一種用于檢測光耦的在線測試儀的制作方法
【技術領域】
[0001]本實用新型涉及空調生產檢測儀器領域，尤其涉及可以檢測光耦受光端撇腳的ICT設備。
【背景技術】
[0002]ICT (In-Circuit Test)又稱在線測試儀，如同一塊功能強大的萬用表，主要是靠測試探針接觸PCB上的測試點來檢測PCB的線路開路、短路，所有零件的焊接情況，其作用是檢測生產PCB時所出現的裝配故障，包括元器件的錯裝、反裝、漏裝等及焊接故障，如開路、短路，約占整個電路板故障85%。還可以增加選配配置，檢測電路板的功能故障，例如檢測輸入，輸出，頻率，波形，邏輯等，約占整個電路板故障的15%。
[0003]ICT測試設備對于光親的受光端撇腳一直以來是個盲點，未檢測的光親在總裝整機負載后下線，會影響總裝的直通率，以及電子的品質指標。分析光耦無法測量的原因是ICT對于光耦的測試使用的是測試光耦發光端的PN結來判斷光耦的漏裝和反裝。但是光耦受光端無PN結，這樣就會出現當受光端撇腳或者虛焊ICT判斷不出來的情況，導致總裝下線。
【實用新型內容】
[0004]本實用新型所要解決的技術問題是實現一種能夠在線檢測光耦的受光端是否撇腳或虛焊的線測試儀。
[0005]為了實現上述目的，本實用新型采用的技術方案為:一種用于檢測光耦的在線測試儀，包括在線測試儀本體，待檢測的光耦的發光控制端和受光被控端均通過測試儀本體接通電源電路，所述的受光被控端連接有用于測量電壓的第二測量機構。
[0006]所述的發光控制端連接有用于測量電流的第一測量機構。
[0007]所述的第一測量機構和第二測量機構為在線測試儀本體的測量機構。
[0008]所述的第一測量機構通過兩個頂針分別接觸發光控制端的兩個引腳；所述的第二測量機構通過兩個頂針接觸受光被控端的兩個引腳。
[0009]本實用新型在線測試儀，改善了工廠內部測試效果，提高產品質量的可靠性與一致性，在檢測過程中，人的可變因素太多，產品質量會因人的可變因素的變化而變化，ICT設備有效解決了這個問題，讓產品質量的可靠性一致性更強。ICT測試對光耦受光端(3、4端)撇腳測試100%測出，彌補了 ICT對光耦元器件檢測的全面覆蓋性，徹底杜絕自錯而流入下工序。光耦虛焊、撇腳、漏、反，全都能檢測，總裝無下線，降低制造技術難度，提升制造能力。ICT的測試報告具體到每一個不良元器件，不需要再進行技術人員由功能不良分析器件不良的過程，大大降低了生產過程中的技術需要，提升制造能力。
【附圖說明】
[0010]下面對本實用新型說明書中每幅附圖表達的內容及圖中的標記作簡要說明:
[0011]圖1用于檢測光耦的在線測試儀結構示意圖；
[0012]圖2為光耦檢測原理圖；
[0013]上述圖中的標記均為:1、光耦；2、發光控制端；3、受光被控端；4、第一測量機構；
5、第二測量機構。
【具體實施方式】
[0014]如圖1、2所示，本實用新型是針對在線測試儀(ICT設備)使用結構的改進，在檢測光耦1時，利用在線測試儀本體的電源電路，分別接通光耦1的發光控制端2和受光被控端3，實現發光控制端2和受光被控端3的電導通，同時受光被控端3連接有用于測量電壓的第二測量機構5，通過發光控制端2電源電路的電流變化觀察第二測量機構5的電壓變化，則能夠檢測出光耦1的發光控制端2和受光被控端3的好壞，這樣在品質上有效降低下線率，提高ICT試覆蓋率，減少市場下線。
[0015]此外，還可以在發光控制端2連接有用于測量電流的第一測量機構4，方便觀察發光控制端2電源電路的電流變化，可以用于與第二測量機構5的數據變化比對，更加準確的獲得光耦1的質量優劣。第一測量機構4和第二測量機構5為在線測試儀本體的測量機構，同時第一測量機構4通過兩個頂針分別接觸發光控制端2的兩個引腳，第二測量機構5通過兩個頂針接觸受光被控端3的兩個引腳，方便線路連接和拆卸，提高檢測效率。
[0016]上面結合附圖對本實用新型進行了示例性描述，顯然本實用新型具體實現并不受上述方式的限制，只要采用了本實用新型的方法構思和技術方案進行的各種非實質性的改進，或未經改進將本實用新型的構思和技術方案直接應用于其它場合的，均在本實用新型的保護范圍之內。
【主權項】
1.一種用于檢測光耦的在線測試儀，包括在線測試儀本體，其特征在于:待檢測的光耦的發光控制端和受光被控端均通過測試儀本體接通電源電路，所述的受光被控端連接有用于測量電壓的第二測量機構。2.根據權利要求1所述的用于檢測光耦的在線測試儀，其特征在于:所述的發光控制端連接有用于測量電流的第一測量機構。3.根據權利要求2所述的用于檢測光耦的在線測試儀，其特征在于:所述的第一測量機構和第二測量機構為在線測試儀本體的測量機構。4.根據權利要求3所述的用于檢測光耦的在線測試儀，其特征在于:所述的第一測量機構通過兩個頂針分別接觸發光控制端的兩個引腳；所述的第二測量機構通過兩個頂針接觸受光被控端的兩個引腳。
【專利摘要】本實用新型公開了一種用于檢測光耦的在線測試儀，包括在線測試儀本體，待檢測的光耦的發光控制端和受光被控端均通過測試儀本體接通電源電路，所述的受光被控端連接有用于測量電壓的第二測量機構。本實用新型在線測試儀，改善了工廠內部測試效果，提高產品質量的可靠性與一致性,在檢測過程中,人的可變因素太多,產品質量會因人的可變因素的變化而變化,ICT設備有效解決了這個問題,讓產品質量的可靠性一致性更強。
【IPC分類】G01R31/02
【公開號】CN205067654
【申請號】CN201520861823
【發明人】吳承明, 蔣永福, 邢仁奎
【申請人】蕪湖美智空調設備有限公司, 邯鄲美的制冷設備有限公司, 重慶美的制冷設備有限公司
【公開日】2016年3月2日
【申請日】2015年10月29日