專利名稱：熔斷器分斷能力測量儀的制作方法
技術領域：
一種專用測量儀器，特別是用于檢測小型熔斷器電參數分斷能力的測量儀。
目前，國內檢測熔斷器分斷能力參數是采用低壓交流電源，有的采用直流100V電源。這兩種檢測手段均不符合國際規范標準。國外文獻，對采用可控硅電子開關做分斷能力測試儀未曾有過報道，蘇聯專利502416是采用機械凸輪裝置。
本實用新型的目的是改變傳統的用直流檢測的手段，提供一種符合國際標準的檢測熔斷器分斷能力的儀器。
本實用新型的方案是采用可控硅做電子開關，采用可靠的觸發電路，使其在正向30°導通，本實用新型的誤差為±1°，熔斷器分斷后保持30秒。如果使每個正半波都在30°導通，或者正負半波都在30°導通是容易辦到的，本實用新型的關鍵是在正向30°導通后，輸出連續的不間斷的正弦波。


圖1為本實用新型的組成框圖。其中①是主回路部分；②是保證電路系統；③是觸發記憶電路部分；④是延時控制部分；⑤表示虛線框內②、③、④共同組成控制電路部分。
圖2是主回路電路原理。輸入端接250V50Hz交流電源，R1是限流電阻，BT1是雙向可控硅，在這里做電子開關，⑤是BT1的觸發控制電路。a、b是熔斷器測試端。R2與a、b測試端并聯，串聯在BT1主回路中，起端電壓保持作用。當被測熔斷器分斷后，由于R2的存在維持BT1繼續導通。因為R2阻值足夠大，回路電流較小，故電阻兩端的電壓近似等于電源電壓。
下面詳細敘述控制電路的最佳方案。
為了確保每次啟動都在正向30°輸出，專門設計了保證電路系統。保證電路系統由光耦合器N1(G0121)、雙單穩集成電路CD1(T1123)、繼電器J1組成，見圖3。K1是啟動開關，N1與K1、D1、R3串聯，通過R1接到測試電源兩端，即A、C端。按下K1，二極管D1將正弦波整流為正向半波，將此半波電流通過R3限流電阻引入光耦合器N1，N1輸出相應的方波。這個方波加到集成電路CD1輸入端，調整R5、C1、R6、C2使雙單穩電路的輸出波形在兩個半波中間位置。此波形加到三極管BG1基極，BG1導通，繼電器J1吸合，繼電器J1的常開接點是30°角觸發回路的開關，J1吸合將觸發電路接通。
圖4是觸發記憶系統原理。由可控硅BT2組成30°角觸發電路，BT2與J1、D3、R8、N2(G0121)串聯，接到A、C端。由可控硅BT8和繼電器J2串聯組成記憶電路，由可控硅BT4和可控硅BT5復合組成推動電路，控制主回路BT1。J1吸合后，正向半波通過D3、R8、W1、C2、D4定時網絡，使可控硅BT2在30°時導通。導通電壓經R2加入光耦合器N2輸入端，此時N2輸出端產生負跳變，經反相器集成電路CD2(T1006)反相變為正跳變，正跳變信號通過電阻R11加到BT3控制極，BT3即刻導通，繼電器J2隨即吸合，接通了主回路的觸發電路。BT4和BT5組成復合推動級，推動大功率可控硅BT1。這時BT1的負載上，就得到了正向30°起始連續的正弦波電壓。
圖5是延時系統電路原理。延時系統由光耦合器N3(G0121)，反相器集成電路CD3(T1006)、振蕩集成電路CD4(5C702)、與門集成電路CD5(T4022)，繼電器J3組成。二極管D6與電阻R12、光耦合器N3輸入端串聯，跨接在測試夾具兩端，這一部分稱為取樣電路。B、C端呈低電平時，光耦合器N3輸出端保持高電位，經過C5、R14、C6、R15濾波，CD3兩級反相，輸出仍然是高電位，秒振蕩電路CD4停振。當熔斷器分斷后，B、C端呈高電平，經二極管D6整流的半波。通過限流電阻R12加到光耦合器N3輸入端，N3輸出端輸出方波信號，經C5、R14、C6、R15濾波變為低值直流電平，經CD3兩級反相，輸出為“O”V低電位，秒振蕩電路CD4起振，輸出秒信號。CL1和CL2是計數、編碼、釋碼、驅動、顯示五合一電路組件，本電路采用兩位數。當計到“30”時，通過集成電路CD5使計數電路鎖存，同時輸出信號使三級管BG2導通，繼電器J3吸合。J3的常閉觸點將BT3陰極接地構成回路，J3吸合時將BT3開路，迫使導通的BT3截止，于是主回路BT1截止。
本實用新型的優點在于采用了先進的電子器件，實現了30°相位角開啟的準確性和開啟后的連續性，同時也確保了延遲時間的準確性。
權利要求1.一種熔斷器分斷能力測量儀，其特征是A、采用可控硅BT1做電子開關，電阻R2與a、b測試端并聯，串聯在BT1主回路中，B、由光耦合器N1、雙單穩集成電路CD1、繼電器J1組成保證系統。N1與K1、R3串聯，通過R1接到測試電源兩端，即A、C端，C、由可控硅BT2組成觸發電路，BT2與J1、D3、R0、N2串聯，通過R1接到A、C端。由可控硅BT3和繼電器J2串聯組成記憶電路。由可控硅BT4和可控硅BT5復合組成推動電路，控制主回路BT1，D、由光耦合器N3，反相集成電路CD3、振蕩集成電路CD4、與門電路CD3、繼電器J3組成延時控制系統，二極管D6與電阻R12、光耦合器N2輸入端串聯，跨接在測試夾具兩端。
專利摘要一種小型熔斷器分斷能力測量儀，用于檢測熔斷器(保險絲管)電參數分斷能力的專用儀器。本實用新型采用可控硅做電子開關，控制電路具有定相位和定時間的功能。整機輸出信號是起始于正向30°持續30秒連續的正弦波。優點是相位角開啟準確，開啟后連續，延遲時間準確。
文檔編號G01R31/00GK2030327SQ87211090
公開日1989年1月4日 申請日期1987年7月30日 優先權日1987年7月30日
發明者劉玉勝 申請人:遼寧丹東市無線電十八廠