一種用于異型α、β探頭的檢定源盒的制作方法
【技術領域】
[0001]本實用新型屬于電離輻射計量檢定、校準領域，具體涉及一種用于異型α、β探頭的檢定源盒，能夠用于檢定、校準異型α、β探頭和存儲α、β標準放射源。
【背景技術】
[0002]在戰略武器預研、試驗及核設施退役過程中，需使用大量的異型α、β探頭。隨著對放射性場所表面污染監測的需要，各核儀器公司相繼開發出形狀各異的α、β表面污染測量儀，其探頭探測窗口形狀、大小不盡相同，有圓形、長方形、正方形，甚至在一個探頭上設有多個探測窗口。按電離輻射計量檢定規程JJG478-96規定，對α、β表面污染測量儀進行檢定、校準時需有嚴格的實驗操作平臺。面對這些強檢的α、β表面污染測量儀，對標準放射源表面與探測器之間的距離、幾何中心位置，現有技術已不能滿足對眾多形狀各異的α、β探頭進行檢定、校準工作，從而導致檢定、校準結果的不確定度增大，降低了檢定、校準數據的可靠性。

【發明內容】

[0003]為了克服已有技術中檢定源盒難以滿足對眾多形狀各異的α、β探頭檢定、校準的不足，本實用新型提供一種用于異型α、β探頭的檢定源盒。
[0004]本實用新型采用的技術方案是:本實用新型的用于異型α、β探頭的檢定源盒，其特點是，所述的檢定源盒包括弧形固定嵌卡曲面、旋轉式嵌取窗口、底盤、屏蔽防塵蓋，其中，所述的弧形固定嵌卡曲面含有螺旋條紋1、置取卡點1、嵌卡弧I，所述的旋轉式嵌取窗口含有置取卡點I1、嵌卡弧I1、固定螺鈕，所述的底盤設置有螺旋條紋II。其連接關系是，所述的弧形固定嵌卡曲面外側設置有螺旋條紋I，內側設置有嵌卡弧I，在嵌卡弧I兩端點設有置取卡點1、置取卡點III。所述的旋轉式嵌取窗口內側設置有嵌卡弧II，在嵌卡弧II兩端點設有置取卡點I1、置取卡點IV。旋轉式嵌取窗口一端點設置有固定螺鈕。所述的底盤設置有螺旋條紋II。所述的弧形固定嵌卡曲面固定在底盤上的一側，旋轉式嵌取窗口通過固定螺鈕固定在底盤上的另一側，旋轉式嵌取窗口通過固定螺鈕使置取卡點I與置取卡點II相嵌卡、置取卡點III與置取卡點IV相嵌卡。所述的弧形固定嵌卡曲面、旋轉式嵌取窗口分別設置在同一軸心線兩側。屏蔽防塵蓋設置有與螺旋條紋1、螺旋條紋II對應的內螺紋。弧形固定嵌卡曲面、旋轉式嵌取窗口、底盤固定在屏蔽防塵蓋內。
[0005]所述的弧形固定嵌卡曲面的嵌卡弧I與旋轉式嵌取窗口的嵌卡弧II對應設置。
[0006]所述的弧形固定嵌卡曲面、旋轉式嵌取窗口與待檢儀器的探測探頭對應設置。
[0007]所述的底盤的直徑分別與弧形固定嵌卡曲面、旋轉式嵌取窗口的直徑相匹配，由弧形固定嵌卡曲面I和旋轉式嵌取窗口 2構成的圓周與底盤3匹配。
[0008]所述的弧形固定嵌卡曲面通過低原子序數的聚四氟乙烯材料與底盤的固定連接。
[0009]本實用新型中設置的置取卡點1、嵌卡弧1、置取卡點I1、嵌卡弧II以便于標準放射源
[0010]的置入、取出、存儲，同時固定控制標準放射源表面與異型α、β探頭保護柵網之間的距離、幾何中心位置，底盤、屏蔽防塵蓋起到保護標準放射源不受污染損壞。
[0011]按照電離輻射計量檢定規程JJG478-96規定，在檢定、校準α、β表面污染測量儀的異型α、β探頭時，異型α、β探頭保護柵網與標準放射源表面之間距離有著不同要求。其中，檢定、校準α、β表面污染測量儀的異型α探頭時，α標準放射源表面與異型α探頭保護柵網之間距離為5mm。檢定、校準α、β表面污染測量儀的異型β探頭時，β標準放射源表面與異型β探頭保護柵網之間距離為10mm。
[0012]本實用新型的有益效果是，距離控制:有效固定控制標準放射源表面與異型α、β探頭保護柵網之間的距離、幾何中心位置，降低數據不確定度，從而提高檢定、校準數據的準確度；多功能性:適合α、β探頭形狀大小各異、多探測窗口的α、β表面污染測量儀；安全性:解決標準放射源的損壞、污染；操作過程簡單便捷:有效提高檢定、校準異型α、β探頭的工作效率。在檢定、校準異型α、β探頭的過程中，用于異型α、β探頭的檢定源盒在距離控制、多功能性、安全性、操作過程簡單便捷的基礎上確保計量檢定量值傳遞的準確可靠，具有簡單、可靠、易實現的優點。
【附圖說明】
[0013]圖1為本實用新型的用于異型α、β探頭的檢定源盒的解析圖；
[0014]圖中，1.弧形固定嵌卡曲面 2.旋轉式嵌取窗口 3.底盤 4.螺旋條紋I 5.置取卡點I6.嵌卡弧I7.固定螺鈕 14.螺旋條紋II15.置取卡點II 16.嵌卡弧II。
【具體實施方式】
[0015]下面結合附圖對本實用新型進行詳細描述。
[0016]實施例1
[0017]圖1為本實用新型的用于異型α、β探頭的檢定源盒的解析圖
[0018]在圖1中，本實用新型的用于異型α、β探頭的檢定源盒，包括弧形固定嵌卡曲面1、旋轉式嵌取窗口 2、底盤3、屏蔽防塵蓋，其中，所述的弧形固定嵌卡曲面I含有螺旋條紋I 4、置取卡點I 5、嵌卡弧I 6，所述的旋轉式嵌取窗口 2含有置取卡點II 15、嵌卡弧II 16、固定螺鈕7，所述的底盤3設置有螺旋條紋II 14。其連接關系是，所述的弧形固定嵌卡曲面I外側設置有螺旋條紋I 4，內側設置有嵌卡弧I 6，在嵌卡弧I 6兩端點設有置取卡點I 5、置取卡點III。所述的旋轉式嵌取窗口 2內側設置有嵌卡弧II 16，在嵌卡弧II 16兩端點設有置取卡點II 15、置取卡點IV。旋轉式嵌取窗口 2 —端點設置有固定螺鈕7。所述的底盤3設置有螺旋條紋II 14。所述的弧形固定嵌卡曲面I固定在底盤3上的一側，旋轉式嵌取窗口 2通過固定螺鈕7固定在底盤3上的另一側。所述的弧形固定嵌卡曲面1、旋轉式嵌取窗口 2分別設置在同一軸心線兩側。屏蔽防塵蓋設置有與螺旋條紋I 4、螺旋條紋II 14對應的內螺紋。弧形固定嵌卡曲面1、旋轉式嵌取窗口 2、底盤3固定在屏蔽防塵蓋內。
[0019]所述的弧形固定嵌卡曲面I的嵌卡弧I 6與旋轉式嵌取窗口 2的嵌卡弧II 16對應設置。
[0020]所述的弧形固定嵌卡曲面1、旋轉式嵌取窗口 2與待檢儀器的探測探頭對應設置。
[0021]所述的底盤3的直徑分別與弧形固定嵌卡曲面1、旋轉式嵌取窗口 2的直徑相匹配，由弧形固定嵌卡曲面I和旋轉式嵌取窗口 2構成的圓周與底盤3匹配。
[0022]所述的弧形固定嵌卡曲面I通過低原子序數的聚四氟乙烯材料與底盤3的固定連接。
[0023]本實用新型中的弧形固定嵌卡曲面I固定在底盤3上的一側，旋轉式嵌取窗口 2通過固定螺鈕7固定在底盤3上的另一側，旋轉式嵌取窗口 2通過固定螺鈕7使置取卡點I 5與置取卡點II 15相嵌卡、置取卡點III與置取卡點IV相嵌卡。
[0024]置取卡點I 5、嵌卡弧I 6、置取卡點II 15、嵌卡弧II 16以便于標準放射源的置入、取出、存儲，同時固定控制標準放射源表面與α、β探頭保護柵網之間的距離、幾何中心位置，底盤、屏蔽防塵蓋起到保護標準放射源不受污染損壞。
[0025]按照電離輻射計量檢定規程JJG478-96規定，在檢定、校準α、β表面污染測量儀的異型α、β探頭時，異型α、β探頭保護柵網與標準放射源表面之間距離有著不同要求。其中，檢定、校準α、β表面污染測量儀的異型α探頭時，α標準放射源表面與異型α探頭保護柵網之間距離為5mm。檢定、校準α、β表面污染測量儀的異型β探頭時，β標準放射源表面與異型β探頭保護柵網之間距離為10mm。
[0026]本實用新型的用于異型α、β探頭的檢定源盒適合檢定、校準眾多形狀各異的α、β探頭，在檢定、校準異型α、β探頭時，把屏蔽防塵蓋打開，把待檢儀器的探測探頭放在弧形固定嵌卡曲面1、旋轉式嵌取窗口 2上完全貼合，即可開始檢定、校準工作。
【主權項】
1.一種用于異型α、β探頭的檢定源盒，其特征在于:所述的檢定源盒包括弧形固定嵌卡曲面(1)、旋轉式嵌取窗口(2)、底盤(3)、屏蔽防塵蓋，其中，所述的弧形固定嵌卡曲面(I)含有螺旋條紋I (4)、置取卡點I (5)、嵌卡弧I (6)，所述的旋轉式嵌取窗口(2)含有置取卡點II (15)、嵌卡弧II (16)、固定螺鈕(7)，所述的底盤(3)設置有螺旋條紋II (14);其連接關系是，所述的弧形固定嵌卡曲面(I)外側設置有螺旋條紋I (4)，內側設置有嵌卡弧I(6)，在嵌卡弧I(6)兩端點設有置取卡點I (5)、置取卡點III ;所述的旋轉式嵌取窗口(2)內側設置有嵌卡弧II (16)，在嵌卡弧II (16)兩端點設有置取卡點II (15)、置取卡點IV ;旋轉式嵌取窗口(2) —端點設置有固定螺鈕(7);所述的底盤(3)設置有螺旋條紋II (14);所述的弧形固定嵌卡曲面(I)固定在底盤(3)上的一側，旋轉式嵌取窗口(2)通過固定螺鈕(7)固定在底盤(3)上的另一側，旋轉式嵌取窗口(2)通過固定螺鈕(7)使置取卡點I(5)與置取卡點II (15)相嵌卡、置取卡點III與置取卡點IV相嵌卡；所述的弧形固定嵌卡曲面(1)、旋轉式嵌取窗口(2)分別設置在同一軸心線兩側；屏蔽防塵蓋設置有與螺旋條紋I (4)、螺旋條紋II (14)對應的內螺紋；弧形固定嵌卡曲面(I)、旋轉式嵌取窗口(2)、底盤(3)固定在屏蔽防塵蓋內。
2.根據權利要求1所述的用于異型α、β探頭的檢定源盒，其特征在于:所述的弧形固定嵌卡曲面(I)的嵌卡弧I (6)與旋轉式嵌取窗口(2)的嵌卡弧II (16)對應設置。
3.根據權利要求1所述的用于異型α、β探頭的檢定源盒，其特征在于:所述的弧形固定嵌卡曲面(1)、旋轉式嵌取窗口(2)與待檢儀器的探測探頭對應設置。
4.根據權利要求1所述的用于異型α、β探頭的檢定源盒，其特征在于:所述的底盤(3)的直徑分別與弧形固定嵌卡曲面(1)、旋轉式嵌取窗口(2)的直徑相匹配。
【專利摘要】本實用新型提供了一種用于異型α、β探頭的檢定源盒，用于電離輻射計量檢定、校準眾多形狀各異的α、β探頭。本實用新型含有弧形固定嵌卡曲面、旋轉式嵌取窗口、底盤、屏蔽防塵蓋。本實用新型中的弧形固定嵌卡曲面的嵌卡弧Ⅰ與旋轉式嵌取窗口的嵌卡弧Ⅱ對應設置，弧形固定嵌卡曲面、旋轉式嵌取窗口與待檢儀器的探測探頭對應設置，底盤的直徑分別與弧形固定嵌卡曲面、旋轉式嵌取窗口的直徑相匹配。本實用新型在檢定、校準異型α、β探頭的過程中，用于異型α、β探頭的檢定源盒在距離控制、多功能性、安全性、操作過程簡單便捷的基礎上確保計量檢定量值傳遞的準確可靠，具有簡單、可靠、易實現的優點。
【IPC分類】G01T7-00
【公開號】CN204496012
【申請號】CN201520207170
【發明人】鄭慧, 楊小艷, 卓仁鴻, 文德智, 成晶, 丁大杰, 呂己祿, 涂俊, 毛本將
【申請人】中國工程物理研究院核物理與化學研究所
【公開日】2015年7月22日
【申請日】2015年4月9日