一種避光條件下自動線性測試裝置的制造方法
【專利摘要】本實用新型的提供了一種避光條件下自動線性測試裝置，包括：探測器、暗箱側蓋、同步帶大輪、過渡件、偏振片、LED光源、暗箱罩、同步帶小輪、同步帶、步進電機；暗箱側蓋和暗箱罩組成的暗箱上面所有需要固定其他器件的部分設計成便于避光的凹臺結構，探測器、步進電機安裝在暗箱側蓋上的相應凹臺中，LED光源安裝在暗箱側蓋上的相應凹臺中，步進電機帶動固定在其上面的同步帶小輪轉動，進而帶動同步帶大輪轉動，同步帶大輪通過過渡件與偏振片的可轉動端安裝成一體，這樣最終實現偏振片的一端不動，一端隨著步進電機的工作而動，達到入射光由弱變強的目的。本實用新型的技術效果能夠克服現有技術的不足，實現光強由弱變強進行探測器的線性測試的問題。
【專利說明】
一種避光條件下自動線性測試裝置
技術領域
[0001]本實用新型涉及一種探測器的線性測試裝置，更準確的說，是涉及弱光精密探測器的線性測量裝置。
【背景技術】
[0002]現代生物學、化學、醫學、材料學等領域中，對樣品光信號的檢測分析越來越受到關注。其中大多數樣品所產生的光信號極其微弱，傳統的探測方法無論精度還是靈敏度都無法滿足要求，為最大限度地提高檢測極限，必須對光信號所含的光子數目進行計數檢測。
[0003]低噪聲微弱光探測器是微弱光檢測設備中的關鍵部件，其線性測試數據成為探測器的一個重要指標。現有技術中為了測試探測器的線性，最常用的方法是在避光條件下，手動旋轉偏振片的可旋轉端，目測旋轉刻度，進行線性測試。傳統測試方法的缺點是:每次手動旋轉偏振片時，需要打開暗箱蓋，極易造成探測器帶電見光而損壞。此外，每次目測旋轉刻度誤差過大，對線性測試結果造成最終數據的偏差。
【實用新型內容】
[0004]本實用新型的目的是提供了一種避光條件下自動線性測試裝置，解決了現有技術中微弱光探測器在避光條件下的自動旋轉偏振片，從而實現光強由弱變強進行探測器的線性測試的問題。
[0005]為實現本實用新型的目的，本實用新型提供一種避光條件下自動線性測試裝置包括:探測器、暗箱側蓋、同步帶大輪、過渡件、偏振片、LED光源、暗箱罩、同步帶小輪、同步帶、步進電機;暗箱側蓋和暗箱罩組成的暗箱上面所有需要固定其他器件的部分設計成便于避光的凹臺結構，探測器、步進電機安裝在暗箱側蓋上的相應凹臺中，LED光源安裝在暗箱側蓋上的相應凹臺中，達到有效避光效果;步進電機工作旋轉，帶動固定在其上面的同步帶小輪轉動，從而使同步帶旋轉，進而帶動同步帶大輪轉動，而同步帶大輪通過過渡件與偏振片的可轉動端安裝成一體，這樣最終實現偏振片的一端固定不動，另一端隨著步進電機的工作而轉動，達到入射光逐漸由弱變強的目的。
[0006]所述裝置測試過程中要求避光。
[0007]與傳統線性測試裝置相比，本實用新型有如下優點:本實用新型涉及一種避光條件下，自動旋轉偏振片從而實現光強由弱變強進行探測器的線性測試裝置。本實用新型結構簡單、操作方便，可以使線性測試過程完成自動控制，提高了工作效率和合格率，可廣泛應用于探測器自動測試微弱光線性的系統中，應用于弱光精密探測器的線性測量數據分析領域。
[0008]本實用新型將通過優選的實施例結合附圖加以說明。
【附圖說明】
[0009]圖1.偏振片模塊圖。
[0010]圖2.本實用新型裝置圖。
[0011]圖3.本實用新型內部結構圖。
[0012]圖4.暗箱外圍零件結構圖。
[0013]附圖中符號說明:探測器1、暗箱側蓋2(1)、同步帶大輪3、過渡件4、偏振片5、暗箱側蓋2(2)、步進電機6、LED光源7、暗箱罩8、同步帶小輪9、同步帶10。
【具體實施方式】
[0014]參照附圖將詳細敘述本實用新型的具體實施方案。
[0015]如圖1，b端偏振片5固定不動，a端偏振片5慢慢旋轉，入射光強逐漸由弱增強，該裝置中的偏振片5對入射光具有遮蔽和透過的功能，可使縱向光或橫向光一種透過，一種遮蔽。當兩片偏振片同5軸旋轉時可實現將入射光由弱變強。
[0016]如圖2和圖3，步進電機6工作旋轉，帶動固定在其上面的同步帶小輪9轉動，從而使同步帶10旋轉，進而帶動同步帶大輪3轉動，而同步帶大輪3通過過渡件4與偏振片5的可轉動端安裝成一體，這樣最終實現偏振片5的一端固定不動，另一端隨著步進電機6的工作而轉動，從而實現在測試線性過程中自動旋轉偏振片，達到入射光逐漸由弱變強的目的。
[0017]如圖4:暗箱側蓋2(1)、2(2)和暗箱罩8組成的暗箱上面所有需要固定其他器件的部分設計成凹臺結構，探測器1、步進電機6安裝在暗箱側蓋2(1)上的相應凹臺中，LED光源7安裝在暗箱側蓋2(2)上的相應凹臺中，達到有效避光效果。
[0018]當然，本實用新型還可有其他實施例，在不違背本實用新型實質的前提下，相關技術人員可根據本實用新型做出相應改變或變形，但這些改變和變形都應屬于本實用新型權利要求的保護范圍。
【主權項】
1.一種避光條件下自動線性測試裝置，其特征在于，包括:探測器、暗箱側蓋、同步帶大輪、過渡件、偏振片、LED光源、暗箱罩、同步帶小輪、同步帶、步進電機;暗箱側蓋和暗箱罩組成的暗箱上面所有需要固定其他器件的部分設計成便于避光的凹臺結構，探測器、步進電機安裝在暗箱側蓋上的相應凹臺中，LED光源安裝在暗箱側蓋上的相應凹臺中，達到有效避光效果;步進電機工作旋轉，帶動固定在其上面的同步帶小輪轉動，從而使同步帶旋轉，進而帶動同步帶大輪轉動，而同步帶大輪通過過渡件與偏振片的可轉動端安裝成一體，這樣最終實現偏振片的一端固定不動，另一端隨著步進電機的工作而轉動，達到入射光逐漸由弱變強的目的。2.根據權利要求1所述的一種避光條件下自動線性測試裝置，其特征在于，測試過程中要求避光。
【文檔編號】G01D18/00GK205670016SQ201620510914
【公開日】2016年11月2日
【申請日】2016年5月31日
【發明人】譚永紅
【申請人】北京濱松光子技術股份有限公司