊上的FLASH全擦除，往FLASH地址空間每一個地址空間寫數據，然后再讀出來與寫入的數據比較，判斷測試地址空間的數據讀寫是否一致，所述FLASH遵循CFI接口規范； 步驟6、所述LED燈測試的檢測方法為: 操作上位機控制測試LED燈，LED燈亮滅由相應GP1[General Purpose Input Output,通用輸入/輸出]口控制，測試時將相應GP1口都配置為輸出，采用流水亮滅的形式來進行測試，最終點亮所有燈，觀察燈是否全亮； 所述板級工裝軟件:下發測試指令，檢驗人員觀察測試結果； 步驟7、所述撥碼測試的檢測方法為: 操作上位機讀取撥碼信息，撥碼數據通過GP1 口來采集，相應的GP1配置為輸入，通過撥動硬件撥碼來改變采集到的數據，然后將數據發送到上位機，比對采集到的數據與硬件撥碼當前的碼值是否相同； 所述板級工裝軟件:下發測試指令，檢驗人員觀察測試結果； 步驟8、所述RTC時鐘測試的檢測方法為: 操作上位機對RTC時鐘進行測試，RTC時鐘芯片通過I2C總線來連接，首先需要初始化I2C相關寄存器，正確設置時鐘分頻值。然后給時鐘芯片設置一個時間，設置完成后芯片自動運行，同時開啟定時器，定時10秒后，再從時鐘芯片中讀取時間，查看讀取的時間是否比設置時間多10秒，以此判斷芯片走時是否正確； 步驟9、所述掉電保護時間估算的檢測方法為: 操作上位機測試掉電保護時間估算，關閉電源，掉電保護電路開始供電，此時外部中斷會觸發中斷，立即開啟定時器開始定時。設置定時器，合理初始化定時器寄存器，每次觸發定時器中斷時時間為lms，在定時器中斷處理程序中通過通信口發送掉電保持的時間，直到下位機完全掉電，不再發送數據為止； 步驟10、所述COMX測試的檢測方法為: 操作上位機測試⑶MX，COMX模塊通過DPM[DuaI Port Memory，雙口 RAM]實現模塊主站相關通信API，DPM結構由模塊自己的操作系統rcX控制，上電后自動維護，測試過程主要是通過讀取DPM中固定地址的一些常量值來驗證； 步驟11、所述MAC_EEPR0M測試的檢測方法為: 操作上位機測試MAC_EEPR0M，首先初始化MAC控制器芯片，然后在EEPROM固定地址空間寫入一個MAC地址值，然后再讀出來，如果相同，則MAC_EEPR0M測試通過。7.根據權利要求6所述基于QT的跨平臺PLC板級工裝測試系統的測試方法，其特征在于，所述測試方法包括耦合器模塊檢驗步驟: 步驟1、將測試系統連接好，從上位機上打開板級工裝測試軟件.exe程序，選擇耦合器模塊測試項，對耦合器模塊進行檢驗，所述測試項包括串口測試、SDRAM測試、FLASH測試、LED燈測試、撥碼開關測試，所述串口測試包括I項，測試項目為UART_1通道測試； 步驟2、所述串口一個通道測試的檢驗方法為: 將一根串口線一端連接在UART j串口，另一端連在輔助測試模塊的串口 I上，使用輔助測試模塊將收到的待測串口的測試數據原樣返回給該串口，下位機接收數據后判斷返回數據是否與發送的數據相同； 步驟3、所述SDRAM測試的檢測方法為: 操作上位機往耦合器模塊上給定的SDRAM地址空間的每一個地址寫數據，然后再讀出來與寫入的數據進行比較，判斷測試地址空間的數據讀寫是否都正確，其中，SDRAM測試起始地址預留IM空間給測試程序； 步驟4、所述FLASH測試的檢測方法為: 操作上位機對耦合器模塊上的FLASH全擦除，往FLASH地址空間每一個地址空間寫數據，然后再讀出來與寫入的數據比較，判斷測試地址空間的數據讀寫是否一致，所述FLASH遵循CFI接口規范； 步驟5、所述LED燈測試的檢測方法為: 操作上位機控制測試LED燈，LED燈亮滅由相應GP1 口控制，測試時將相應GP1 口都配置為輸出，采用流水亮滅的形式來進行測試，最終點亮所有燈，觀察燈是否全亮； 所述板級工裝軟件:下發測試指令，檢驗人員觀察測試結果； 步驟6、所述撥碼測試的檢測方法為: 操作上位機讀取撥碼信息，撥碼數據通過GP1 口來采集，相應的GP1配置為輸入，通過撥動硬件撥碼來改變采集到的數據，然后將數據發送到上位機，比對采集到的數據與硬件撥碼當前的碼值是否相同； 所述板級工裝軟件:下發測試指令，檢驗人員觀察測試結果。8.根據權利要求6所述基于QT的跨平臺PLC板級工裝測試系統的測試方法，其特征在于，所述測試方法包括DI/D0模塊的檢驗步驟: 步驟1、將測試系統連接好，從上位機上打開PLC測試工裝系統.exe程序，選擇DI/D0模塊測試項，對DI/D0模塊進行檢驗，所述測試項包括串口測試、SDRAM測試、FLASH測試、LED燈測試、DI通道測試、DO通道測試，所述串口測試包括I項，測試項目為UART_1通道測試； 步驟2、所述串口一個通道測試的檢驗方法為: 將一根串口線一端連接在UART j串口，另一端連在輔助測試模塊的串口 I上，使用輔助測試模塊將收到的待測串口的測試數據原樣返回給該串口，下位機接收數據后判斷返回數據是否與發送的數據相同； 步驟3、所述SDRAM測試的檢測方法為: 操作上位機往DI/D0模塊上給定的SDRAM地址空間的每一個地址寫數據，然后再讀出來與寫入的數據進行比較，判斷測試地址空間的數據讀寫是否都正確，其中，SDRAM測試起始地址預留IM空間給測試程序； 步驟4、所述FLASH測試的檢測方法為: 操作上位機對DI/D0模塊上的FLASH全擦除，往FLASH地址空間每一個地址空間寫數據，然后再讀出來與寫入的數據比較，判斷測試地址空間的數據讀寫是否一致，所述FLASH遵循CFI接口規范； 步驟5、所述LED燈測試的檢測方法為: 操作上位機控制測試LED燈，LED燈亮滅由相應GP1 口控制，測試時將相應GP1 口都配置為輸出，采用流水亮滅的形式來進行測試，最終點亮所有燈，觀察燈是否全亮； 所述板級工裝軟件:下發測試指令，檢驗人員觀察測試結果； 步驟6、所述DI通道測試的檢測方法為: 操作上位機控制測試DI通道，給每通道(D01?D08)輸入不同的高低電平，GP1 口采集到相應的數據后通過通信口將數據發送到上位機，比對采集到的數據與實際各通道輸入的電平高低是否吻合； 板級工裝軟件:下發測試指令，檢驗人員觀察測試結果； 步驟7、所述DO通道測試的檢測方法為: 操作上位機控制測試DO通道，上位機往下位機發送一個輸出值，下位機控制相應GP1口控制各通道(D01?D08)輸出，然后觀察DO通道電平指示燈，比對數據與各通道測量值是否吻合； 板級工裝軟件:下發測試指令，檢驗人員觀察測試結果。9.根據權利要求6所述基于QT的跨平臺PLC板級工裝測試系統的測試方法，其特征在于，所述測試方法包括所述Al模塊測試檢驗方法: 步驟1、將測試系統連接好，從上位機上打開板級工裝測試軟件.exe程序，選擇Al模塊測試項，對Al模塊進行檢驗，所述測試項包括串口測試、SDRAM測試、FLASH測試、LED燈測試、AD模數轉換測試，所述串口測試包括I項，測試項目為UART_1通道測試； 步驟2、所述串口一個通道測試的檢驗方法為: 將一根串口線一端連接在UART j串口，另一端連在輔助測試模塊的串口 I上，使用輔助測試模塊將收到的待測串口的測試數據原樣返回給該串口，下位機接收數據后判斷返回數據是否與發送的數據相同； 步驟3、所述SDRAM測試的檢測方法為: 操作上位機往Al模塊上給定的SDRAM地址空間的每一個地址寫數據，然后再讀出來與寫入的數據進行比較，判斷測試地址空間的數據讀寫是否都正確，其中，SDRAM測試起始地址預留IM空間給測試程序； 步驟4、所述FLASH測試的檢測方法為: 操作上位機對Al模塊上的FLASH全擦除，往FLASH地址空間每一個地址空間寫數據，然后再讀出來與寫入的數據比較，判斷測試地址空間的數據讀寫是否一致，所述FLASH遵循CFI接口規范； 步驟5、所述LED燈測試的檢測方法為: 操作上位機控制測試LED燈，LED燈亮滅由相應GP1 口控制，測試時將相應GP1 口都配置為輸出，采用流水亮滅的形式來進行測試，最終點亮所有燈，觀察燈是否全亮； 所述板級工裝軟件:下發測試指令，檢驗人員觀察測試結果； 步驟6、所述AD模數轉換測試的檢測方法為: 使用輔助測試模塊的高精度ΑΙ/Α0檢測模塊，對4路通道分別輸入4-20mA恒定電流，AD芯片采集到相應數據后進行轉換，然后將轉換數據通過串口發送給下位機，下位機計算采集誤差在± 0.3 %內則測試通過。誤差計算公式為:υΧ2.5ν/(110ΩΧ216)Χ100%彡0.3%。10.根據權利要求6所述基于QT的跨平臺PLC板級工裝測試系統的測試方法，其特征在于，所述測試方法包括AO模塊檢驗方法: 步驟1、將測試系統連接好，從上位機上打開板級工裝測試軟件.exe程序，選擇AO模塊測試項，對AO模塊進行檢驗，所述測試項包括串口測試、SDRAM測試、FLASH測試、LED燈測試、DA數模轉換測試，所述串口測試包括I項，測試項目為UART_1通道測試； 步驟2、所述串口一個通道測試的檢驗方法為: 將一根串口線一端連接在UART j串口，另一端連在輔助測試模塊的串口 I上，使用輔助測試模塊將收到的待測串口的測試數據原樣返回給該串口，下位機接收數據后判斷返回數據是否與發送的數據相同； 步驟3、所述SDRAM測試的檢測方法為: 操作上位機往AO模塊上給定的SDRAM地址空間的每一個地址寫數據，然后再讀出來與寫入的數據進行比較，判斷測試地址空間的數據讀寫是否都正確，其中，SDRAM測試起始地址預留IM空間給測試程序； 步驟4、所述FLASH測試的檢測方法為: 操作上位機對AO模塊上的FLASH全擦除，往FLASH地址空間每一個地址空間寫數據，然后再讀出來與寫入的數據比較，判斷測試地址空間的數據讀寫是否一致，所述FLASH遵循CFI接口規范； 步驟5、所述LED燈測試的檢測方法為: 操作上位機控制測試LED燈，LED燈亮滅由相應GP1 口控制，測試時將相應GP1 口都配置為輸出，采用流水亮滅的形式來進行測試，最終點亮所有燈，觀察燈是否全亮； 所述板級工裝軟件:下發測試指令，檢驗人員觀察測試結果； 步驟6、所述DA數模轉換測試的檢測方法為: 操作上位機設定4路通道對外輸出的電流值(4-20mA)，然后轉換為相應的數字量數據并發送到下位機，下位機使用這個數據來設置DA芯片，然后使用輔助測試模塊的高精度Al/AO檢測模塊測量每路信號輸出的電流值，通過串口返回給下位機，判斷是否符合要求，誤差在±0.1%內。
【文檔編號】G05B23/02GK106094804SQ201610566161
【公開日】2016年11月9日
【申請日】2016年7月18日
【發明人】趙德政, 閔曉霜, 王皓, 徐鳳, 徐一鳳, 張曉莉
【申請人】中國電子信息產業集團有限公司第六研究所