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瞬變電磁數據小波數據的圓滑處理方法

文檔序號:9349074閱讀:417來源:國知(zhi)局
瞬變電磁數據小波數據的圓滑處理方法
【技術領域】
[0001] 本發明屬于地球物理勘探技術領域,涉及一種瞬變電磁數據小波數據的圓滑處理 方法。
【背景技術】
[0002] 瞬變電磁原始數據的圓滑處理,往往使用人為手工進行后期校正,這樣由于一些 復雜的原因,使瞬變電磁原始數據在數據處理中可能出現更大的誤差,產生多解性問題。在 這種情況下,數據處理工作者關心的瞬變電磁原始數據的圓滑質量得不到較好的效果,因 此,需要研究突出異常的解決辦法。

【發明內容】

[0003] 有鑒于此,本發明的主要目的在于提供一種瞬變電磁數據小波數據的圓滑處理方 法。
[0004] 為達到上述目的,本發明的技術方案是這樣實現的:
[0005] 本發明實施例提供一種瞬變電磁數據小波數據的圓滑處理方法,該方法為:對原 始瞬變電磁數據進行線性插值,對所述線性插值后獲得的數據進行分解并且確定每個測點 在不同測道的斜率,當任意一個測點的斜率的方差值小于等于5時,根據數值定義校正系 數對該測點的原始瞬變電磁數據進行圓滑調節。
[0006] 上述方案中,所述對原始瞬變電磁數據進行線性插值,具體為:對原始瞬變電磁數 據沿X、Y方向按克里格網絡插值法插值,插值后得到X、Y方向上需要進行計算的若干條測 線數據。
[0007] 上述方案中,所述對所述線性插值后獲得的數據進行分解并且確定每個測點在不 同測道的斜率,具體為:對線性插值后的數據進行小波基分解,分解后得到該數據的雙對數 坐標下的曲線值,計算分解后的每個數據不同測道的斜率;
[0008] 沿某一選擇方向(如X方向或Y方向,二者選擇一個即可)對第i條測線數據采
算衰減曲線在每個測點不同測道的斜率。
[0009] 上述方案中,所述當任意一個測點的斜率的方差值小于等于5時,根據數值定義 校正系數對該測點的原始瞬變電磁數據進行圓滑調節,具體為:計算出各測點斜率的平
測點的斜率的方差值小于等于5時,則該測點的方差值沒有超限,根據數值定義校正系數 對該測點的原始瞬變電磁數據進行圓滑調節;反之,當任意一個測點的斜率的方差值大于 5時,則該測點的方差值超限,更換測點進行計算。
[0010] 上述方案中,所述數值定義校正系數分為第一數值定義校正系數和第二數值定義 校正系數;當前時間道時間與前一道時間差值平方的倒數的第一數值定義校正系數,記為 r 1;當前時間道時間與后一道時間差值平方的倒數的第二數值定義校正系數,記為r2,通過
[0011] 與現有技術相比,本發明的有益效果:
[0012] 本發明能夠通過用小波變換方法將瞬變電磁原始數據進行計算,通過小波計算這 種數學計算方法對數據進行圓滑,達到消除人為因素的影響,突出數據原有基本特征的目 的。
【附圖說明】
[0013] 圖1為本發明實施例提供一種瞬變電磁數據小波數據的圓滑處理方法的總流程 圖;
[0014] 圖2為瞬變電磁圓滑前數據曲線;
[0015] 圖3為瞬變電磁圓滑后數據曲線;
[0016] 圖4為瞬變電磁數據圓滑前成果圖;
[0017] 圖5為瞬變電磁數據圓滑后成果圖。
【具體實施方式】
[0018] 下面結合附圖和【具體實施方式】對本發明進行詳細說明。
[0019] 本發明實施例提供一種瞬變電磁數據小波數據的圓滑處理方法,該方法為:對原 始瞬變電磁數據進行線性插值,對所述線性插值后獲得的數據進行分解并且確定每個測點 在不同測道的斜率,當任意一個測點的斜率的方差值小于等于5時,根據數值定義校正系 數對該測點的原始瞬變電磁數據進行圓滑調節。
[0020] 所述對原始瞬變電磁數據進行線性插值,具體為:對原始瞬變電磁數據沿X、Y方 向按克里格網絡插值法插值,插值后得到X、Y方向上需要進行計算的若干條測線數據。
[0021] 所述對所述線性插值后獲得的數據進行分解并且確定每個測點在不同測道的斜 率,具體為:對線性插值后的數據進行小波基分解,分解后得到該數據的雙對數坐標下的曲 線值,計算分解后的每個數據不同測道的斜率;
[0022] 沿某一選擇方向(如X方向或Y方向,二者選擇一個即可)對第i條測線數據采
算衰減曲線在每個測點不同測道的斜率。
[0023] 所述當任意一個測點的斜率的方差值小于等于5時,根據數值定義校正系數對該
其中S2為方差值,X i為斜率值,n為需要計算的斜率的個數;當任意一個測點的斜率的方差 值小于等于5時,則該測點的方差值沒有超限,根據數值定義校正系數對該測點的原始瞬 變電磁數據進行圓滑調節;反之,當任意一個測點的斜率的方差值大于5時,則該測點的方 差值超限,更換測點進行計算。
[0024] 所述數值定義校正系數分為第一數值定義校正系數和第二數值定義校正系數;當 前時間道時間與前一道時間差值平方的倒數的第一數值定義校正系數,記為r 1;當前時間 道時間與后一道時間差值平方的倒數的第二數值定義校正系數,記為r2,通過 ri、r2與它們
[0025] 實施例:
[0026] 本發明實施例提供一種瞬變電磁數據小波數據的圓滑處理方法,如圖1所示,實 現步驟為:
[0027] (1)對數據沿X、Y方向按克里格網絡插值法插值;
[0028] (2)沿選擇方向(如X方向)對第i條測線數據(網格插值后數據)采用小波基
壓值,t為時間)計算衰減曲線在每個測點不同測道的斜率;
的斜率的個數。
[0031] (5)判斷各點方差是否超限,如果超限,更換測點進行計算,方差值要求為< 5的 數值,以此作為圓滑的標準;
[0032] (6)給出兩個校正系數ri (當前時間道時間與前一道時間差值平方的倒數)和 r2(當前時間道時間與與后一道時間差值平方的倒數),通過這兩個系數與它們和的比值,
[0034] (8)通過測線上測點數是否為最大判斷是否對該方向所有測線均完成以上步驟, 如沒有,更換測線,重復步驟(1) 一(7);
[0035] (9)通過(7)計算得到的衰減電壓值繪圖,得到最終結果。
[0036] 下面以實測數據為例說明本發明效果:
[0037] 從圖2和圖3可以看出,由于一些復雜的地質原因,使圖2上的瞬變電磁原始采集 數據干擾很大,難以對數據進行分析處理,該干擾影響了對數據的正確認識和后期處理。經 過小波變換曲線圓滑后,圖3反映出的圓滑后瞬變電磁曲線單調衰減,曲線圓滑,這與常規 瞬變電磁曲線,以及相鄰點數據曲線匹配較好。
[0038] 從圖4和圖5對比可以看出,經過小波變換曲線圓滑后,圖5反映出的圓滑后瞬變 電磁成果圖曲線圓滑,這與常規瞬變電磁成果匹配較好。說明該方法使用是正確且有效的。 經過計算后與實際巷道異常位置吻合很好。
[0039] 以上所述,僅為本發明的較佳實施例而已,并非用于限定本發明的保護范圍。
【主權項】
1. 一種瞬變電磁數據小波數據的圓滑處理方法,其特征在于,該方法為:對原始瞬變 電磁數據進行線性插值,對所述線性插值后獲得的數據進行分解并且確定每個測點在不同 測道的斜率,當任意一個測點的斜率的方差值小于等于5時,根據數值定義校正系數對該 測點的原始瞬變電磁數據進行圓滑調節。2. 根據權利要求1所述的瞬變電磁數據小波數據的圓滑處理方法,其特征在于,所述 對原始瞬變電磁數據進行線性插值,具體為:對原始瞬變電磁數據沿X、Y方向按克里格網 絡插值法插值,插值后得到X、Y方向上需要進行計算的若干條測線數據。3. 根據權利要求1或2所述的瞬變電磁數據小波數據的圓滑處理方法,其特征在于,所 述對所述線性插值后獲得的數據進行分解并且確定每個測點在不同測道的斜率,具體為: 對線性插值后的數據進行小波基分解,分解后得到該數據的雙對數坐標下的曲線值,計算 分解后的每個數據不同測道的斜率; 沿某一選擇方向(如X方向或Y方向,二者選擇一個即可)對第i條測線數據采用小 波基進行分解,分解方法為'其中Φ (t)為分解后結果,t為時間;在雙對數 坐標中,首先通過公式,kS斜率,U為每個測點衰減電壓值,t為時間;計算衰 減曲線在每個測點不同測道的斜率。4. 根據權利要求3所述的瞬變電磁數據小波數據的圓滑處理方法,其特征在于,所述 當任意一個測點的斜率的方差值小于等于5時,根據數值定義校正系數對該測點的原始瞬 變電磁數據進行圓滑調節,具體為:計算出各測點斜率的平均值其中X1為斜率 值,η為需要計算的斜率的個數,計算出各點斜率的方差值其中S2為方差 值,Χι為斜率值,η為需要計算的斜率的個數;當任意一個測點的斜率的方差值小于等于5 時,則該測點的方差值沒有超限,根據數值定義校正系數對該測點的原始瞬變電磁數據進 行圓滑調節;反之,當任意一個測點的斜率的方差值大于5時,則該測點的方差值超限,更 換測點進行計算。5. 根據權利要求4所述的瞬變電磁數據小波數據的圓滑處理方法,其特征在于:所述 數值定義校正系數分為第一數值定義校正系數和第二數值定義校正系數;當前時間道時間 與前一道時間差值平方的倒數的第一數值定義校正系數,記為r 1;當前時間道時間與后一 道時間差值平方的倒數的第二數值定義校正系數,記為r2,通過^、^與它們和的比值,即?進行圓滑調節。
【專利摘要】本發明公開了一種瞬變電磁數據小波數據的圓滑處理方法,該方法為:對原始瞬變電磁數據進行線性插值,對所述線性插值后獲得的數據進行分解并且確定每個測點在不同測道的斜率,當任意一個測點的斜率的方差值小于等于5時,根據數值定義校正系數對該測點的原始瞬變電磁數據進行圓滑調節。本發明能夠通過用小波變換方法將瞬變電磁原始數據進行計算,通過小波計算這種數學計算方法對數據進行圓滑,達到消除人為因素的影響,突出數據原有基本特征的目的。
【IPC分類】G01V3/38
【公開號】CN105068129
【申請號】CN201510390409
【發明人】張軍
【申請人】中煤科工集團西安研究院有限公司
【公開日】2015年11月18日
【申請日】2015年7月6日
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