葉輪檢測裝置的制造方法
【技術領域】
[0001]本實用新型涉及測量設備領域，具體而言，涉及一種葉輪檢測裝置
【背景技術】
[0002]軸流風機的葉輪的外徑，即風葉外緣的旋轉半徑出現偏差會導致葉輪重心偏斜，運行不穩定并且噪聲大的問題，外徑過大時還會導致風葉與導流圈發生干涉，造成結構損毀的問題，因此葉輪的外徑為主要的質量控制點。
[0003]而現有的對葉輪的外徑進行檢測的方法為工人使用直尺、卷尺等手工進行檢測，誤差大、效率低，尤其難以檢測出葉輪的重心偏移的質量問題。
【實用新型內容】
[0004]本實用新型的主要目的在于提供一種葉輪檢測裝置，以解決現有技術中的對葉輪的外徑進行檢測的誤差大、效率低的問題。
[0005]為了實現上述目的，本實用新型提供了一種葉輪檢測裝置，包括:底座；軸座，設置在底座上；位置檢測部，設置在底座上并與軸座在軸座的徑向方向上間隔地設置。
[0006]進一步地，位置檢測部包括接觸式位移檢測單元，接觸式位移檢測單元的觸頭朝向軸座設置。
[0007]進一步地，接觸式位移檢測單元包括磁柵尺或光柵尺。
[0008]進一步地，葉輪檢測裝置還包括接觸部，與接觸式位移檢測單元的觸頭連接并在軸座的徑向方向上朝向軸座突出。
[0009]進一步地，葉輪檢測裝置還包括:滑軌，設置在底座上；滑塊，與所屬滑軌可調節地配合并設置在滑軌上，位置檢測部與滑塊連接。
[0010]進一步地，滑軌的延長線穿過軸座的軸線。
[0011]進一步地，葉輪檢測裝置還包括立柱，立柱設置在滑塊上，位置檢測部設置在立柱上。
[0012]進一步地，軸座的軸向垂直于水平面，滑軌的水平高度低于軸座的水平高度，位置檢測部的水平高度高于軸座的水平高度。
[0013]進一步地，底座包括上面板，軸座設置在上面板上，上面板上開設有開口，立柱穿過開口。
[0014]進一步地，位置檢測部還包括用于顯示位置檢測部的度數的顯示裝置。
[0015]應用本實用新型的技術方案，不僅能夠檢測葉輪是否會與導流圈發生干涉，即葉輪的半徑是否大于或等于導流圈的半徑，還能夠測得每個葉片的尺寸的大小，從而推出葉輪的重心偏離軸心的程度，以判斷葉輪是否合格。此外，由于葉輪固定到軸座上，并且使用設置在底座上的位置檢測部進行檢測，因此檢測的精度高，對葉輪進行檢測的效率也得到
【附圖說明】
[0016]構成本申請的一部分的說明書附圖用來提供對本實用新型的進一步理解，本實用新型的示意性實施例及其說明用于解釋本實用新型，并不構成對本實用新型的不當限定。在附圖中:
[0017]圖1示出了根據本實用新型的葉輪檢測裝置的實施例的主視示意圖；
[0018]圖2示出了根據本實用新型的葉輪檢測裝置的實施例的側視示意圖；
[0019]圖3示出了根據本實用新型的葉輪檢測裝置的實施例的俯視示意圖；以及
[0020]圖4示出了根據本實用新型的葉輪檢測裝置的實施例的立體示意圖。
[0021]圖中附圖標記:10、底座；11、開口 ；20、軸座；30、位置檢測部；40、接觸部；50、滑軌；60、滑塊；70、立柱；100、葉輪。
【具體實施方式】
[0022]需要說明的是，在不沖突的情況下，本申請中的實施例及實施例中的特征可以相互組合。下面將參考附圖并結合實施例來詳細說明本實用新型。
[0023]根據本實用新型的一個方面，提供了一種葉輪檢測裝置，如圖1至4所示，該葉輪檢測裝置包括:底座10 ;軸座20，設置在底座10上；位置檢測部30，設置在底座10上并與軸座20在軸座20的徑向方向上間隔地設置。
[0024]利用本實用新型的葉輪檢測裝置對葉輪100進行檢測時，將葉輪100的轉軸安裝到軸座20上，并使得葉輪100能夠在軸座20上轉動，旋轉葉輪100，使得葉輪100的每個葉片都經過位置檢測部30的檢測，從而不僅能夠分別得到每個葉片的外圍的轉動半徑的值，還能夠得到葉輪100的半徑，即葉片的外圍的轉動半徑的最大值。
[0025]從以上的描述中，可以看出，本實用新型上述的實施例實現了如下技術效果:采用本實用新型的葉輪檢測裝置對葉輪100進行檢測，不僅能夠檢測葉輪100是否會與導流圈發生干涉，即葉輪100的半徑是否大于或等于導流圈的半徑，還能夠測得每個葉片的尺寸的大小，從而推出葉輪100的重心偏離軸心的程度，以判斷葉輪100是否合格。此外，由于葉輪100固定到軸座20上，并且使用設置在底座10上的位置檢測部30進行檢測，因此檢測的精度高，對葉輪100進行檢測的效率也得到提高。
[0026]優選地，位置檢測部30包括接觸式位移檢測單元，接觸式位移檢測單元的觸頭朝向軸座20設置。葉片在轉動過程中會推開觸頭，因此位置檢測部30能夠記錄葉片的外圍的轉動半徑的最大值。
[0027]優選地，接觸式位移檢測單元包括磁柵尺或光柵尺。
[0028]優選地，葉輪檢測裝置還包括接觸部40，與接觸式位移檢測單元的觸頭連接并在軸座20的徑向方向上朝向軸座20突出。接觸部40為耐磨材料制成，因此可以提高葉輪檢測裝置的精度和使用壽命。
[0029]優選地，如圖1和3所示，葉輪檢測裝置還包括:滑軌50，設置在底座10上；滑塊60，與所屬滑軌50可調節地配合并設置在滑軌50上，位置檢測部30與滑塊60連接。通過調節滑塊60在滑軌50上的位置，可以位置檢測部30的檢測范圍，例如圖3中點劃線示出的圓，較小直徑的圓為位置檢測部30的最小檢測范圍，較大直徑的圓為位置檢測部30的最大檢測范圍。通過滑塊60和滑軌50，葉輪檢測裝置能夠適應對不同設計直徑的葉輪進行檢測，提高了葉輪檢測裝置的適用性。
[0030]優選地，滑軌50上設置有刻度。更優選地，滑塊60上設置有螺旋調節裝置，用以對位置檢測部30距離軸座20的距離進行微調與控制。
[0031]優選地，滑軌50的延長線穿過軸座20的軸線。
[0032]優選地，葉輪檢測裝置還包括立柱70，立柱70設置在滑塊60上，位置檢測部30設置在立柱70上。優選地，軸座20的軸向垂直于水平面，滑軌50的水平高度低于軸座20的水平高度，位置檢測部30的水平高度高于軸座20的水平高度。為了避免滑軌50干涉葉輪100的轉動，因此滑軌50的水平位置低于軸座20。此外，為了盡可能減小測量誤差，葉輪100水平安放在軸座20上。
[0033]優選地，如圖3所示，底座10包括上面板，軸座20設置在上面板上，上面板上開設有開口 11，立柱70穿過開口 11。
[0034]優選地，如圖1和圖4所示，位置檢測部30還包括用于顯示位置檢測部30的度數的顯示裝置。顯示裝置通過控制部與磁柵尺或光柵尺點連接，用以精確顯示磁柵尺或光柵尺測得的值。
[0035]以上所述僅為本實用新型的優選實施例而已，并不用于限制本實用新型，對于本領域的技術人員來說，本實用新型可以有各種更改和變化。凡在本實用新型的精神和原則之內，所作的任何修改、等同替換、改進等，均應包含在本實用新型的保護范圍之內。
【主權項】
1.一種葉輪檢測裝置，其特征在于，包括: 底座(10)； 軸座(20)，設置在所述底座(10)上； 位置檢測部(30)，設置在所述底座(10)上并與所述軸座(20)在所述軸座(20)的徑向方向上間隔地設置。
2.根據權利要求1所述的葉輪檢測裝置，其特征在于，所述位置檢測部(30)包括接觸式位移檢測單元，所述接觸式位移檢測單元的觸頭朝向所述軸座(20)設置。
3.根據權利要求2所述的葉輪檢測裝置，其特征在于，所述接觸式位移檢測單元包括磁柵尺或光柵尺。
4.根據權利要求2所述的葉輪檢測裝置，其特征在于，所述葉輪檢測裝置還包括接觸部(40)，與所述接觸式位移檢測單元的觸頭連接并在所述軸座(20)的徑向方向上朝向所述軸座(20)突出。
5.根據權利要求1所述的葉輪檢測裝置，其特征在于，所述葉輪檢測裝置還包括: 滑軌(50)，設置在所述底座(10)上； 滑塊(60)，與所述滑軌(50)可調節地配合并設置在所述滑軌(50)上，所述位置檢測部(30)與所述滑塊￠0)連接。
6.根據權利要求5所述的葉輪檢測裝置，其特征在于，所述滑軌(50)的延長線穿過所述軸座(20)的軸線。
7.根據權利要求5所述的葉輪檢測裝置，其特征在于，所述葉輪檢測裝置還包括立柱(70)，所述立柱(70)設置在所述滑塊￠0)上，所述位置檢測部(30)設置在所述立柱(70)上。
8.根據權利要求7所述的葉輪檢測裝置，其特征在于，所述軸座(20)的軸向垂直于水平面，所述滑軌(50)的水平高度低于所述軸座(20)的水平高度，所述位置檢測部(30)的水平高度高于所述軸座(20)的水平高度。
9.根據權利要求8所述的葉輪檢測裝置，其特征在于，所述底座(10)包括上面板，所述軸座(20)設置在所述上面板上，所述上面板上開設有開口(11)，所述立柱(70)穿過所述開口(H)。
10.根據權利要求1所述的葉輪檢測裝置，其特征在于，所述位置檢測部(30)還包括用于顯示所述位置檢測部(30)的度數的顯示裝置。
【專利摘要】本實用新型提供了一種葉輪檢測裝置，包括：底座；軸座，設置在底座上；位置檢測部，設置在底座上并與軸座在軸座的徑向方向上間隔地設置。應用本實用新型的技術方案，不僅能夠檢測葉輪是否會與導流圈發生干涉，即葉輪的半徑是否大于或等于導流圈的半徑，還能夠測得每個葉片的尺寸的大小，從而推出葉輪的重心偏離軸心的程度，以判斷葉輪是否合格。此外，由于葉輪固定到軸座上，并且使用設置在底座上的位置檢測部進行檢測，因此檢測的精度高，對葉輪進行檢測的效率也得到提高。
【IPC分類】G01B7-312, G01B11-27, G01B11-08, G01B7-12
【公開號】CN204286355
【申請號】CN201420835763
【發明人】解偉, 張成成, 尹粵卿, 葛藍, 孫玉超, 李紅生
【申請人】格力電器（合肥）有限公司, 珠海格力電器股份有限公司
【公開日】2015年4月22日
【申請日】2014年12月24日