檢查裝置制造方法

文檔序號：6223344閱讀：129來源：國知局

檢查裝置制造方法
【專利摘要】本發明提供一種檢查裝置，能更可靠地將未來有可能變成不滿足關于規定物理量的產品規格的狀態的檢查對象判定為不良品。設置在搬送裝置（3）的測定平臺（ST1、ST2）上來對電阻（2）的電阻值（R）進行測定的測定裝置（4、5）中的測定裝置（4）對本身測定到的一個電阻（2）的電阻值（R）是否包含在基準范圍內進行判定，將該判斷數據D1發送到處理裝置（7），并將該電阻值（R）發送到測定裝置（5）。測定裝置（5）對本身測定到的該一個電阻（2）的電阻值（R）是否包含在基準范圍內進行判定，并將該判斷數據（D1）發送到處理裝置（7），并對從測定裝置（4）接收到的一個電阻（2）的電阻值（R）與本身測定到的該一個電阻（2）的電阻值（R）的差分值（ΔＲ）是否包含在基準差分范圍內進行判定，并將該判斷數據D2發送到處理裝置（7）。處理裝置（7）基于各判斷數據（D1）和判斷數據（D2）來判定電阻（2）的質量。
【專利說明】檢查裝置

【技術領域】
[0001] 本發明涉及基于在不同的時刻對同一檢查對象的同一物理量進行測定而得到的兩個測定值來檢測該檢查對象的質量的檢查裝置。

【背景技術】
[0002] 本發明申請人:已提出了下述專利文獻1所公開的質量判斷裝置作為這種檢查裝置。該質量判斷裝置包括：搬送檢查對象(例如電容器）的帶式輸送機；沿著帶式輸送機對檢查對象的搬送方向而規定的兩個測定平臺（第一測定平臺以及第二測定平臺）上所設置的兩個檢查裝置；以及處理裝置。
[0003] 在該質量判斷裝置中，各檢查裝置依次測定由帶式輸送機搬送并位于各個測定平臺的檢查對象的同一物理量(例如在檢查對象為電容器時為靜電電容值)，并且將測定到的物理量與預先設定的同一判斷用基準值(對質量的范圍進行規定的上限電容值和下限電容值)進行比較，從而對檢查對象的質量進行檢查。各檢查裝置將該檢查的結果輸出到處理裝置。處理裝置輸入并儲存從各檢查裝置輸出的檢查結果，并基于各檢查裝置對同一檢查對象的檢查結果，當各檢查裝置的檢查結果均為良品時，判斷該檢查對象最終為良品，其它情況下（即，各檢查裝置的檢查結果的至少一個為不良品時)，判斷該檢查對象最終為不良品。
[0004] 根據該質量判斷裝置，能對同一檢查對象(一個檢查對象）執行雙重檢查(二次檢查)。現有技術文獻專利文獻
[0005] 專利文獻1 :日本專利特開2011 - 59049號公報（第5-9頁、第1圖）

【發明內容】
發明所要解決的技術問題
[0006] 然而，上述質量判斷裝置中存在如下需要改善的問題。即，在檢查對象中，存在著因檢查裝置測定物理量時施加的測定用信號(例如測定電壓）而引起物理量產生變化的檢查對象。可以認為這種檢查對象是由于制造不良等原因而產生，存在物理量在市場上流通的狀態、或最終由用戶使用的狀態下物理量產生變化的情況（即，物理量在出廠后產生變化的情況)，可能在未來變為不滿足檢查對象應當滿足的對于該物理量的產品規格的狀態。因此，這種檢查對象原本就應判斷為不良品。
[0007] 然而，即使是這種應當判斷為不良品的檢查對象，由于第一個檢查裝置施加測定用信號所引起的物理量的變化程度，會存在第二個檢查裝置所測定到的物理量滿足判斷用基準值的情況。這種情況下，上述質量判斷裝置中，兩個檢查裝置中的對于檢查對象的物理量均滿足判斷用基準值，從而將上述檢查對象判斷為良品。因此，上述質量判斷裝置存在如下需要改善的問題：難以將如下這種檢查對象判斷為不良品，即，在市場上流通的狀態、或在最終由用戶使用的狀態下，物理量有可能會產生變化，從而檢查對象在未來變成不滿足對于該物理量的產品規格的狀態
[0008] 本發明是為了解決上述問題而完成的，其主要目的在于提供一種檢查裝置，能更準確地將在未來有可能變為不滿足對于規定物理量的產品規格的狀態的檢查對象判斷為不良品。解決技術問題所采用的技術方案
[0009] 為實現上述目的，權利要求1所述的檢查裝置執行以下處理：差分值比較處理，該差分值比較處理將以不同時刻對同一檢查對象的同一物理量進行測定得到的兩個測定值之間的差分值與預先規定的基準差分范圍進行比較，并判定該差分值是否包含在該基準差分范圍內；以及判定處理，該判定處理在該差分值包含在該基準差分范圍內時將所述檢查對象判定為良品，并在該差分值未包含在該基準差分范圍內時將所述檢查對象判定為不良品。
[0010] 權利要求2所述的檢查裝置執行以下處理：測定值比較處理，該測定值比較處理將以不同時刻對同一檢查對象的同一物理量進行測定得到的兩個測定值與對每個該測定值預先規定的基準范圍進行比較，并判定該各個測定值是否均包含在該基準范圍內；差分值比較處理，該差分值比較處理將所述兩個測定值之間的差分值與預先規定的基準差分范圍進行比較，并判定該差分值是否包含在該基準差分范圍內；以及判定處理，該判定處理在所述兩個測定值均包含在所述基準范圍內、且所述差分值包含在所述基準差分范圍內時將所述檢查對象判定為良品，在其它情況下將所述檢查對象判定為不良品。
[0011] 權利要求3所述的檢查裝置在權利要求1所述的檢查裝置中，包括FIFO存儲器，該FIFO存儲器依次輸入并存儲對多個所述檢查對象依次測定得到的所述物理量的測定值，并按照存儲的順序將其作為所述兩個測定值的其中一個測定值進行輸出，該檢查裝置執行以下測定處理：與對從所述FIFO存儲器輸出的所述一個測定值進行了測定的所述檢查對象相同的檢查對象的所述物理量依次進行測定，從而作為所述兩個測定值中的另一個測定值獲得。權利要求4所述的檢查裝置在權利要求2所述的檢查裝置中，包括FIFO存儲器，該FIFO存儲器依次輸入并存儲對多個所述檢查對象依次測定得到的所述物理量的測定值，并按照存儲順序將其作為所述兩個測定值的其中一個測定值進行輸出，該檢查裝置執行以下測定處理：與對從所述FIFO存儲器輸出的所述一個測定值進行了測定的所述檢查對象相同的檢查對象的所述物理量依次進行測定，從而作為所述兩個測定值中的另一個測定值獲得。
[0012] 權利要求5所述的檢查裝置包括：搬送裝置，對檢查對象進行搬送；兩個測定裝置，分別設置在沿著所述搬送裝置搬送所述檢查對象的方向而規定的兩個測定平臺上，并執行對搬送到該測定平臺上的所述檢查對象的同一物理量進行測定的測定處理；以及處理裝置，基于由所述兩個測定裝置在不同時刻對同一所述檢查對象測定到的所述物理量的測定值來判定該同一檢查對象的質量，所述兩個測定裝置中的一個測定裝置構成為能執行將其本身測定到的所述物理量的測定值發送給該兩個測定裝置中的另一個測定裝置的發送處理，所述另一個測定裝置構成為能執行以下處理：對從所述一個測定裝置發送來的所述測定值進行接收的接收處理；對所述測定處理中其本身測定到的一個所述檢查對象的所述物理量的測定值、與該接收處理中接收到的所述一個測定裝置測得的該一個檢查對象的所述測定值之間的差分值進行計算的差分值計算處理；以及將該計算出的差分值與預先規定的基準差分范圍進行比較從而判定該差分值是否包含在該基準差分范圍內、并發送給所述處理裝置的差分值比較處理，所述處理裝置執行以下判定處理：在從所述另一個測定裝置接收到的所述差分值比較處理的判定結果為所述差分值包含在所述基準差分范圍內的判定結果時，將所述檢查對象判定為良品，在判定結果為該差分值未包含在該基準差分范圍內的判定結果時，將該檢查對象判定為不良品。
[0013] 權利要求6所述的檢查裝置包括：搬送裝置，對檢查對象進行搬送；兩個測定裝置，分別設置在沿著所述搬送裝置搬送所述檢查對象的方向而規定的兩個測定平臺上，并執行對搬送到該測定平臺上的所述檢查對象的同一物理量進行測定的測定處理；以及處理裝置，基于由所述兩個測定裝置在不同時刻對同一所述檢查對象測定到的所述物理量的測定值來判定該同一檢查對象的質量，所述兩個測定裝置的其中一個測定裝置構成為能執行以下處理：將其本身測定到的一個所述檢查對象的所述物理量的測定值與對該測定值預先規定的基準范圍進行比較、從而判定該測定值是否包含在該基準范圍內、并將判定結果發送給所述處理裝置的測定值比較處理；以及將該測定值發送給所述兩個測定裝置中的另一個測定裝置的發送處理，所述另一個測定裝置構成為能執行以下處理：將其本身測定到的所述一個檢查對象的所述物理量的測定值與對該測定值預先規定的基準范圍進行比較、從而判定該測定值是否包含在該基準范圍內、并將判定結果發送給所述處理裝置的測定值比較處理；對從所述一個測定裝置發送來的所述測定值進行接收的接收處理；對所述本身測定到的所述一個檢查對象的所述物理量的測定值與該接收處理中接收到的所述一個測定裝置對該一個檢查對象測得的所述測定值之間的差分值進行計算的差分值計算處理；以及將該計算出的差分值與預先規定的基準差分范圍進行比較、從而判定該差分值是否包含在該基準差分范圍內、并發送給所述處理裝置的差分值比較處理，所述處理裝置在從所述一個測定裝置接收到的所述測定值比較處理的判定結果為所述測定值包含在所述基準范圍內的判定結果、且從所述另一個測定裝置接收到的所述測定值比較處理的判定結果為所述測定值包含在所述基準范圍的判定結果、且從所述另一個測定裝置接收到的所述差分值比較處理的判定結果為所述差分值包含在所述基準差分范圍內的判定結果時，將所述一個檢查對象判定為良品，并在其它情況下將該一個檢查對象判定為不良品。
[0014] 權利要求7所述的檢查裝置在權利要求6所述的檢查裝置中，所述處理裝置在所述判定處理中連續地將預先規定的個數以上的所述檢查對象判定為不良品時、以及在所述判定處理中判定為不良品的比率達到預先規定的比率以上時的至少一種情況下執行以下判定處理來代替所述判定處理：對于此后的預先規定的個數的所述一個檢測對象，當從所述一個測定裝置接收到的所述測定值比較處理的判定結果為所述測定值未包含在所述基準范圍內的判定結果時、以及從所述另一個測定裝置接收到的所述測定值比較處理的判定結果為所述測定值未包含在所述基準范圍內的判定結果時的至少一種情況下，將該一個檢查對象判定為不良品，并在其它情況下不對該一個檢查對象的質量進行判定。
[0015] 權利要求8所述的檢查裝置在權利要求5所述的檢查裝置中，所述另一個測定裝置包括在所述接收處理中對測定到的所述測定值進行存儲的FIFO存儲器，并在所述差分值計算處理中，從存儲到該FIFO存儲器中的所述一個測定裝置的多個所述測定值中、讀取所述一個檢查對象的所述測定值，并計算所述差分值。權利要求9所述的檢查裝置在權利要求6所述的檢查裝置中，所述另一個測定裝置包括在所述接收處理中對測定到的所述測定值進行存儲的FIFO存儲器，并在所述差分值計算處理中，從存儲到該FIFO存儲器中的所述一個測定裝置的多個所述測定值中、讀取所述一個檢查對象的所述測定值，并計算所述差分值。權利要求10所述的檢查裝置在權利要求7所述的檢查裝置中，所述另一個測定裝置包括在所述接收處理中對測定到的所述測定值進行存儲的FIFO存儲器，并在所述差分值計算處理中，從存儲到該FIFO存儲器中的所述一個測定裝置的多個所述測定值中、讀取所述一個檢查對象的所述測定值，并計算所述差分值。
[0016] 權利要求11所述的檢查裝置在權利要求5所述的檢查裝置中，包括：電壓施加裝置，該電壓施加裝置設置在電壓施加平臺上，并對所述檢查對象施加實驗電壓，其中，該電壓施加平臺規定在沿著所述搬送方向上的所述兩個測定平臺之間。權利要求12所述的檢查裝置在權利要求6所述的檢查裝置中，包括：電壓施加裝置，該電壓施加裝置設置在電壓施加平臺上，并對所述檢查對象施加實驗電壓，其中，該電壓施加平臺規定在沿著所述搬送方向上的所述兩個測定平臺之間。權利要求13所述的檢查裝置在權利要求7所述的檢查裝置中，包括：電壓施加裝置，該電壓施加裝置設置在電壓施加平臺上，并對所述檢查對象施加實驗電壓，其中，該電壓施加平臺規定在沿著所述搬送方向上的所述兩個測定平臺之間。權利要求14所述的檢查裝置在權利要求8所述的檢查裝置中，包括：電壓施加裝置，該電壓施加裝置設置在電壓施加平臺上，并對所述檢查對象施加實驗電壓，其中，該電壓施加平臺規定在沿著所述搬送方向上的所述兩個測定平臺之間。權利要求15所述的檢查裝置在權利要求9所述的檢查裝置中，包括：電壓施加裝置，該電壓施加裝置設置在電壓施加平臺上，并對所述檢查對象施加實驗電壓，其中，該電壓施加平臺規定在沿著所述搬送方向上的所述兩個測定平臺之間。權利要求16所述的檢查裝置在權利要求10所述的檢查裝置中，包括：電壓施加裝置，該電壓施加裝置設置在電壓施加平臺上，并對所述檢查對象施加實驗電壓，其中，該電壓施加平臺規定在沿著所述搬送方向上的所述兩個測定平臺之間。
[0017] 權利要求17所述的檢查裝置在權利要求5所述的檢查裝置中，所述一個測定裝置沿著所述搬送方向設置在所述另一個測定裝置的上游側，并執行對執行了所述測定處理后的所述檢查對象施加實驗電壓的電壓施加處理。權利要求18所述的檢查裝置在權利要求6 所述的檢查裝置中，所述一個測定裝置沿著所述搬送方向設置在所述另一個測定裝置的上游側，并執行對執行了所述測定處理后的所述檢查對象施加實驗電壓的電壓施加處理。權利要求19所述的檢查裝置在權利要求7所述的檢查裝置中，所述一個測定裝置沿著所述搬送方向設置在所述另一個測定裝置的上游側，并執行對執行了所述測定處理后的所述檢查對象施加實驗電壓的電壓施加處理。權利要求20所述的檢查裝置在權利要求8所述的檢查裝置中，所述一個測定裝置沿著所述搬送方向設置在所述另一個測定裝置的上游側，并執行對執行了所述測定處理后的所述檢查對象施加實驗電壓的電壓施加處理。權利要求21 所述的檢查裝置在權利要求9所述的檢查裝置中，所述一個測定裝置沿著所述搬送方向設置在所述另一個測定裝置的上游側，并執行對執行了所述測定處理后的所述檢查對象施加實驗電壓的電壓施加處理。權利要求22所述的檢查裝置在權利要求10所述的檢查裝置中，所述一個測定裝置沿著所述搬送方向設置在所述另一個測定裝置的上游側，并執行對執行了所述測定處理后的所述檢查對象施加實驗電壓的電壓施加處理。
[0018] 權利要求23所述的檢查裝置在權利要求5所述的檢查裝置中，所述另一個測定裝置沿著所述搬送方向設置在所述一個測定裝置的下游側，并執行對執行本身的所述測定處理前的所述檢查對象施加實驗電壓的電壓施加處理。權利要求24所述的檢查裝置在權利要求6所述的檢查裝置中，所述另一個測定裝置沿著所述搬送方向設置在所述一個測定裝置的下游側，并執行對執行本身的所述測定處理前的所述檢查對象施加實驗電壓的電壓施加處理。權利要求25所述的檢查裝置在權利要求7所述的檢查裝置中，所述另一個測定裝置沿著所述搬送方向設置在所述一個測定裝置的下游側，并執行對執行本身的所述測定處理前的所述檢查對象施加實驗電壓的電壓施加處理。權利要求26所述的檢查裝置在權利要求8所述的檢查裝置中，所述另一個測定裝置沿著所述搬送方向設置在所述一個測定裝置的下游側，并執行對執行本身的所述測定處理前的所述檢查對象施加實驗電壓的電壓施加處理。權利要求27所述的檢查裝置在權利要求9所述的檢查裝置中，所述另一個測定裝置沿著所述搬送方向設置在所述一個測定裝置的下游側，并執行對執行本身的所述測定處理前的所述檢查對象施加實驗電壓的電壓施加處理。權利要求28所述的檢查裝置在權利要求10所述的檢查裝置中，所述另一個測定裝置沿著所述搬送方向設置在所述一個測定裝置的下游側，并執行對執行本身的所述測定處理前的所述檢查對象施加實驗電壓的電壓施加處理。
[0019] 權利要求29所述的檢查裝置在權利要求1至28的任一項所述的檢查裝置中，所述處理裝置在所述判定處理中將所述檢查對象判定為良品時，執行將所述兩個測定值的其中一個作為最終測定值進行輸出的輸出處理。發明效果
[0020] 在權利要求1、5所述的檢查裝置中，執行以下處理：將同一檢查對象的兩個測定值之間的差分值與基準差分范圍進行比較從而判定差分值是否包含在基準差分范圍內的差分值比較處理；以及基于該差分值比較處理的判定結果判定檢查對象的質量的判定處理。
[0021] 因此，根據上述檢查裝置，由于使用基于差分值的差分值比較處理的判定結果來判定檢查對象的質量，因此能可靠地將在市場上流通的狀態、或最終由用戶使用的狀態下物理量可能產生變化、從而變成不滿足良品的檢查對象應當滿足的該物理量的產品規格的狀態的檢查對象判定為不良品。
[0022] 在權利要求2、6所述的檢查裝置中，執行以下處理：將同一檢查對象的兩個測定值與基準范圍進行比較、從而判定各測定值是否均包含在基準范圍內的測定值比較處理；將兩個測定值之間的差分值與基準差分范圍進行比較、從而判定差分值是否包含在基準差分范圍內的差分值比較處理；以及基于測定值比較處理的判定結果以及差分值比較處理的判定結果來判定檢查對象的質量的判定處理。
[0023] 因此，根據上述檢查裝置，由于利用使用了基于測定值的測定值比較處理的判定結果的二次檢查的判定結果、以及基于差分值的差分值比較處理的判定結果，來判定檢查對象的質量，因此能可靠地將測定值未包含在基準范圍內的檢查對象判定為不良品，并且對于在市場上流通的狀態、或最終由用戶使用的狀態下物理量可能產生變化、從而變成不滿足良品的檢查對象應當滿足的該物理量的產品規格的狀態的檢查對象，也能可靠地將其判定為不良品。
[0024] 在權利要求3、4所述的檢查裝置中，由于包括依次輸入對多個檢查對象依次測定得到的物理量的測定值、并將其作為兩個測定值的其中一個測定值進行輸出的FIFO存儲器，因此，通過執行本身的測定處理，依次對相同的多個檢查對象的物理量進行測定，將測定得到的測定值用作為兩個測定值中的另一個測定值，從而能基于以不同時刻對同一檢查對象的同一物理量進行測定得到的兩個測定值之間的差分值，來判定檢查對象的質量。此夕卜，由于是具備FIFO存儲器的結構，因此與使用通常的存儲器對一個測定值進行緩存的結構相比，能簡單地構成裝置。
[0025] 在權利要求7所述的檢查裝置中，處理裝置在判定處理中連續地將預先規定的個數以上的檢查對象判定為不良品時、以及在判定處理中判定為不良品的比率達到預先規定的比率以上時的至少一種情況下執行以下判定處理來代替上述判定處理：對于此后預先規定的個數的一個檢查對象，當從一個測定裝置接收到的測定值比較處理的判定結果為測定值未包含在基準范圍內的判定結果時、以及從另一個測定裝置接收到的測定值比較處理的判定結果為測定值未包含在基準范圍內的判定結果時的至少一種情況下，將該一個檢查對象判定為不良品，并在其它情況下不對該一個檢查對象的質量進行判定。
[0026] 因此，根據該檢查裝置，能在例如一個測定裝置對測定值的發送處理、以及另一個測定裝置對測定值的接收處理的至少一方產生問題那樣產生無法在另一個測定裝置中執行正確的差分值比較處理的狀況時，處理裝置執行使用測定值比較處理的判定結果的其它判定處理來代替使用差分值比較處理的判定結果的判定處理，從而能防止不良品流出至市場。
[0027] 在權利要求8到10所述的檢查裝置中，另一個測定裝置包括在接收處理中對測定到的來自一個測定裝置的測定值進行存儲的FIFO存儲器，并在差分值計算處理中，從存儲在FIFO存儲器中的一個測定裝置的多個測定值中、讀取一個檢查對象的測定值，并計算差分值。因此，根據該檢查裝置，與使用通常的存儲器對來自一個測定裝置的測定值進行緩存的結構相比，能簡單地構成另一個測定裝置。
[0028] 在權利要求11至28所述的檢查裝置中，在對執行了第一次測定處理的檢查對象執行第二次測定處理之前，施加實驗電壓。因此，根據上述檢查裝置，能加快檢查對象因施加電壓而引起的物理量的變化程度，由此能增大另一個測定裝置計算出的差分值的值，因此能更可靠地將物理量在未來可能產生變化、從而變成不滿足良品應當滿足的物理量的產品規格的狀態的檢查對象判定為不良品。
[0029] 在權利要求29所述的檢查裝置中，當處理裝置在判定處理中將檢查對象判定為良品時，執行將兩個測定值的其中一方作為最終的測定值進行輸出的輸出處理。因此，根據該檢查裝置，能對檢查對象執行質量的判定，并且對于良品的檢查對象，也能測定其測定值。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0030] 圖1是檢查裝置1的結構圖。圖2是圖1的各測定裝置4、5的結構圖。圖3是用于對電阻值R與基準范圍RA1的關系、以及電阻值R的差分值Λ R與基準差分范圍RA2的關系進行說明的說明圖(差分值Λ R較小的狀態)。圖4是用于對電阻值R與基準范圍RA1的關系、以及電阻值R的差分值Λ R與基準差分范圍RA2的關系進行說明的其它說明圖(差分值Λ R較大的狀態)。圖5是用于說明各測定裝置4、5的動作的說明圖。圖6是用于說明各測定裝置4、5的動作的其它說明圖。圖7是其它檢查裝置1A的結構圖。

【具體實施方式】
[0031] 下面，參照附圖對檢查裝置1的實施方式進行說明。
[0032] 首先，參照附圖，對檢查裝置1的結構進行說明。另外，該例中以如下示例為一個例子進行說明：以作為檢查對象的電子元器件（電阻、電容器、電感器）的其中之一即電阻2 為例，將作為其物理量的電阻值R作為測定值進行測定，并基于測定到的電阻值R來檢查電阻2。
[0033] 如圖1所示，作為一個示例，檢查裝置1包括對電阻2進行搬送的搬送裝置3、多個 (該例中以兩個作為一個例子）測定裝置4、5、分類裝置6、處理裝置7以及輸出裝置8。
[0034] 搬送裝置3例如包括由電動機驅動的帶式輸送機而構成，通過由處理裝置7控制電動機，從而在搬送方向（電阻2的搬送方向（圖1中的空芯箭頭方向））上以一定距離L間歇地對通過未圖示的投入裝置投入到帶式輸送機上的電阻2進行搬送。具體而言，搬送裝置3在每次輸入由處理裝置7以預先規定的一定周期輸出的外部觸發信號Stg時，在一定時間（比外部觸發信號Stg的周期要短的時間）內驅動電動機并使其停止，從而使帶式輸送機上的電阻2搬送距離L并停止(定量搬送)。由此，搬送裝置3經由后述的第一測定平臺 ST1和第二測定平臺ST2將所投入的電阻2搬送到最下游側的排出位置EX (由分類裝置6 把持以進行搬送的位置)。
[0035] 另外，預先將搬送方向上各測定平臺ST1、ST2間的距離、以及測定平臺ST1、ST2中位于下游側的第二測定平臺ST2與排出位置EX之間的距離(或者各測定平臺ST1、ST2與排出位置EX之間的距離）規定為距離L的整數倍、即已知的距離。
[0036] 如圖2所示，作為一個示例，測定裝置4、5例如均包括測定部11、FIFO存儲器（以下也簡稱為"FIF0"）12、控制部13以及存儲部14而構成為相同的結構，執行對電阻2的電阻值R進行測定的測定處理。
[0037] 該例中，一個測定裝置4相對于另一測定裝置5設置于搬送方向上規定在上游側的第一測定平臺ST1上，另一測定裝置5設置在與第一測定平臺ST1隔開距離L的整數倍 (該例中例如為4倍)的下游側的第二測定平臺ST2上。下游側的第二測定平臺ST2到排出位置EX為止的距離規定為距離L的整數倍(該例中例如為2倍)。
[0038] 每當各個測定平臺ST1、ST2上有電阻2搬送過來時，各測定裝置4、5執行測定處理來測定該電阻2的電阻值R。由此，首先由測定裝置4對各電阻2進行第一次電阻值R的測定，接著，在外部觸發信號Stg的四周期后，由測定裝置5來進行第二次電阻值R的測定。此外，例如如圖5所示，各測定裝置4、5在測定處理中對各電阻2賦予序列號，并測定電阻2 的電阻值R (該圖中，為了便于理解發明，例如將序列號1、2、3、...的電阻2的各電阻值標記為"R1"、"R2"、"R3"、. . ·），并將測定到的電阻值R以及后述的各判斷數據Dl、D2與該序列號一起發送給處理裝置7,其中，序列號將最初搬送到各個測定平臺ST1、ST2上的電阻2 設為編號1。利用該結構，各電阻2被各測定裝置4、5賦予了相同的序列號，因此，處理裝置 7能基于該序列號來識別各測定裝置4、5測定到該電阻2的電阻值R以及各判斷數據D1、 D2〇
[0039] 以下對測定裝置4、5的各結構要素進行說明。另外，該檢查裝置1采用上游側的測定裝置4不使用FIF012、僅下游側的測定裝置5使用FIF012的結構，因此以包含FIF012 的所有結構要素進行動作的測定裝置5為例來說明各結構要素。
[0040] 測定部11包括通過未圖示的移動機構來與電阻2的各電極接觸、分離的一對探針 P1、P2,在測定處理中，使各探針P1、P2與位于第二測定平臺ST2上的電阻2接觸來測定電阻值R。
[0041] 在測定該電阻值R時，測定部11通過控制部13控制來執行如下一系列的動作：使移動機構動作來使一對探針P1、P2與電阻2接觸的動作；經由一對探針P1、P2對電阻2施加測定用的電壓信號（例如直流電壓信號)，并經由一對探針PI、P2對此時流過電阻2的電流信號進行測定的動作；基于施加的電壓信號的電壓值與測定到的電流信號的電流值來計算電阻2的電阻值R的動作；以及將計算出的電阻值R輸出到控制部13的動作。
[0042] FIF012是具有預先規定數量的存儲區域、并與外部觸發信號Stg的上升或下降 (該例中例如為上升）同步地進行動作的緩沖存儲器，其與外部觸發信號Stg同步地依次對從測定裝置4輸出的數據Dbf(該例中為測定裝置4所測定到的電阻值R)進行存儲(執行測定裝置5中的接收處理)，并與外部觸發信號Stg同步地將存儲在該存儲區域中的數據Dbf 移動到下一存儲區域中。由此，FIF012使從測定裝置4輸出的數據Dbf延遲與存儲區域的個數相等的外部觸發信號Stg的周期，從首先存儲的數據Dbf開始依次輸出到控制部13。
[0043] 具體而言，FIF012具有與將位于第一測定平臺ST1上的電阻2搬送到第二測定平臺ST2所需的外部觸發信號Stg的周期數(時鐘數）相等數量的存儲區域。該例中，如上所述，由測定裝置4進行了第一次電阻值R的測定的電阻2(即，位于第一測定平臺ST1上的電阻2)在外部觸發信號Stg的四個周期后，由測定裝置5來進行第二次電阻值R的測定（即，搬送到第二測定平臺ST2上)。因此，FIF012在該例中具有四個存儲區域(參照圖5、圖6)。
[0044] 通過該結構，在測定裝置5中，FIF012與由測定裝置4進行了電阻值R的測定的電阻2被搬送裝置3從第一測定平臺ST1搬送到下游側下一位置的外部觸發信號Stg同步地將該電阻值R作為數據Dbf存儲到最初的存儲區域中，并在包含該外部觸發信號Stg在內的外部觸發信號Stg的四個周期后（S卩，該進行了電阻值R的測定的電阻2被搬送到第二測定平臺ST2時)，將該電阻值R移動(轉移）到最終(該例中為第四個）存儲區域中（參照圖 5、圖 6)。
[0045] 控制部13由CPU等構成，根據預先存儲在存儲部14中的動作程序來進行動作，從而能執行以下處理：使測定部11測定電阻值R的控制處理；將測定部11測定到的電阻值R 發送給其它測定裝置的第一發送處理；對測定部11測定到的電阻值R與存儲在存儲部14 中的基準范圍RA1進行比較來判斷該電阻值R是否包含在基準范圍RA1中的測定值比較處理；對由測定部11測定到的電阻值R與從FIF012讀取到的其它測定裝置測到的電阻值R (FIF012的最終(該例中為第四個）存儲區域所存儲的電阻值R)之間的差分值Λ R (兩電阻值R的差分的絕對值)進行計算的差分值計算處理(作為"處理裝置"執行的"差分值計算處理；以及將計算出的差分值Λ R與存儲在存儲部14中的基準差分范圍RA2進行比較來判斷該差分值Λ R是否包含在基準差分范圍RA2內的差分值比較處理。此外，控制部13 還能執行將表示測定值比較處理的判定結果的第一判斷數據D1、表示差分值比較處理的判定結果的第二判斷數據D2、以及電阻值R發送到處理裝置7的第二發送處理。
[0046] 此時，基準范圍RA1是指包含正常的電阻2的電阻值R的范圍（電阻值容許差所表示的范圍)，是以電阻2的標稱電阻值為中心而規定的范圍(例如±0. 1%的范圍。該例中，是以標稱電阻值XI. 001為上限值VU、以標稱電阻值X99. 999為下限值VL的范圍）（參照圖3、圖4)。
[0047] 此外，基準差分范圍RA2表示包含錯開時序(該例中例如隔開外部觸發信號Stg的四個周期的時間(例如幾秒左右)）、由測定裝置4、5分別對正常的電阻2的電阻值R各測定一次、一共兩次時的兩個電阻值R的差分值Δ R的范圍。對于電阻2,若在測定電阻值R時施加測定用信號(例如測定電壓)，則即使該測定用信號的施加時間為幾秒左右的短期間，電阻值R也可能產生變化，如圖3所示，在良品的電阻2中，該變化極小。例如，關于良品的電阻2的差分值Λ R的偏差范圍通常為電阻2的電阻值R本身的上述偏差（以標稱電阻值為中心的電阻值允許差所表示的范圍）的1/10?1/100左右的極小范圍。
[0048] 然而，如圖4所示，在不良品的電阻2中，因施加測定用信號而引起的電阻值R的變化較大，因此上述差分值Λ R超過該范圍（電阻2的電阻值R本身的上述偏差的1/10? 1/100左右的較小范圍)。因此，該例中，將基準差分范圍RA2規定為正常的電阻2的標稱電阻值的±0.02%的范圍，從而包含圖3所示的良品的電阻2的差分值Λ R，但不包含(排除）圖4所示的不良品的電阻2的差分值Λ R。
[0049] 存儲部14由R0M、RAM等半導體存儲器構成，對控制部13所需的動作程序、基準范圍RA1、以及基準差分范圍RA2進行存儲。
[0050] 分類裝置6包括由處理裝置7控制的未圖示的移動機構、良品回收箱6a、以及不良品回收箱6b，通過使移動機構動作，從而使經過各測定平臺ST1、ST2搬送到搬送裝置3的最下游位置的電阻2移動到良品回收箱6a以及不良品回收箱6b中的某一個。
[0051] 處理裝置7由計算機等構成，執行生成一定周期的外部觸發信號Stg并輸出到搬送裝置3、測定裝置4、5以及分類裝置6的觸發輸出處理。此外，處理裝置7還執行如下處理：基于從測定裝置4、5接收到的第一判斷數據D1以及第二判斷數據D2來判斷電阻2的質量的判斷處理；控制分類裝置6,將判斷為良品的電阻2移動到良品回收箱6a，并將判斷為不良品的電阻2移動到不良品回收箱6b的移動處理；以及將判斷處理中判斷為良品的電阻2的電阻值R作為該電阻2的最終測定值，與表示該電阻2的判斷結果的判斷數據D3 - 同輸出到輸出裝置8的輸出處理。
[0052] 輸出裝置8例如由LOXLiquid Crystal Display :液晶顯示器)等顯示裝置構成，在畫面上顯示電阻2的電阻值R及其判斷數據D3。另外，也可以由與外部設備進行數據通信的通信裝置代替顯示裝置來構成輸出裝置8,從而將表示檢查對象質量的判斷結果及其測定值輸出到外部設備。
[0053] 接著，對檢查裝置1的動作進行說明。
[0054] 處理裝置7執行觸發輸出處理，將外部觸發信號Stg輸出到搬送裝置3、第一測定平臺ST1、以及第二測定平臺ST2。由此，搬送裝置3在每次輸入外部觸發信號Stg時，執行使帶式輸送機運動一定的距離L并停止（S卩，對投入到帶式輸送機上的電阻2進行定量搬送）的搬送動作。
[0055] 另一方面，如圖5所示，測定裝置4在每次輸入外部觸發信號Stg時，對通過搬送裝置3搬送到第一測定平臺ST1上的電阻2執行測定處理。該例中，在該測定處理中，測定裝置4的控制部13執行上述控制處理、第一發送處理、測定值比較處理、差分值計算處理、差分值比較處理、以及第二發送處理中的控制處理、第一發送處理、測定值比較處理、以及第二發送處理。
[0056] 具體而言，測定裝置4的控制部13通過執行控制處理來使測定部11測定第一測定平臺ST1上的電阻2的電阻值R，并獲取該電阻值R，直到輸入下一個外部觸發信號Stg 為止。另外，在不存在電阻2的狀態下測定到的電阻值R為無限大。因此，控制部13將比電阻2的標稱電阻值足夠大的閾值(例如標稱電阻值數倍的電阻值）與由測定部11測定到的電阻值R進行比較，從而在獲取到的電阻值R首次不足閾值時，判斷為首個電阻2被搬送到第一測定平臺ST1上，并開始賦予序列號。
[0057] 此外，控制部13通過執行第一發送處理從而將測定部11測定到的電阻值R輸出到測定裝置5,直到輸入下一個外部觸發信號Stg為止。此外，控制部13通過執行測定值比較處理和第二發送處理，從而將測定部11測定到的電阻值R與存儲部14所存儲的基準范圍RA1進行比較，來判斷該電阻值R是否包含在基準范圍RA1中，并將表示該判斷結果的第一判斷數據D1以及電阻值R與序列號一同發送給處理裝置7,直到輸入下一個外部觸發信號Stg為止。
[0058] 在電阻2劣化或破損、或將標稱電阻值與本來的電阻2不同的電阻作為電阻2搬送過來等電阻2為不良品時，測定到的電阻值R始終不包含在基準范圍RA1內，另一方面，當電阻2為良品的可能性較高時，測定到的電阻值R始終包含在基準范圍RA1內。控制部 13將這種表示成為用于判斷電阻2的質量的基準的判斷結果的第一判斷數據D1輸出到處理裝置7。
[0059] 另一方面，如圖5所示，測定裝置5也與測定裝置4同樣，在每次輸入外部觸發信號Stg時，對通過搬送裝置3搬送到第二測定平臺ST2上的電阻2執行測定處理。該例中，在該測定處理中，測定裝置5的控制部13執行上述控制處理、第一發送處理、測定值比較處理、差分值計算處理、差分值比較處理以及第二發送處理中的控制處理、測定值比較處理、差分值計算處理、差分值比較處理以及第二發送處理。
[0060] 具體而言，測定裝置5的控制部13通過執行控制處理來使測定部11測定第二測定平臺ST2上的電阻2的電阻值R，并獲取該電阻值R，直到輸入下一個外部觸發信號Stg 為止。此外，也與測定裝置4同樣，在判斷為首個電阻2搬送到第一測定平臺ST1上時，開始賦予序列號。
[0061] 此外，控制部13通過執行測定值比較處理，從而將測定部11所測定到的電阻值R 與存儲部14所存儲的基準范圍RA1進行比較，來判斷該電阻值R是否包含在基準范圍RA1 內，直到輸入下一個外部觸發信號Stg為止。此外，控制部13通過執行差分值計算處理和差分值比較處理，從而對測定部11所測定到的電阻值R與從FIF012讀取到的由測定裝置4 測得的電阻值R之間的差分值Λ R進行計算，并將計算出的差分值Λ R與存儲部14所存儲的基準差分范圍RA2進行比較，來判斷該差分值△ R是否包含在基準差分范圍RA2中，直到輸入下一個外部觸發信號Stg為止。此外，控制部13通過執行第二發送處理，從而將表示測定值比較處理的判定結果(表示電阻值R是否包含在基準范圍RA1內的判斷結果)的第一判斷數據D1、表示差分值比較處理的判斷結果(表示差分值Λ R是否包含在基準差分范圍RA2內的判斷結果）的第二判斷數據D2、以及電阻值R與序列號一起發送到處理裝置 7,直到輸入下一個外部觸發信號Stg為止。
[0062] 該例的測定裝置5中，FIF012在每次輸入外部觸發信號Stg時，執行如下動作：與該外部觸發信號Stg同步地將來自測定裝置4的最新的電阻值R作為數據Dbf存儲到最前的存儲區域中，并使存儲在各存儲區域(該例中為四個存儲區域）中的電阻值R (至此由測定裝置4測定到的電阻值R)移動到下一個存儲區域中。因此，從FIF012作為數據Dbf輸出的電阻值R (各存儲區域中最后一個存儲區域所存儲的電阻值R)是當前位于第二測定平臺ST2的電阻2位于第一測定平臺ST1時由測定裝置4測定到的電阻值R。
[0063] 由此，測定裝置5的控制部13在差分值計算處理中，計算當前位于第二測定平臺 ST2的電阻2的差分值Λ R，并在差分值比較處理中判斷該計算出的差分值Λ R是否包含在基準差分范圍RA2中。
[0064] 當電阻2的電阻值R由于施加測定用信號而超過容許范圍、產生變化時(表示施加測定用信號前后電阻值R的變化的差分值Λ R不包含在基準差分范圍RA2中時)，即使檢測裝置1中測定到的電阻值R包含在基準范圍RA1中，在市場上流通的狀態、或最終由用戶使用的狀態下，特性(該例中為電阻值R)可能也會產生變化，從而變成不滿足良品的電阻2 應當滿足的產品規格（電阻值R包含在基準范圍RA1內的規格)的狀態。測定裝置5的控制部13通過執行差分值計算處理和差分值比較處理，從而將第二判斷數據D2輸出到處理裝置7,該第二判斷數據D2表示成為用于將達到上述狀態的可能性較高的電阻2判斷為不良品的基準的判斷結果。
[0065] 處理裝置7與外部觸發信號Stg同步地獲取并存儲從測定裝置4輸出的第一判斷數據D1、電阻值R、以及序列號。處理裝置7與外部觸發信號Stg同步地獲取并存儲從測定裝置5輸出的第一判斷數據D1、第二判斷數據D2、電阻值R、以及序列號。另外，處理裝置7 在對從測定裝置5獲取到的各數據進行存儲時，由于序列號與從測定裝置4獲取到的數據相同的數據是相同電阻2的數據，因此與測定裝置4的序列號對應起來進行存儲。
[0066] 此外，處理裝置7對于從測定裝置4或測定裝置5 (該例中例如為測定裝置5)接收到序列號和電阻值R等的電阻2,對接收后外部觸發信號Stg的生成次數進行計數，由此基于該計數值確定該電阻2在帶式輸送機上的當前位置，從而判斷是否已搬送到排出位置 EX。例如，如該例那樣，對于從測定裝置5接收到序列號和電阻值R等數據的電阻2,由于測定裝置5與排出位置EX之間的距離為距離L的兩倍，因此當接收后外部觸發信號Stg的計數值達到2時，判斷為該電阻2到達排出位置EX。
[0067] 處理裝置7對于到達排出位置EX的電阻2,依次執行判斷處理、移動處理、以及輸出處理，直到生成下一個外部觸發信號Stg為止。首先，在判斷處理中，處理裝置7基于與該電阻2的序列號對應起來存儲的來自測定裝置4的第一判斷數據D1、來自測定裝置5的第一判斷數據D1、以及第二判斷數據D2來執行判斷電阻2質量的判斷處理。
[0068] 具體而言，在該判斷處理中，當來自測定裝置4以及測定裝置5的各個第一判斷數據D1所表示的判斷結果是表示電阻值R包含在基準范圍RA1內的判斷結果、且來自測定裝置5的第二判斷數據D2所表示的判斷結果是表示差分值Λ R包含在基準差分范圍RA2內的判斷結果時，處理裝置7判斷該電阻2為良品。
[0069] 另一方面，在該判斷處理中，當來自測定裝置4以及測定裝置5的各個第一判斷數據D1所表示的判斷結果、以及來自測定裝置5的第二判斷數據D2所表示的判斷結果如上述那樣為判斷電阻2為良品時的判斷結果以外的情況下，S卩，當來自測定裝置4的第一判斷數據D1所表示的判斷結果是表示電阻值R不包含在基準范圍RA1內的判斷結果、來自測定裝置5的第一判斷數據D1所表示的判斷結果是表示電阻值R不包含在基準范圍RA1內的判斷結果、以及來自測定裝置5的第二判斷數據D2所表示的判斷結果是表示差分值Λ R 不包含在基準差分范圍RA2內的判斷結果中的至少一個時，處理裝置7判斷該電阻2為不良品。
[0070] 接著，在移動處理中，處理裝置7通過對分類裝置6執行控制，從而使判斷為良品的電阻2從帶式輸送機上的判處位置ΕΧ移動到良品回收箱6a。另一方面，處理裝置7使判斷為不良品的電阻2從排出位置EX移動到不良品回收箱6b。由此，檢查裝置1起到元器件分類裝置的作用，對投入到搬送裝置3的電阻2的質量進行判斷，從而區分并回收到良品回收箱6a和不良品回收箱6b (對電阻2進行分類)。
[0071] 接著，在輸出處理中，處理裝置7對于判斷為良品并進行了分類作業的電阻2,將表示其判斷結果(表示良品的判斷結果）的判斷數據D3輸出到輸出裝置8,并將各測定裝置 4、5所測定到的電阻值R的其中一個(該例中例如為最后由測定裝置5測定到的電阻值R) 作為最終的電阻值R輸出到輸出裝置8。因此，檢查裝置1也起到電特性(該例中為電阻值 R)測定裝置的作用，對判斷為良品的電阻2的最終電阻值R進行輸出（該例中為顯示)。另一方面，處理裝置7對于判斷為不良品而進行了分類作業的電阻2,將表示其判斷結果(表示不良品的判斷結果）的判斷數據D3輸出到輸出裝置8。另外，即使在判斷為不良品的情況下，例如也可以將最后由測定裝置5測定到的電阻值R輸出到輸出裝置8。該例中，由于輸出裝置8由顯示裝置構成，因此，輸出裝置8將從處理裝置7輸入的電阻值R與由判斷數據D3表示的判斷結果一同顯示在畫面上。
[0072] 由此，在該檢查裝置1中，在不同時刻對同一電阻2的同一物理量(該例中為電阻值R)進行兩次測定，來執行判斷各電阻值R是否包含在基準范圍RA1內的測定值比較處理，并執行判斷各電阻值R之間的差分值△ R (兩電阻值R的差分的絕對值）是否包含在基準差分范圍RA2內的差分值比較處理，并在兩個電阻值R均包含在基準范圍RA1內、且差分值 Λ R包含在基準差分范圍RA2內時，將電阻2判斷為良品，在其它情況下將電阻2判斷為不良品。
[0073] 因此，根據該檢查裝置1，由于通過使用了基于在不同時刻測定到的各電阻值R的測定值比較處理中的判斷結果的二次檢查，來判斷各電阻2的質量，因此能可靠地將未包含在基準范圍RA1 (包含正常的電阻2的電阻值R的范圍）的電阻2判斷(分類）為不良品，并且，由于使用基于各電阻值R之間的差分值△ R的差分值比較處理的判斷結果來判斷電阻2的質量，因此，即使是兩次測定所測定到的電阻值R均包含在基準范圍RA1 (包含正常的電阻2的電阻值R的范圍）的電阻2,也能可靠地將特性(該例中為電阻值R)在市場上流通、或最終由用戶使用的狀態下可能會發生變化、從而變為不滿足良品的電阻2應當滿足的產品規格的狀態的電阻2判斷為不良品。
[0074] 此外，根據該檢查裝置1，由于執行輸出處理，從而對于判斷為良品的電阻2,將由各測定裝置4、5所測定到的電阻值R的其中一個(該例中為第二個電阻值R)作為最終的電阻值R輸出到輸出裝置8,因此能執行電阻2的質量判斷(分類)，而且也能測定良品的電阻 2的電阻值R。
[0075] 此外，根據該檢查裝置1，采用從最初對各電阻2測定電阻值R的測定裝置4發送的電阻值R由接下來測定電阻值R的測定裝置5來接收的結構，并通過采用使用FIF012的結構，從而與使用一般的存儲器對來自測定裝置4的電阻值R進行緩存的結構相比，能使測定裝置5的結構簡化(該例中，由于各測定裝置4、5的結構相同，因此測定裝置4、5的結構均得到簡化)。
[0076] 另外，在上述檢查裝置1中，采用了不僅執行基于差分值Λ R的差分值比較處理、還執行基于各電阻值R的測定值比較處理的結構，但也可以采用如下結構：在以已經有其它裝置檢查出電阻值R包含在基準范圍RA1內的電阻2為檢查對象時，僅對電阻2執行基于差分值Λ R的差分值比較處理，且在判斷處理中，僅基于該差分值比較處理的判斷結果來判斷電阻2的質量。
[0077] 此外，在上述檢查裝置1中，采用了如下結構：各測定裝置4、5執行測定值比較處理，并將表示其判定結果的第一判斷數據D1輸出到處理裝置7,且測定裝置5執行差分值計算處理和差分值比較處理，并將表示其判定結果的第二判斷數據D2輸出到處理裝置7,但也可以采用如下結構：各測定裝置4、5僅將對電阻2測定到的電阻值R輸出到處理裝置7，并且處理裝置7基于這兩個電阻值R來執行測定值比較處理、差分值計算處理、以及差分值比較處理，判斷電阻2的質量。
[0078] 此外，也可以采用如下結構：在如上述那樣采用僅將各測定裝置4、5測定到電阻值R發送到處理裝置7的結構、且將已經由其它裝置檢查到電阻值R包含在基準范圍RA1 內的電阻2作為檢查對象時，處理裝置7基于這兩個電阻值R來執行差分值計算處理以及差分值比較處理，從而判斷電阻2的質量。
[0079] 此外，在采用如上述檢查裝置1那樣由測定裝置5接收來自測定裝置4的電阻值 R的結構(上例中為使用FIF012進行接收的結構)時，若在來自測定裝置4的電阻值R的發送處理、或測定裝置5對電阻值R的接受處理中，由于某些原因而產生問題，則該問題的產生會導致在測定裝置5中產生如下現象：自身測定電阻值R的電阻2、與從FIF012讀取到的電阻值R所對應的電阻2產生錯位。
[0080] 該情況下，如圖6中由單點劃線包圍的數據Dbf (該例中為電阻值R)那樣，存儲在 FIF012中的電阻值R原本應該是電阻值R(R16)存儲在第二個存儲區域中，電阻值R(R15) 存儲在第三個存儲區域中，電阻值R(R14)存儲在最后一個存儲區域中，但實際則變成電阻值R(R15)存儲在第二個存儲區域中、電阻值R(R14)存儲在第三個存儲區域中、電阻值 R(R13)存儲在最后一個存儲區域中的狀態(錯位狀態)，其結果是，在測定裝置5中產生如下問題：控制部13從FIF012讀取到的電阻值R(R13)所對應的電阻2(序列號為13的電阻 2)與由測定部11測定了電阻值R(R14)的電阻2 (序列號為13的電阻2)產生錯位。
[0081] 該狀態下，測定裝置5的控制部13在差分值計算處理中計算出的差分值Λ R變為不同的電阻2的電阻值R (該例中為序列號為13的電阻2的電阻值R(R13)和序列號為 14的電阻2的電阻值R(R14))之間的差分值。因此，計算出的差分值Λ R成為包含不同的電阻2之間產生的電阻值R的偏差的值，因此通常是遠大于在不同時刻對相同的電阻2測定兩次而得到的兩個電阻值R之間的偏差的值。因此，控制部13在差分值比較處理中，判斷差分值Λ R未包含在基準差分范圍RA2中，并將表示該判定結果的第二判斷數據D2輸出到處理裝置7。由此，處理裝置7在判定處理中判定由測定裝置5測定了電阻值R的電阻 2為不良品。
[0082] 此外，在如上述那樣測定裝置4對電阻值R的發送處理、以及測定裝置5對電阻值 R的接受處理中至少一個處理產生了問題時(該例中為產生如上述那樣存儲在FIF012中的電阻值R產生錯位的問題時)，如圖6所示，通常會在測定裝置5中多次連續地產生控制部 13從FIF012讀取的電阻值R所對應的電阻2、與由測定部11測定了電阻值R的電阻2產生錯位的問題。
[0083] 該情況下，測定裝置5的控制部13所計算出的差分值Λ R不正確，因此會在差分值比較處理中將錯誤的第二判斷數據D2輸出到處理裝置7。從而在處理裝置7中產生如下現象：基于該錯誤的第二判斷數據D2,連續地將通過搬送裝置3搬送到測定裝置5上的電阻2判定為不良品。
[0084] 當在處理裝置7中產生上述現象時、即處理裝置7在判定處理中連續地將預先規定的個數以上的電阻2判定為不良品時、以及由此導致判定為不良品的比率達到預先規定的比率以上時的任何一種情況下，處理裝置7即使在此后持續利用來自測定裝置4的第一判斷數據D1、以及來自測定裝置5的第一判斷數據D1和第二判斷數據D2來判斷電阻2的質量、即進行上述判斷處理，也很有可能多次連續地產生無法準確判斷電阻2的質量的狀況。
[0085] 因此，在如上述那樣、處理裝置7在判定處理中由于第二判斷數據D2而連續地將預先規定的個數以上的電阻2判定為不良品時、以及判定為不良品的比率達到預先規定的比率以上時的任何一種情況下，處理裝置7執行僅使用第一判斷數據D1的其它判定處理代替上述判定處理(使用第一判斷數據D1和第二判斷數據D2的判定處理)，來判定電阻2是否為不良品。
[0086] 具體而言，處理裝置7在該其它判定處理中，當從測定裝置4接收到的第一判斷數據D1所表示的測定值比較處理的判定結果是電阻值R未包含在基準范圍RA1內的判定結果時、以及從測定裝置5接收到的第一判斷數據D1所表示的測定值比較處理的判定結果是電阻值R未包含在基準范圍RA1內的判定結果時的至少一種情況下，將該電阻2 (-個檢測對象)判定為不良品，并執行移動處理使其移動到不良品回收箱6b。另一方面，在其它情況下，由于無法準確判定電阻2的質量，因此處理裝置7不對該電阻2的質量進行判定。另外，該情況下，例如處理裝置7執行移動處理，使該電阻2移動到未圖示的未檢查品回收箱中。 [0087] 通過采用該結構，檢查裝置1能夠在執行了使用第一判斷數據D1和第二判斷數據 D2的判定處理的狀態下，當連續地將預先規定的個數以上的電阻2判定為不良品時、以及判定為不良品的比率達到預先規定的比率以上時的至少一種情況之后，避免持續該相同的判定處理時產生的問題(無論是良品還是不良品都判定為不良品的問題)，將能夠基于第一判斷數據D1可靠地判定為不良品的電阻2移動到不良品回收箱6b中，還能使其它電阻2 移動到未檢查品回收箱中，因此能防止不良品流出道市場上。
[0088] 在以預先規定的次數重復該其它判定處理的期間，當測定裝置4對電阻值R的發送處理、以及測定裝置5對電阻值R的接受處理的至少其中一個處理中產生的問題被消除時，如圖6所示，測定裝置5中，控制部13從FIF012讀取出的測定了電阻值R的電阻2與由測定部11測定了電阻值R的電阻2之間的錯位被消除(在第21個周期被消除)，因此此后能通過執行常規的動作來繼續對電阻2進行檢查。
[0089] 此外，在以預先規定的次數重復其它判定處理后，在從測定裝置5輸出表示差分值Δ R包含在基準差分范圍RA2中的第二判斷數據D2時，處理裝置7從其它判定處理(僅使用第一判斷數據D1的判定處理)切換為原始的判定處理(使用第一判斷數據D1和第二判斷數據D2的判定處理)。由此，能如上述那樣對電阻2執行準確的質量判定。
[0090] 此外，在上述檢查裝置1中，采用了如下結構：利用由測定裝置5施加給電阻2的實驗用信號來測定不良品的電阻2的差分值△ R，但也可以如圖7所示的檢查裝置1A那樣，在搬送裝置3的搬送方向上的兩個測定平臺ST1、ST2上規定電壓施加平臺ST3,并在該電壓施加平臺ST3上設置向電阻2施加實驗電壓Vts的電壓施加裝置21。
[0091] 根據該結構的檢查裝置1A，通過將實驗電壓Vts的電壓值規定在測定裝置4、5施加給電阻2的實驗用信號的電壓之以上，從而能加快電阻2因施加電壓而產生的電阻值R 的變化程度，由此能增大測定裝置5計算出的差分值△ R的值，因此能更可靠地將電阻值R 可能在出廠后產生變化、從而變成不滿足良品應當滿足的電阻值R的產品規格的狀態的電阻2判定為不良品。另外，對于與檢查裝置1相同的結構標注相同的標號并省略重復說明。
[0092] 另外，雖然沒有圖示，但也可以采用如下結構：將該電壓施加裝置21的功能內置在測定裝置4中，經由一對探針PI、P2對電阻值R的測定結束了的(執行了測定處理后的）電阻2施加實驗電壓。此外，也可以采用如下結構：將該電壓施加裝置21的功能內置在測定裝置5中，經由一對探針PI、P2在由自身對電阻值R進行測定前的(執行自身的測定處理之前的）電阻2施加實驗電壓。
[0093] 此外，在上述檢查裝置1、1A中采用了具有兩個設置在由搬送裝置3規定的兩個測定平臺ST1、ST2上的測定裝置4、5的結構，但也可以采用如下未圖示的結構：在搬送裝置上規定三個以上的測定平臺，并在各測定平臺上分別設置測定裝置。在該結構的檢查裝置中，通過使上述三個以上的測定裝置中的任意兩個進行與上述檢查裝置1、1A中的測定裝置4、 5相同的動作，從而能在處理裝置中判定電阻2的質量。
[0094] 此外，在上述檢查裝置1、1A中，由搬送方向上的上游側的測定裝置4向下游側的測定裝置5發送電阻值R，并在測定裝置5中執行差分值計算處理和差分值比較處理，但也可以反過來采用由下游側的測定裝置5向上游側的測定裝置4發送電阻值R的結構。在采用該結構的檢查裝置中，在測定裝置4中將自身測定到的電阻值R輸入并緩存至FIF012,并且基于從FIF012輸出的電阻值R以及從測定裝置5接收到的電阻值R來執行差分值計算處理從而計算出差分值Λ R，并基于該差分值Λ R來執行差分值比較處理從而生成第二判斷數據D2,并輸出到處理裝置7。該檢查裝置也能與上述檢查裝置1、1Α同樣地對電阻2 執行檢查。
[0095] 此外，也可以采用處理裝置7從測定裝置4、5輸入電阻值R來進行差分值比較處理和判定處理的結構。
[0096] 此外，在上述檢查裝置1、1Α中采用了各測定裝置4、5執行測定處理并對一個電阻 2測定一次電阻值R的結構，但也可以采用如下結構：控制部13對測定部11執行錯開時刻地（以不同的時刻）對各電阻2的電阻值R測定兩次的測定處理，并執行根據測定到的兩個電阻值R計算差分值Λ R的差分值計算處理，并基于該差分值Λ R執行差分值比較處理，從而生成第二判斷數據D2,此外，還可以采用如下結構：控制部13基于該第二判斷數據D2 來執行判定電阻2的質量的判定處理。由此，在采用各測定裝置4、5本身單獨起到檢查裝置的作用的結構時，只需將測定裝置4、5中的任一個配置在兩個測定平臺ST1、ST2中的任一個上即可，因此能簡化整個裝置的結構。
[0097] 此外，上述各測定裝置4、5采用了具有一個具備一對探針PI、P2的測定部11的結構，但也可以采用如下結構來代替該結構：具備另一個具備一對探針PI、P2的測定部11 的結構；或者使測定部11能夠在多個通道(例如雙通道）下進行測定來代替上述單通道下的測定(能將一對探針P1、P2與多個組(兩組）相連的結構)。在采用上述結構時，能使用測定裝置4、5中的某一個，并且與上述那樣一起使用測定裝置4、5時同樣，能在兩個測定平臺 ST1、ST2中對各電阻2的電阻值R進行總共兩次的測定。因此，根據采用該結構的具備測定裝置4 (或測定裝置5)的檢查裝置，能使測定裝置的臺數減少為一臺，并能與上述檢查裝置1、1A同樣地執行電阻2的檢查。
[0098] 此外，也可以采用如下結構：測定裝置4、5如上述那樣采用具備另一個具有一對探針P1、P2的測定部11的結構、或具備能在多通道(例如雙通道）下進行測定的測定部(能將一對探針PI、P2與多個組(兩組）相連的測定部）的結構，并且，控制部13執行使測定部錯開時間地（以不同的時亥D對各電阻2的電阻值R測定兩次的測定處理、根據各電阻2的兩個電阻值R計算出差分值Λ R的差分計算處理、以及基于該差分值Λ R執行差分值比較處理，來生成第二判斷數據D2。另外，控制部13還可以采用基于該第二判斷數據D2來執行判定電阻2的質量的判定處理的結構。標號說明
[0099] 1檢查裝置 2電阻 3搬送裝置 4、5檢查裝置 7處理裝置 8輸出裝置 R電阻值 RA1基準范圍 RA2基準差分范圍
【權利要求】
1. 一種檢查裝置，其特征在于，該檢查裝置執行以下處理：差分值比較處理，該差分值比較處理將以不同時刻對同一檢查對象的同一物理量進行測定得到的兩個測定值之間的差分值與預先規定的基準差分范圍進行比較，并判定該差分值是否包含在該基準差分范圍內；以及判定處理，該判定處理在該差分值包含在該基準差分范圍內時將所述檢查對象判定為良品，并在該差分值未包含在該基準差分范圍內時將所述檢查對象判定為不良品。
2. -種檢查裝置，其特征在于，該檢查裝置執行以下處理：測定值比較處理，該測定值比較處理將以不同時刻對同一檢查對象的同一物理量進行測定得到的兩個測定值與對每個該測定值預先規定的基準范圍進行比較，并判定該各個測定值是否均包含在該基準范圍內；差分值比較處理，該差分值比較處理將所述兩個測定值之間的差分值與預先規定的基準差分范圍進行比較，并判定該差分值是否包含在該基準差分范圍內；以及判定處理，該判定處理在所述兩個測定值均包含在所述基準范圍內、且所述差分值包含在所述基準差分范圍內時將所述檢查對象判定為良品，在其它情況下將所述檢查對象判定為不良品。
3. 如權利要求1所述的檢查裝置，其特征在于，包括FIFO存儲器，該FIFO存儲器依次輸入并存儲對多個所述檢查對象依次測定得到的所述物理量的測定值，并按照存儲的順序將其作為所述兩個測定值的其中一個測定值進行輸出，該檢查裝置執行以下測定處理：與對從所述FIFO存儲器輸出的所述一個測定值進行了測定的所述檢查對象相同的檢查對象的所述物理量依次進行測定，從而作為所述兩個測定值中的另一個測定值獲得。
4. 如權利要求2所述的檢查裝置，其特征在于，包括FIFO存儲器，該FIFO存儲器依次輸入并存儲對多個所述檢查對象依次測定得到的所述物理量的測定值，并按照存儲順序將其作為所述兩個測定值的其中一個測定值進行輸出，該檢查裝置執行以下測定處理：與對從所述FIFO存儲器輸出的所述一個測定值進行了測定的所述檢查對象相同的檢查對象的所述物理量依次進行測定，從而作為所述兩個測定值中的另一個測定值獲得。
5. -種檢查裝置，其特征在于，包括：搬送裝置，對檢查對象進行搬送；兩個測定裝置，分別設置在沿著所述搬送裝置搬送所述檢查對象的方向而規定的兩個測定平臺上，并執行對搬送到該測定平臺上的所述檢查對象的同一物理量進行測定的測定處理；以及處理裝置，基于由所述兩個測定裝置在不同時刻對同一所述檢查對象測定到的所述物理量的測定值來判定該同一檢查對象的質量，所述兩個測定裝置中的一個測定裝置構成為能執行將其本身測定到的所述物理量的測定值發送給該兩個測定裝置中的另一個測定裝置的發送處理，所述另一個測定裝置構成為能執行以下處理：對從所述一個測定裝置發送來的所述測定值進行接收的接收處理；對所述測定處理中其本身測定到的一個所述檢查對象的所述物理量的測定值、與該接收處理中接收到的所述一個測定裝置測得的該一個檢查對象的所述測定值之間的差分值進行計算的差分值計算處理；以及將該計算出的差分值與預先規定的基準差分范圍進行比較從而判定該差分值是否包含在該基準差分范圍內、并發送給所述處理裝置的差分值比較處理，所述處理裝置執行以下判定處理：在從所述另一個測定裝置接收到的所述差分值比較處理的判定結果為所述差分值包含在所述基準差分范圍內的判定結果時，將所述檢查對象判定為良品，在判定結果為該差分值未包含在該基準差分范圍內的判定結果時，將該檢查對象判定為不良品。
6. -種檢查裝置，其特征在于，包括：搬送裝置，對檢查對象進行搬送；兩個測定裝置，分別設置在沿著所述搬送裝置搬送所述檢查對象的方向而規定的兩個測定平臺上，并執行對搬送到該測定平臺上的所述檢查對象的同一物理量進行測定的測定處理；以及處理裝置，基于由所述兩個測定裝置在不同時刻對同一所述檢查對象測定到的所述物理量的測定值來判定該同一檢查對象的質量，所述兩個測定裝置的其中一個測定裝置構成為能執行以下處理：將其本身測定到的一個所述檢查對象的所述物理量的測定值與對該測定值預先規定的基準范圍進行比較、從而判定該測定值是否包含在該基準范圍內、并將判定結果發送給所述處理裝置的測定值比較處理；以及將該測定值發送給所述兩個測定裝置中的另一個測定裝置的發送處理，所述另一個測定裝置構成為能執行以下處理：將其本身測定到的所述一個檢查對象的所述物理量的測定值與對該測定值預先規定的基準范圍進行比較、從而判定該測定值是否包含在該基準范圍內、并將判定結果發送給所述處理裝置的測定值比較處理；對從所述一個測定裝置發送來的所述測定值進行接收的接收處理；對所述本身測定到的所述一個檢查對象的所述物理量的測定值與該接收處理中接收到的所述一個測定裝置對該一個檢查對象測得的所述測定值之間的差分值進行計算的差分值計算處理；以及將該計算出的差分值與預先規定的基準差分范圍進行比較、從而判定該差分值是否包含在該基準差分范圍內、并發送給所述處理裝置的差分值比較處理，所述處理裝置在從所述一個測定裝置接收到的所述測定值比較處理的判定結果為所述測定值包含在所述基準范圍內的判定結果、且從所述另一個測定裝置接收到的所述測定值比較處理的判定結果為所述測定值包含在所述基準范圍的判定結果、且從所述另一個測定裝置接收到的所述差分值比較處理的判定結果為所述差分值包含在所述基準差分范圍內的判定結果時，將所述一個檢查對象判定為良品，并在其它情況下將該一個檢查對象判定為不良品。
7. 如權利要求6所述的檢查裝置，其特征在于，所述處理裝置在所述判定處理中連續地將預先規定的個數以上的所述檢查對象判定為不良品時、以及在所述判定處理中判定為不良品的比率達到預先規定的比率以上時的至少一種情況下執行以下判定處理來代替所述判定處理：對于此后的預先規定的個數的所述一個檢測對象，當從所述一個測定裝置接收到的所述測定值比較處理的判定結果為所述測定值未包含在所述基準范圍內的判定結果時、以及從所述另一個測定裝置接收到的所述測定值比較處理的判定結果為所述測定值未包含在所述基準范圍內的判定結果時的至少一種情況下，將該一個檢查對象判定為不良品，并在其它情況下不對該一個檢查對象的質量進行判定。
8. 如權利要求5所述的檢查裝置，其特征在于，所述另一個測定裝置包括在所述接收處理中對測定到的所述測定值進行存儲的FIFO 存儲器，并在所述差分值計算處理中，從存儲到該FIFO存儲器中的所述一個測定裝置的多個所述測定值中、讀取所述一個檢查對象的所述測定值，并計算所述差分值。
9. 如權利要求6所述的檢查裝置，其特征在于，所述另一個測定裝置包括在所述接收處理中對測定到的所述測定值進行存儲的FIFO 存儲器，并在所述差分值計算處理中，從存儲到該FIFO存儲器中的所述一個測定裝置的多個所述測定值中、讀取所述一個檢查對象的所述測定值，并計算所述差分值。
10. 如權利要求7所述的檢查裝置，其特征在于，所述另一個測定裝置包括在所述接收處理中對測定到的所述測定值進行存儲的FIFO 存儲器，并在所述差分值計算處理中，從存儲到該FIFO存儲器中的所述一個測定裝置的多個所述測定值中、讀取所述一個檢查對象的所述測定值，并計算所述差分值。
11. 如權利要求5所述的檢查裝置，其特征在于，包括：電壓施加裝置，該電壓施加裝置設置在電壓施加平臺上，并對所述檢查對象施加實驗電壓，其中，該電壓施加平臺規定在沿著所述搬送方向上的所述兩個測定平臺之間。
12. 如權利要求6所述的檢查裝置，其特征在于，包括：電壓施加裝置，該電壓施加裝置設置在電壓施加平臺上，并對所述檢查對象施加實驗電壓，其中，該電壓施加平臺規定在沿著所述搬送方向上的所述兩個測定平臺之間。
13. 如權利要求7所述的檢查裝置，其特征在于，包括：電壓施加裝置，該電壓施加裝置設置在電壓施加平臺上，并對所述檢查對象施加實驗電壓，其中，該電壓施加平臺規定在沿著所述搬送方向上的所述兩個測定平臺之間。
14. 如權利要求8所述的檢查裝置，其特征在于，包括：電壓施加裝置，該電壓施加裝置設置在電壓施加平臺上，并對所述檢查對象施加實驗電壓，其中，該電壓施加平臺規定在沿著所述搬送方向上的所述兩個測定平臺之間。
15. 如權利要求9所述的檢查裝置，其特征在于，包括：電壓施加裝置，該電壓施加裝置設置在電壓施加平臺上，并對所述檢查對象施加實驗電壓，其中，該電壓施加平臺規定在沿著所述搬送方向上的所述兩個測定平臺之間。
16. 如權利要求10所述的檢查裝置，其特征在于，包括：電壓施加裝置，該電壓施加裝置設置在電壓施加平臺上，并對所述檢查對象施加實驗電壓，其中，該電壓施加平臺規定在沿著所述搬送方向上的所述兩個測定平臺之間。
17. 如權利要求5所述的檢查裝置，其特征在于，所述一個測定裝置沿著所述搬送方向設置在所述另一個測定裝置的上游側，并執行對執行了所述測定處理后的所述檢查對象施加實驗電壓的電壓施加處理。
18. 如權利要求6所述的檢查裝置，其特征在于，所述一個測定裝置沿著所述搬送方向設置在所述另一個測定裝置的上游側，并執行對執行了所述測定處理后的所述檢查對象施加實驗電壓的電壓施加處理。
19. 如權利要求7所述的檢查裝置，其特征在于，所述一個測定裝置沿著所述搬送方向設置在所述另一個測定裝置的上游側，并執行對執行了所述測定處理后的所述檢查對象施加實驗電壓的電壓施加處理。
20. 如權利要求8所述的檢查裝置，其特征在于，所述一個測定裝置沿著所述搬送方向設置在所述另一個測定裝置的上游側，并執行對執行了所述測定處理后的所述檢查對象施加實驗電壓的電壓施加處理。
21. 如權利要求9所述的檢查裝置，其特征在于，所述一個測定裝置沿著所述搬送方向設置在所述另一個測定裝置的上游側，并執行對執行了所述測定處理后的所述檢查對象施加實驗電壓的電壓施加處理。
22. 如權利要求10所述的檢查裝置，其特征在于，所述一個測定裝置沿著所述搬送方向設置在所述另一個測定裝置的上游側，并執行對執行了所述測定處理后的所述檢查對象施加實驗電壓的電壓施加處理。
23. 如權利要求5所述的檢查裝置，其特征在于，所述另一個測定裝置沿著所述搬送方向設置在所述一個測定裝置的下游側，并執行對執行本身的所述測定處理前的所述檢查對象施加實驗電壓的電壓施加處理。
24. 如權利要求6所述的檢查裝置，其特征在于，所述另一個測定裝置沿著所述搬送方向設置在所述一個測定裝置的下游側，并執行對執行本身的所述測定處理前的所述檢查對象施加實驗電壓的電壓施加處理。
25. 如權利要求7所述的檢查裝置，其特征在于，所述另一個測定裝置沿著所述搬送方向設置在所述一個測定裝置的下游側，并執行對執行本身的所述測定處理前的所述檢查對象施加實驗電壓的電壓施加處理。
26. 如權利要求8所述的檢查裝置，其特征在于，所述另一個測定裝置沿著所述搬送方向設置在所述一個測定裝置的下游側，并執行對執行本身的所述測定處理前的所述檢查對象施加實驗電壓的電壓施加處理。
27. 如權利要求9所述的檢查裝置，其特征在于，所述另一個測定裝置沿著所述搬送方向設置在所述一個測定裝置的下游側，并執行對執行本身的所述測定處理前的所述檢查對象施加實驗電壓的電壓施加處理。
28. 如權利要求10所述的檢查裝置，其特征在于，所述另一個測定裝置沿著所述搬送方向設置在所述一個測定裝置的下游側，并執行對執行本身的所述測定處理前的所述檢查對象施加實驗電壓的電壓施加處理。
29. 如權利要求1至28的任一項所述的檢查裝置，其特征在于，所述處理裝置在所述判定處理中將所述檢查對象判定為良品時，執行將所述兩個測定值的其中一個作為最終測定值進行輸出的輸出處理。
【文檔編號】G01R31/00GK104101797SQ201410138336
【公開日】2014年10月15日申請日期:2014年4月8日優先權日:2013年4月8日
【發明者】寺島隆幸, 齋藤信幸申請人:日置電機株式會社

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