非接觸電壓測量裝置的制造方法
【專利摘要】在非接觸電壓測量傳感器(1)中，檢測探頭(11)由板簧構成，通過施加外力，以向上述板簧的張力作用的方向卷曲的方式變形。
【專利說明】
非接觸電壓測量裝置
技術領域
[0001] 本發明設及電壓測量裝置，尤其設及W與導線不接觸的方式來測量施加于所述導 線上的電壓的非接觸電壓測量裝置。
【背景技術】
[0002] W往，已知具有如下非接觸電壓測量裝置，該非接觸電壓測量裝置W與導線接觸 的方式來測量在由絕緣包覆部包覆的導線上流動的交流電壓(測量對象電壓）。
[0003] 非接觸電壓測量裝置通過W下方式來測量測量對象電壓。首先，用于檢測電壓的 檢測探頭接近導線的絕緣包覆部。當絕緣包覆部和檢測探頭接近時，在檢測探頭和導線之 間產生禪合電容。在檢測探頭和導線之間產生禪合電容的狀態下，若交流電在導線上流動， 則在檢測探頭上產生感應電壓。利用該感應電壓的電壓值和禪合電容的靜電容量值來導出 測量對象電壓。
[0004] 作為非接觸電壓測量裝置的一例，專利文獻1中公開了具有由柔性材料包覆的檢 測探頭的非接觸電壓檢測裝置。由于檢測探頭具有柔性，因此，用戶通過將檢測探頭纏繞在 電線的絕緣包覆部上，能夠使電線與檢測探頭的密接性提高，并且能夠擴大兩者的接觸面 積。由此，檢測探頭與電線內的忍線之間產生的禪合電容變大，另外，能夠抑制禪合電容的 變動(不規則）。因此，利用絕對值大且變動小的禪合電容，能夠準確地測量測量對象電壓。
[0005] 現有技術文獻
[0006] 專利文獻
[0007] 專利文獻1:日本公開專利公報"日本特開號公報(2012年8月30日公 開r

【發明內容】

[000引發明要解決的問題
[0009] 然而，在專利文獻1公開的非接觸電壓檢測裝置中，用戶需要進行W下方式的手動 操作，即，一邊對檢測探頭的位置或形狀進行調節，一邊將檢測探頭纏繞在絕緣包覆的周 圍。該手動操作存在耗力及耗時的問題。另外，當用戶將非接觸電壓檢測裝置的電壓表安裝 在電纜上時，存在因與所述電纜接觸而被電擊的可能性。
[0010] 本發明鑒于所述問題而提出，其目的在于，提供一種非接觸電壓測量裝置，不需要 手動操作將檢測探頭纏繞在被絕緣包覆的導線上，W使在檢測探頭和導線之間產生的禪合 電容增大，從而能夠準確地測量施加于導線的測量對象電壓。
[00川解決問題的手段
[0012]為了解決所述問題，本發明的一個實施方式的非接觸電壓測量裝置，具有在纏繞 于導線的狀態下檢測電壓的檢測探頭，當使所述檢測探頭W不接觸的方式接近所述導線W 使在所述檢測探頭和所述導線之間產生禪合電容時，基于在所述檢測探頭上產生的感應電 壓，來測量施加于所述導線的測量對象電壓，其中，所述檢測探頭在W下兩種狀態之間彈性 變形，即，違背作用于所述檢測探頭的張力向所述檢測探頭的長度方向延伸的第一狀態和 向所述張力作用的方向卷曲的第二狀態。
[0013] 根據所述結構，檢測探頭在W下兩種狀態之間彈性變形，即，向張力作用的方向卷 曲的第二狀態和違背所述張力來延伸的第一狀態。因此，檢測探頭W導線的周向與張力的 作用方向平行的方式來與導線接觸，在該接觸狀態下，在所述檢測探頭從第一狀態彈性變 形為第二狀態的情況下，通過向張力作用的方向卷曲，從而纏繞在導線的周圍。
[0014] 因此，為了在檢測探頭和導線之間產生禪合電容，而不需要將檢測探頭纏繞在導 線的周圍的手動操作。因此，能夠減少因手動操作的耗時及耗力。而且，當用戶將非接觸電 壓檢測裝置安裝在導線上時，不與所述導線接觸，因此，不存在被電擊的可能性，從而能夠 安全地將非接觸電壓檢測裝置安裝在導線上。
[0015] 而且，通過檢測探頭纏繞在導線的周圍，使得檢測探頭和導線之間產生的禪合電 容增大，因此，能夠更加精確地測量施加于導線的測量對象電壓。
[0016] 發明效果
[0017] 根據本發明，不需要手動操作將檢測套頭纏繞在被絕緣包覆的導線上，W使檢測 探頭和導線之間產生的禪合電容增大，從而能夠更加高精度地測量施加于導線上的測量對 象電壓。
【附圖說明】
[0018] 圖1是示意性地示出本發明的一個實施方式的非接觸電壓測量傳感器的外觀的俯 視圖，是示出彎曲狀態的檢測探頭的圖。
[0019] 圖2是示意性地示出本發明的一個實施方式的非接觸電壓測量傳感器的外觀的立 體圖。
[0020] 圖3是示意性地示出本發明的一個實施方式的非接觸電壓測量傳感器的結構的 圖，是示出具有所述傳感器的電路的圖。
[0021] 圖4是示意性地示出具有作用于面的上下方向上的張力的銅板黃的圖。
[0022] 圖5是示出禪合電容和測量對象電壓之間關系的另一圖，是示出禪合電容的靜電 容量值與測量對象電壓的絕對值的2次微分之間的關系的圖表的圖。
[0023] 圖6是示出本發明的一個實施方式的非接觸電壓測量傳感器的外觀的另一俯視 圖，是示出彎曲被消除的狀態的檢測探頭的圖。
[0024] 圖7是示出本發明的一個實施方式的非接觸電壓測量傳感器的檢測探頭纏繞在測 量對象配線的周圍的例子的圖。
【具體實施方式】
[0025] W下，參照圖1~圖7來詳細說明本發明的實施方式。
[0026] (非接觸電壓測量傳感器1的結構）
[0027] 參照圖1~圖3來說明非接觸電壓測量傳感器1(非接觸電壓測量裝置)的結構。圖1 是示意性地示出非接觸電壓測量傳感器1的外觀的俯視圖。圖2是示意性地示出非接觸電壓 測量傳感器1的外觀的立體圖。另外，圖3是示意性地示出非接觸電壓測量傳感器1的結構的 圖，并且是示出具有非接觸電壓測量傳感器1的電路EC的圖。W下，將非接觸電壓測量傳感 器1簡稱為電壓傳感器1。
[0028] 電壓傳感器1對流動于圖3所示的測量對象配線W內的忍線（導線）的角頻率ω的交 流電壓化(測量對象電壓），W與所述忍線不接觸的方式進行測量。雖然沒有圖示，但測量對 象配線W被絕緣包覆，測量對象配線W的忍線的周圍由絕緣性物質包覆。
[0029] 如圖1所示，電壓傳感器1具有檢測探頭11及電路基板15。檢測探頭11和電路基板 15通過連接線化電連接。檢測探頭11配置在基板16的背面上。另一方面，電路基板15配置在 相同基板16的表面上。基板16由柔性絕緣構件形成。
[0030] 在電路基板15內形成有電路EC。連接線化及電路基板15W不裸露的方式由聚酷亞 胺的片來層壓(未圖示）。
[0031] 如圖1所示，電壓傳感器1的表面呈矩形。電壓傳感器1的表面的短邊(沿圖1的縱向 延伸的邊）的長度為例如10mm~20mm。此外，雖然與電壓傳感器1的短邊相比較的長邊(沿圖 1的橫向延伸的邊)的實際長度優選為比測量對象配線W的外周長，但不限于此。
[0032] 如圖2所示，在與電壓傳感器1的表面的長邊垂直的截面中，檢測探頭11W及配置 有檢測探頭11的基板16的部分W凹陷的形狀彎曲。在圖1及圖2中，檢測探頭11的彎曲（槽） 用附圖標記C來表示。
[0033] 如圖3所示，電路EC包括電容器Cl及C2、檢測電阻R、切換開關13 W及運算放大器14。 通過電場護罩12來覆蓋檢測探頭11及電路EC的周圍。電容器Cl及C2的靜電容量值都是已知 的（分別為 47pF、470pF)。
[0034] (1.檢測探頭11)
[0035] 檢測探頭11由板狀的彈黃(銅板黃)形成，所述彈黃由銅制成。
[0036] 如圖3所示，當檢測探頭11與包覆測量對象配線W的忍線的絕緣性物質接觸或者足 夠接近時，在檢測探頭11與所述忍線之間產生具有未知的靜電容量值的禪合電容Cl。
[0037] 如圖1所示，張力T向相對檢測探頭11的長度方向（圖1中的橫向）傾斜的方向（箭頭 所示的方向）作用于構成檢測探頭11的板黃的表面上。
[0038] 如圖2所示，檢測探頭11借助板黃的張力T，具有彈性變形為向張力T作用的方向卷 曲的形狀的特性。當檢測探頭11變形時，配置有檢測探頭11的基板16的部分也與檢測探頭 11 一同變形。
[0039] 檢測探頭11可W處于形狀不同的兩種狀態。檢測探頭11的第一狀態是，如圖2的實 線所示，檢測探頭11具有彎曲C且彎曲為溜槽狀的狀態。彎曲C發揮W下作用，通過使與檢測 探頭11的長度方向垂直的截面中的檢測探頭11的截面慣性矩變大，來抑制檢測探頭11卷 曲。因此，當檢測探頭11處于第一狀態時，保持向長度方向延伸的狀態。
[0040] 檢測探頭11的第二狀態是，如圖2的虛線所示，消除彎曲C，W向張力T的方向卷曲 的狀態。當從電壓傳感器1的表面側或者背面側向第一狀態的檢測探頭11施加外力時，彎曲 C被消除。此外，施加于檢測探頭11的外力可W是用戶施加的力，也可W是當檢測探頭11與 測量對象配線W接觸時從所述配線W受到的阻力。當彎曲C被消除時，檢測探頭11借助張力T 向張力T作用的方向卷曲。
[0041] 運樣一來，檢測探頭11從具有彎曲C的第一狀態轉變為彎曲C被消除且向張力T的 方向卷曲的第二狀態。
[0042] 其中，"彎曲C被消除"的狀態除了彎曲C完全被消除的狀態W外，還包括彎曲C部分 被消除W達到檢測探頭11能夠借助張力τ卷曲的程度的狀態。
[0043] 當檢測探頭11 一邊與測量對象配線W的外表面接觸，一邊從第一狀態轉變為第二 狀態時，W纏繞于測量對象配線W的方式卷曲。例如，如圖1所示，在張力Τ作用的方向與檢測 探頭11的長度方向不平行的情況下，檢測探頭11 W螺旋狀纏繞于測量對象配線w(參照圖 7)。另外，當張力T作用的方向與檢測探頭11的長度方向平行時，檢測探頭11W環狀纏繞于 測量對象配線W。
[0044] 當檢測探頭11纏繞于測量對象配線W的周圍時，在檢測探頭11與測量對象配線W之 間產生禪合電容Cl(參照圖3)。此時，在測量對象配線W內的忍線上流動的交流電壓化使檢測 探頭11內的電荷上引起靜電感應。由此，在檢測探頭11上產生依賴于電壓化及禪合電容Cl的 電壓Vin(感應電壓）。電壓Vin經過連接線化輸入至電路EC。
[0045] 此外，第二狀態的檢測探頭11通過從兩端側被施加拉力W消除卷曲，從而能夠返 回到第一狀態。
[0046] 此外，檢測探頭11除了通過有無彎曲C來伸縮（即，在第一狀態和第二狀態之間變 形)的結構，還可W具有通過空氣的壓力來伸縮的結構。在該結構中，如"吹卷"的玩具那樣， 檢測探頭11可通過使檢測探頭11內的空氣的壓力增大，來保持向長度方向延伸的第一狀 態，通過使空氣的壓力減少，來變形為第二狀態。
[0047] W下，對檢測探頭11的制作方法進行說明。首先，用戶準備作為檢測探頭11的材料 的銅制的板黃(銅板黃）。
[004引圖4示意性地示出具有作用于表面的上下方向上的張力T的銅板黃CP。銅板黃CP具 有要向張力T的方向卷曲的特性。換言之，銅板黃CP的原始（自然的）形狀是向張力T的方向 卷曲的形狀。如圖4所示，用戶從銅板黃CP切出具有與張力T的方向不平行的長邊的矩形的 板黃FS。然后，使板黃FSW向長度方向延伸的溜槽狀彎曲。由此，完成圖1及圖2所示的檢測 探頭11。
[0049] 此外，檢測探頭11也可電壓傳感器1能夠測量測量對象配線W的忍線露出部分 的電壓化的方式，被絕緣構件包覆。在該結構中，用戶通過使包覆檢測探頭11的絕緣構件與 露出的忍線接觸，能夠使檢測探頭11W不接觸的方式接近忍線。在該結構中，至少檢測探頭 11的電極可W由板黃構成。
[0050] 另外，作為檢測探頭11的材料，除了采用銅制的板黃，還可W采用不誘鋼制的板 黃。不誘鋼制的板黃與銅制的板黃相比，具有要返回到原始形狀的力強的特性。
[0051] 此外，檢測探頭11也可W不是板狀，棒狀或金屬絲狀的檢測探頭也包含在本發明 的范圍內。
[0052] (2.電場護罩12)
[0053] 電場護罩12通過遮斷從外界向檢測探頭11或者電路EC入射的電場，來防止檢測探 頭11或者電路EC與測量對象配線W的忍線W外的電壓源之間電容禪合。此外，在圖3中，電場 護罩12僅覆蓋了電路EC的一部分，但是也可W覆蓋整個電路EC。
[0054] 如圖3所示，在檢測探頭11和電場護罩12之間產生寄生電容Cp。寄生電容Cp的靜電 容量值由檢測探頭11與電場護罩12之間的位置關系來確定。在確定檢測探頭11的位置W及 電場護罩12的位置之后，通過校準來求出寄生電容Cp，從而變成已知的值。
[0055] (3.切換開關13)
[0056] 切換開關13使電路EC在W下兩個狀態之間切換，即，（i)電容器Cl在禪合電容Cl與 檢測電阻R之間直接連接的（i)狀態和（ii)電容器Cl及電容器C2在禪合電容Cl和檢測電阻R 之間直接連接的（ii)狀態。
[0057] 當電路EC處于（i)狀態時，檢測探頭11與檢測電阻R之間的電阻抗為l/jwCi。另一 方面，當電路EC處于（ii)狀態時，檢測探頭11與檢測電阻R之間的電阻抗為l/jwC/2。其中， C/2 = Cl+C2。
[005引當電路EC處于（i)狀態時，輸入到電路EC的電壓Vin在檢測電阻R和電容器Cl之間 分壓。另一方面，當電路EC處于（ii)狀態時，電壓化在檢測電阻R和電容器Cl及C2之間分壓。
[0059] 就電路EC處于（i)狀態時W及（ii)狀態時的各狀態而言，在設置于電路EC內的檢 巧1點〇口上檢測出電壓Vout(分別為Voutl、Vout2)。由此，得到包含將禪合電容Cl及電壓化作 為未知數的兩個式。
[0060] 此外，在本實施方式中，檢測點DP設置在電容器Cl及C2與檢測電阻R之間。因此，檢 巧帖胖是隔著基準電位點(GND)與檢測電阻R的相反一側相同的電位。因此，電壓Vout等同 于檢測電阻R的分壓。
[0061] 可通過將上述兩個式W使禪合電容Cl及電壓化分離的方式變形，來導出禪合電容 Cl及電壓化。運種導出方法是眾所周知的，因此，在此省略其導出方法的詳細說明。
[006。（補充）
[0063] 禪合電容Cl的絕對值越大，電壓化的誤差越小。W下，從理論的角度，對所述理由進 行說明。
[0064] 在圖3所示的電路EC中，電壓化由W下的數式表示。
[0065] 【數式1】
[006引其中，將電路EC處于（i)狀態時向AD轉換器（圖3的AD+)輸出的電流定義為11，將電 壓定義為Voutl，將電路EC處于（ii)狀態時向AD轉換器輸出的電流定義為12,將電壓定義為 Vout2。另外，電容器C2的靜電容量值比電容器C1的靜電容量值充分大(C1<<C2)。
[0069] 若將式(2)代入到式(1)，則得到
[0070] 【數式2】
[0071]
[00巧因此，得到
[0073] 【數式3】
[0074]
[007引【數式4】
[0085]圖5是示出電壓化的絕對值的2次微分d|化IVdCL與禪合電容Cl之間的關系的圖表。 從圖5所示的圖表可知，禪合電容Cl的靜電容量值越大，d I Vl I ^dCL的變動越小。由此可知， 從理論上可W導出，禪合電容Cl的靜電容量值越大，化的測量值的變動及誤差越小。
[00化](4.運算放大器14)
[0087]運算放大器14維持檢測點DP的電位和電場護罩12的電位相等的狀態。因此，在檢 測點DP和電場護罩12之間產生的寄生電容Cp(靜電容量值;5pF左右）中幾乎沒有漏電流。換 言之，運算放大器14將在寄生電容Cp流動的漏電流阻止在能夠無視程度的大小。由此，可W 抑制流動在寄生電容Cp的漏電流對電壓化的測量值的影響。
[008引（利用非接觸電壓測量傳感器1的電壓測量方法）
[0089] W下，對利用電壓傳感器1的電壓測量方法進行說明。
[0090] 首先，用戶通過按壓檢測探頭11的一部分來消除彎曲C。并且，用戶保持檢測探頭 11的兩端側，W維持檢測探頭11不卷曲且向長度方向延伸的狀態。圖6示出了彎曲C被消除 而向長度方向延伸狀態的檢測探頭11。
[0091] 然后，用戶W按壓檢測探頭11的一部分的狀態使檢測探頭11接近測量對象配線W。 運時，用戶W使作用于檢測探頭11的張力T的方向和測量對象配線W的周向平行的方式，在 使測量對象配線W的長度方向和檢測探頭11的長度方向交叉的狀態下，使檢測探頭11接近 測量對象配線W。
[0092] 當檢測探頭11充分接近測量對象配線W時，用戶的手離開檢測探頭11。由此，檢測 探頭11通過向張力T作用的方向卷曲，自動地W螺旋狀纏繞在測量對象配線W的周圍。圖7示 出了檢測探頭11W螺旋狀纏繞在測量對象配線W的周圍的例子。
[0093] 此外，檢測探頭11可不受測量對象配線W的直徑的大小的影響的方式纏繞在 所述配線W上。
[0094] 在檢測探頭11在測量對象配線w的周圍纏繞η圈的情況下，禪合電容Cl表示為W下 的數式。
[0095] 【數式8】
[0096] Cl =化e〇L/log(a/b) Xm
[0097] 其中，將測量對象配線w內的忍線（圓筒形）的半徑定義為a,絕緣包覆（中空圓筒 形）的厚度定義為b，檢測探頭11的短邊(參照圖6)的長度定義為L，真空的介電常數定義為 ε〇〇
[0098] 從上述的數式可知，檢測探頭11纏繞在測量對象配線W上的圈數m越多，配線W內的 忍線和檢測探頭11之間產生的禪合電容Cl越大。例如，檢測探頭11纏繞在測量對象配線W的 周圍2圈的結構與纏繞1/2圈的結構相比，禪合電容Cl的絕對值變成4倍。如上所述，禪合電 容Cl的絕對值越大，電壓化的誤差越小。
[0099] 另外，禪合電容Cl越大，電壓Vout也越大。電壓Vout越大，占據電壓Vout的檢測值 的誤差的比例越小，因此，大的電壓Vout變動小，且可靠性高。因此，利用大的電壓Vout，能 夠高精度地導出電壓化。
[0100] 本發明不限于上述的實施方式，在權利要求書所示的范圍內可W進行各種變更。
[0101] 【總結】
[0102] 本發明的一個實施方式的非接觸電壓測量裝置，具有在纏繞于導線的狀態下檢測 電壓的檢測探頭，當使所述檢測探頭W不接觸的方式接近所述導線W使在所述檢測探頭和 所述導線之間產生禪合電容時，基于在所述檢測探頭上產生的感應電壓，來測量施加于所 述導線的測量對象電壓，所述檢測探頭在W下兩種狀態之間彈性變形，即，違背作用于所述 檢測探頭的張力向所述檢測探頭的長度方向延伸的第一狀態和向所述張力作用的方向卷 曲的第二狀態。
[0103] 根據所述結構，檢測探頭在W下兩種狀態之間彈性變形，即，向張力作用的方向卷 曲的第二狀態和違背所述張力來延伸的第一狀態。因此，檢測探頭W導線的周向與張力的 作用方向平行的方式來與導線接觸，在該接觸狀態下，在所述檢測探頭從第一狀態彈性變 形為第二狀態的情況下，通過向張力作用的方向卷曲，從而纏繞在導線的周圍。
[0104] 因此，為了在檢測探頭和導線之間產生禪合電容，而不需要將檢測探頭纏繞在導 線的周圍的手動操作。因此，能夠減少因手動操作的耗時及耗力。而且，當用戶將非接觸電 壓檢測裝置安裝在導線上時，不與所述導線接觸，因此，不存在被電擊的可能性，從而能夠 安全地將非接觸電壓檢測裝置安裝在導線上。
[0105] 而且，通過檢測探頭纏繞在導線的周圍，使得檢測探頭和導線之間產生的禪合電 容增大，因此，能夠更加精確地測量施加于導線的測量對象電壓。
[0106] 另外，在所述非接觸電壓測量裝置中，所述檢測探頭由板黃構成，在處于所述第一 狀態時，若施加外力，則向所述板黃的張力作用的方向卷曲，從而轉變為所述第二狀態。
[0107] 根據所述結構，當違背張力而延伸的第一狀態的檢測探頭受到外力時，向板黃的 張力作用的方向卷曲，從而轉變為第二狀態。因此，檢測探頭W使導線的周向和張力的作用 方向平行的方式來與導線接觸，在該接觸狀態，在施加外力的情況下，所述檢測探頭向張力 作用的方向卷曲，從而纏繞在導線的周圍。
[0108] 例如，在板黃的張力作用的方向與檢測探頭的長度方向平行的情況下，檢測探頭 w環狀纏繞在導線的周圍。另外，在板黃的張力作用的方向相對于檢測探頭的長度方向傾 斜的情況下，檢測探頭W螺旋狀纏繞在導線的周圍。
[0109] 因此，如上所述，不需要將檢測探頭纏繞在導線的周圍的手動操作。因此，能夠減 少因手動操作的耗時W及耗力。而且，當用戶將非接觸電壓檢測裝置安裝在導線上時，不與 所述導線接觸，因此，不存在被電擊的可能性，從而能夠安全地將非接觸電壓檢測裝置安裝 在導線上。
[0110] 另外，在所述非接觸電壓測量裝置中，所述張力作用的方向也可W相對于所述檢 測探頭的所述長度方向傾斜。
[0111] 根據所述結構，當導線的周向與張力作用的方向平行時，檢測探頭的長度方向相 對于導線的周向及長度不平行。在檢測探頭的長度方向相對于導線的長度方向不平行的狀 態下，當檢測探頭的至少一部分與導線接觸時，檢測探頭借助板黃的張力，W螺旋狀纏繞在 導線的周圍。
[0112] 因此，檢測探頭能夠W螺旋狀在導線的周圍纏繞1圈W上。通過檢測探頭W螺旋狀 纏繞在導線的周圍的纏繞圈數增加，能夠使檢測探頭和導線之間產生的禪合電容增大。其 結果，能夠高精度地測量測量對象電壓。
[0113] 另外，在所述非接觸電壓測量裝置中，所述檢測探頭處于所述第一狀態時，也可W 具有向所述檢測探頭的所述長度方向延伸的溜槽狀的彎曲。
[0114] 根據所述結構，處于第一狀態的檢測探頭具有向長度方向延伸的溜槽狀的彎曲， 因此，與彎曲的延伸方向垂直的截面中的截面慣性矩大。因此，處于第一狀態的檢測探頭難 W沿長度方向卷曲。因此，檢測探頭能夠保持沿長度方向延伸的狀態。
[0115] 當向處于第一狀態的檢測探頭施加外力時，具體而言，當用戶按壓檢測探頭的一 部分時，檢測探頭的彎曲被消除。于是，如上所述，檢測探頭借助板黃的張力變形為第二狀 態，并纏繞在導線的周圍。
[0116] 產業上的可利用性
[0117] 本發明能夠應用于W與所述導線不接觸的方式測量施加于導線的電壓的非接觸 電壓測量裝置。
[0118] 附圖標記的說明：
[0119] 1非接觸電壓測量傳感器(非接觸電壓測量裝置）
[0120] 11檢測探頭
[0121] W巧慢對象配線（的忍線；導線）
[0122] Vin電壓(感應電壓）
[0123] 化電壓(測量對象電壓）
[0124] Cl禪合電容
[0125] T 張力
【主權項】
1. 一種非接觸電壓測量裝置，具有在纏繞于導線的狀態下檢測電壓的檢測探頭，當使 所述檢測探頭以不接觸的方式接近所述導線以使在所述檢測探頭和所述導線之間產生耦 合電容時，基于在所述檢測探頭上產生的感應電壓，來測量施加于所述導線的測量對象電 壓，所述非接觸電壓測量裝置的特征在于， 所述檢測探頭在以下兩種狀態之間彈性變形，即，違背作用于所述檢測探頭的張力向 所述檢測探頭的長度方向延伸的第一狀態和向所述張力作用的方向卷曲的第二狀態。2. 根據權利要求1所述的非接觸電壓測量裝置，其特征在于， 所述檢測探頭由板簧構成，當處于所述第一狀態時，若施加外力，則向所述板簧的張力 作用的方向卷曲，從而變形為所述第二狀態。3. 根據權利要求1或2所述的非接觸電壓測量裝置，其特征在于， 所述張力作用的方向相對于所述檢測探頭的所述長度方向傾斜。4. 根據權利要求1至3中任一項所述的非接觸電壓測量裝置，其特征在于， 當所述檢測探頭處于所述第一狀態時，所述檢測探頭具有向所述檢測探頭的所述長度 方向延伸的溜槽狀的彎曲。
【文檔編號】G01R15/04GK105829897SQ201580003206
【公開日】2016年8月3日
【申請日】2015年1月16日
【發明人】荻本真央
【申請人】歐姆龍株式會社