一種表面覆膜金片金含量及金質量的快速測定方法
【專利摘要】本發明涉及化學檢測領域，尤其涉及一種表面覆膜金片金含量及金質量的快速測定方法；本發明通過對表面鍍膜金片進行脫膜前處理，再利用X射線熒光光譜法進行金含量檢測；其中脫膜前處理溶膠步驟只針對膜上的膠體反應，對金層無反應，不僅能夠快速便捷的將膜與金層分離，且能較大程度的保持金層的完整；脫膜的金片可以便捷進行X射線熒光光譜檢測，解決了覆膜帶來的測試結果失真問題，而且能準確的測出金質量，均很好的滿足了快速、準確、無損耗的檢測要求。
【專利說明】
一種表面覆膜金片金含量及金質量的快速測定方法
技術領域
[0001] 本發明涉及化學檢測領域，尤其涉及一種表面覆膜金片金含量及金質量的快速測 定方法。
【背景技術】
[0002] 金有極好的延展性能，可以加工成很薄的片材。隨著生活質量的提高，金在人們生 活中的使用越來越頻繁。當前市場上金片工藝品更是推陳出新，一種表面覆膜的金片在工 藝禮品上流行起來。隨之而來的檢驗難度及工作量也在增加，這對快速準確的檢驗要求提 出了考驗。
[0003] 在檢測表面覆膜的金片產品過程中，金含量及質量是生產商及消費者關心的重 點。目前對于高含金量的測定主要有X熒光光譜法、灰吹法、容量法、電感耦合等離子體光譜 法及質譜法等。其中灰吹法、容量法、電感耦合等離子體光譜法及質譜法均為破壞性檢測方 法，對樣品具有一定的損耗，且分析周期較長，檢測成本較高，不利于量產要求的快速分析 檢測。而X熒光光譜法檢測對樣品無損耗，且分析速度快，操作簡便，檢測數據準確，能夠很 好的滿足量產檢測要求的快速、準確。但是X射線熒光光譜儀測試時要求X射線必須擊打在 金層上，表面覆膜金片由于表面覆膜，X射線無法直接擊打在金層表面，導致數據異常失真， 且在進行質量分析時，由于覆膜原因，無法直接稱量金質量。
[0004] 目前行業里多采用強酸或者強堿進行軟化膠體的方法，或者采用火燒法。利用強 酸強堿除膠，需讓覆膜金片完全浸沒在強酸或強堿溶液中，這有可能使得金層中的雜質金 屬元素鐵、鋅、鋁、銅等與酸或堿反應，破壞金層的雜質元素含量，導致后續金含量測試不準 確。采用火燒法，當金片很薄時有可能使很薄的金片融化，或者覆膜的膠體燃燒不凈無法得 到完整的金層以進行后續的質量及金含量的測量，且火燒法通過燃燒高分子覆膜，既不環 保也存在較多缺陷。
[0005] 所以需要一種新的檢測表面覆膜的金片產品含金量和金質量的方法，可以在不損 壞金片的情況下快速測量。

【發明內容】

[0006] 本發明的目的在于提供一種表面覆膜金片金含量及金質量的快速測定方法，旨在 解決現有檢測技術檢測時對金片會產生損害的問題。
[0007] 本發明是這樣實現的：一種表面覆膜金片金含量及金質量的快速測定方法，其特 征在于，包括以下步驟： A. 溶膠步驟，所述溶膠步驟系將覆膜金片完全浸于溶膠劑中并密封，所述覆膜金片包 括金片層和包裹在所述金片層之外的覆膜層，所述覆膜層與所述金片層之間通過高分子膠 層相連;所述溶膠劑系所述高分子膠層的良溶劑； B. 脫模步驟，所述脫模步驟系將所述覆膜金片的所述覆膜層與所述金片層分離； C. 檢測步驟，所述檢測步驟系將經過所述脫模步驟的所述金片層放入X熒光光譜儀中 檢測其含金量，將經過所述脫模步驟的所述金片層放入電子天平檢測質量。
[0008] 本發明的進一步技術方案是:所述步驟A之前還包括步驟A1.裁剪步驟，所述裁剪 步驟系將所述覆膜金片中超出所述金片層的所述覆膜層剪掉，使所述覆膜層與所述金片層 齊邊。
[0009] 本發明的進一步技術方案是:所述步驟A之前還包括步驟A2.清洗步驟，所述清洗 步驟系除去所述覆膜金片表面異物。步驟A1和步驟A2不分先后，可以先進行任一步驟。
[0010] 本發明的進一步技術方案是:所述步驟C之前還包括步驟B1:再清洗步驟，所述再 清洗步驟系除去所述金片層的表面異物。
[0011] 本發明的進一步技術方案是:所述步驟B1之后還包括步驟B2:烘干步驟:所述烘干 步驟系除去所述金片層表面液體。
[0012] 本發明的進一步技術方案是:所述溶膠劑溫度為0-38攝氏度。
[0013] 本發明的進一步技術方案是:所述溶膠劑溫度為23-27攝氏度。
[0014] 本發明的進一步技術方案是：步驟A中所述覆膜金片浸入所述溶膠劑中的時間為 30-150分鐘。
[0015] 本發明的進一步技術方案是：步驟A中所述覆膜金片浸入所述溶膠劑中的時間為 60-120分鐘。
[0016]本發明的進一步技術方案是:所述溶膠劑為乙酸乙酯、甲苯、醋酸異戊酯中的一種 或幾種的組合。貴金屬行業目前普遍采用的熱熔膠主要是熱塑性的EVA(聚乙烯-乙酸乙 烯），它是一種可塑性的粘合劑，因成本低廉所以被普遍采用。其在一定溫度范圍內其物理 狀態隨溫度改變而改變，而化學特性不變，其無毒無味，屬環保型化學產品。EVA熱熔膠選取 乙酸乙酯或者甲苯或者天那水等常用的有機溶劑在常溫條件下就可以軟化甚至溶解掉。貴 金屬行業普遍采用成本低廉的塑料材質PET(聚對苯二甲酸乙二醇酯)作為覆膜層的材料。 PET薄膜是一種性能比較全面的包裝薄膜，具有耐熱、耐寒性和良好的耐化學藥品性和耐油 性，且PET薄膜的機械性能優良，其強韌性是所有熱塑性塑料中最好的，抗張強度和抗沖擊 強度比一般薄膜高得多。
[0017] 本發明的有益效果是:本發明通過對表面鍍膜金片進行脫膜前處理，再利用X射線 熒光光譜法進行金含量檢測。其中脫膜前處理溶膠步驟只針對膜上的膠體反應，對金層無 反應，不僅能夠快速便捷的將膜與金層分離，且能較大程度的保持金層的完整。脫膜的金片 可以便捷進行X射線熒光光譜檢測，解決了覆膜帶來的測試結果失真問題，而且能準確的測 出金質量，均很好的滿足了快速、準確、無損耗的檢測要求。
【附圖說明】
[0018] 圖1是現有的覆膜金片的結構圖。
[0019]附圖標記:1-覆膜層;2-高分子膠層;3-金片層。
【具體實施方式】
[0020]實施例一如圖1所示。以下結合附圖和具體實施例來詳細說明本發明。該實施例中 的表面覆膜金片選用行業里普遍采用的覆膜金片，其結構圖如圖1所示，1表示覆膜層，2表 示高分子膠層，3表示金片層。其中高分子膠層2主要由合成橡膠、樹脂及橡膠油等混合組 成，將高分子膠層2加熱成溶熔狀態再涂布于覆膜層1而制成覆膜(層1+層2)，熱熔膠覆膜因 成本低廉、環保，且與金層加工成覆膜金片工藝簡單，因此被本行業領域普遍采用。在本實 施例中，所使用的溶膠劑主要由一些高分子溶劑組合而成，其主要作用是軟化、蓬松高分子 熱熔膠甚至溶解熱熔膠，以大大降低覆膜層1和金片層3的粘接能力。
[0021]該實施例中表面覆膜金片金含量及金質量的快速測定方法，其步驟如下： (1)裁剪:將覆膜金片中超出金片層3多余的覆膜層1剪掉，盡量使金片層3與覆膜層1齊 邊，以便于溶膠過程中溶膠劑的滲透。
[0022] (2)清洗:將覆膜金片表面清潔干凈，無水漬。
[0023] (3)溶膠:將表面覆膜金片完全浸沒于溶膠劑中，因溶膠劑為易揮發的高分子混合 溶液，需上蓋密封，且溶膠液控制溫度為25 ± 2°C，溶膠時間為1至2小時，經常搖動會加快溶 膠速度，此時金片層3與覆膜層1之間的高分子膠層2出現軟化蓬松甚至溶解，金片層3與覆 膜層1之間粘接力驟減。
[0024] (4)脫膜:小心將覆膜層1與金片層3剝離，并將金片層3上的其他雜質如膠渣清除。
[0025] (5)清洗:將金片層3用水清洗干凈即可。
[0026] (6)烘干:將金片完全烘干無水漬，以便于后續測試。
[0027] (7)檢測:將經過表面脫膜前處理的金片層3放入X熒光光譜儀中進行測試，當金片 厚度過低（彡0.12M1)時，可以借鑒專利CN102128850A處理之后再測試金含量。同樣的，經過 脫膜處理的金片層3也可以通過電子天平進行質量檢測。
[0028]下面結合測試結果進一步說明本實施例的效果。
[0029]準備的覆膜前的金片和覆膜后再經過本發明提供的表面覆膜金片金含量及金質 量的快速測定方法脫模處理后的相同的金片，金片規格長10. 〇5cm、寬5.08cm、厚度 0.206_;測量其覆膜前和脫模后的金片質量，其結果如下：
從表中可以看出，經過本發明的脫膜處理流程后，金質量并無差異，完全符合檢測要 求。
[0030]繼續使用X射線熒光光譜法測量覆膜前和脫模后金片中的凈含量，得到的結果如 下表所示：
從表中可以看出，經過本發明的脫膜前處理流程后，金含量并無差異，完全符合檢測要 求。
[0031] 實驗數據說明本發明提供的表面覆膜金片金含量及金質量的快速測定方法對覆 膜金片自身的質量及含金量均無影響，確保了方法的穩定性和科學性。
[0032] 本發明通過對表面鍍膜金片進行脫膜前處理，再利用X射線熒光光譜法進行金含 量檢測。其中脫膜前處理溶膠步驟只針對膜上的膠體反應，對金層無反應，不僅能夠快速便 捷的將膜與金層分離，且能較大程度的保持金層的完整。脫膜的金片可以便捷進行X射線熒 光光譜檢測，解決了覆膜帶來的測試結果失真問題，而且能準確的測出金質量，均很好的滿 足了快速、準確、無損耗的檢測要求。
[0033] 以上所述僅為本發明的較佳實施例而已，并不用以限制本發明，凡在本發明的精 神和原則之內所作的任何修改、等同替換和改進等，均應包含在本發明的保護范圍之內。
【主權項】
1. 一種表面覆膜金片金含量及金質量的快速測定方法，其特征在于，包括以下步驟： A. 溶膠步驟，所述溶膠步驟系將覆膜金片完全浸于溶膠劑中并密封，所述覆膜金片包 括金片層和包裹在所述金片層之外的覆膜層，所述覆膜層與所述金片層之間通過高分子膠 層相連;所述溶膠劑系所述高分子膠層的良溶劑； B. 脫模步驟，所述脫模步驟系將所述覆膜金片的所述覆膜層與所述金片層分離； C. 檢測步驟，所述檢測步驟系將經過所述脫模步驟的所述金片層放入X熒光光譜儀中 檢測其含金量，將經過所述脫模步驟的所述金片層放入電子天平檢測質量。2. 根據權利要求1所述的表面覆膜金片金含量及金質量的快速測定方法，其特征在于： 所述步驟A之前還包括步驟A1.裁剪步驟，所述裁剪步驟系將所述覆膜金片中超出所述金片 層的所述覆膜層剪掉，使所述覆膜層與所述金片層齊邊。3. 根據權利要求1所述的表面覆膜金片金含量及金質量的快速測定方法，其特征在于： 所述步驟A之前還包括步驟A2.清洗步驟，所述清洗步驟系除去所述覆膜金片表面異物。4. 根據權利要求1所述的表面覆膜金片金含量及金質量的快速測定方法，其特征在于： 所述步驟C之前還包括步驟B1:再清洗步驟，所述再清洗步驟系除去所述金片層的表面異 物。5. 根據權利要求4所述的表面覆膜金片金含量及金質量的快速測定方法，其特征在于： 所述步驟B1之后還包括步驟B2:烘干步驟:所述烘干步驟系除去所述金片層表面液體。6. 根據權利要求1-5中任一所述的表面覆膜金片金含量及金質量的快速測定方法，其 特征在于:所述溶膠劑溫度為0-38攝氏度。7. 根據權利要求6所述的表面覆膜金片金含量及金質量的快速測定方法，其特征在于： 所述溶膠劑溫度為23-27攝氏度。8. 根據權利要求1-5中任一所述的表面覆膜金片金含量及金質量的快速測定方法，其 特征在于:步驟A中所述覆膜金片浸入所述溶膠劑中的時間為30-150分鐘。9. 根據權利要求8所述的表面覆膜金片金含量及金質量的快速測定方法，其特征在于： 步驟A中所述覆膜金片浸入所述溶膠劑中的時間為60-120分鐘。10. 根據權利要求1-5中任一所述的表面覆膜金片金含量及金質量的快速測定方法，其 特征在于:所述溶膠劑為乙酸乙酯、甲苯、醋酸異戊酯中的一種或幾種的組合。
【文檔編號】G01N1/30GK106053505SQ201610332962
【公開日】2016年10月26日
【申請日】2016年5月17日
【發明人】曹小勇, 華毅超, 毛敏明, 黃杏嬌
【申請人】深圳市寧深檢驗檢測技術有限公司