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開路測試裝置的制作方法

文檔序號:5845355閱讀:229來源:國知局
專利名稱:開路測試裝置的制作方法
技術領域
本發明涉及一種測試裝置,尤其涉及一種主要適用于測試內存或PCI總線插槽是 否出現開路的開路測試裝置。
背景技術
目前在測試主板的內存或PCI插槽是否出現開路時,一般需作業人員利用萬用表 對內存或PCI插槽一一進行測試,由于內存或PCI插槽數目眾多,且出現開路的情況較多, 上述人工測試方式不僅耗費時間,而且作業人員容易失去耐性而造成誤判。

發明內容
鑒于上述問題,本發明提供了一種開路測試裝置,其主要適用于內存或PCI總線 插槽是否出現開路的測試中。為了達到上述目的,本發明采用了如下的技術方案一種開路測試裝置,其適用于 測試主板的插槽是否出現開路,其中,該裝置主要包括轉接電路板,其一側邊設置有對應插 接于該主板的插槽的金手指,且該轉接電路板還包括與該金手指的引腳一一對應連接的信 號線;以及若干個顯示單元,每一顯示單元的負極分別與該轉接電路板的信號線一一電性 連接,且每一顯示單元的正極與電源的正極分別電性連接,并且電源的負極接地。較佳的,本發明提供了一種開路測試裝置,其中,所述主板的插槽為PCI插槽及內 存插槽其中之一,所述顯示單元為發光二極管。相較于先前技術,本發明所述的開路測試裝置,不僅快速地主板上的插槽是否出 現開路情況,有效減少了對維修的誤判,且節省了成本,縮短了測試時間。


圖1為本發明的示意圖
具體實施例方式請參照圖1所示,本發明提供了一種開路測試裝置10,其主要適用于主板的測試 中,用以測試主板上的內存插槽或PCI總線插槽是否出現開路的情況。其中,所述開路測試裝置10主要包括轉接電路板101,該轉接電路板101 —側邊設 置有若干個金手指1011,所述金手指1011對應插接于該主板的插槽上,于本實施例中,該 主板的插槽以內存插槽102為例,且該轉接電路板101還包括與該金手指1011的引腳一一 對應連接的信號線(圖中未示),所述信號線布線于該轉接電路板101上。此外,該轉接電路板101上還設置有若干個顯示單元1012,于本實施例中,所述顯 示單元1012以發光二極管為例,每一顯示單元1012的負極分別與該轉接電路板101的信 號線一一電性連接,且每一顯示單元1012的正極與電源20的正極分別電性連接,并且電源 20的負極接地,該電源20以一紐扣電池為例。
權利要求
一種開路測試裝置,其適用于測試主板的插槽是否出現開路,其特征在于,該裝置主要包括轉接電路板,其一側邊設置有對應插接于該主板的插槽的金手指,且該轉接電路板還包括與該金手指的引腳一一對應連接的信號線;以及若干個顯示單元,每一顯示單元的負極分別與該轉接電路板的信號線一一電性連接,且每一顯示單元的正極與電源的正極分別電性連接,并且電源的負極接地。
2.根據權利要求1所述的開路測試裝置,其特征在于,所述主板的插槽為PCI插槽及內 存插槽其中之一。
3.根據權利要求1所述的開路測試裝置,其特征在于,所述顯示單元為發光二極管。
全文摘要
本發明提供了一種開路測試裝置,其適用于測試主板的插槽是否出現開路,其中,該裝置主要包括轉接電路板,其一側邊設置有對應插接于該主板的插槽的金手指,且該轉接電路板還包括與該金手指的引腳一一對應連接的信號線;以及若干個顯示單元,每一顯示單元的負極分別與該轉接電路板的信號線一一電性連接,且每一顯示單元的正極與電源的正極分別電性連接,并且電源的負極接地。其中,所述主板的插槽為PCI插槽及內存插槽其中之一,所述顯示單元為發光二極管。本發明所述的開路測試裝置,不僅快速地主板上的插槽是否出現開路情況,有效減少了對維修的誤判,且節省了成本,縮短了測試時間。
文檔編號G01R31/02GK101988944SQ20091030533
公開日2011年3月23日 申請日期2009年8月7日 優先權日2009年8月7日
發明者陳云橋 申請人:佛山市順德區順達電腦廠有限公司
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